元器件鑒定檢驗工作程序和常用可靠性試驗方法介紹(文件)
【正文】 ? 密封（粗檢漏和細檢漏） ? 最終電測試 ? 外部目檢 可靠性試驗的分類（ GJB548B) 耐濕 鹽霧 溫度循環(huán) 穩(wěn)定性烘培 熱沖擊 穩(wěn)態(tài)壽命 高溫壽命 低溫壽命 老煉 密封 內(nèi)部水氣含量 電離輻射試驗 物理尺寸 恒定加速度 可焊性 外部目檢 內(nèi)部目檢 鍵合強度 芯片剪切強度 隨機振動 掃頻振動 機械沖擊 粒子碰撞噪聲 環(huán)境試驗（ 34項） 機械試驗（ 35項） 可靠性試驗的分類 內(nèi)部目檢及機械檢查 可焊性試驗 耐濕 引線牢固性試驗 鹽霧試驗 芯片剪切強度試驗 掃頻振動 內(nèi)部水氣試驗 內(nèi)部目檢與機械檢驗 輻照試驗 穩(wěn)態(tài)壽命 密封 外部目檢 內(nèi)部目檢（封帽前） 老煉 粒子碰撞噪聲 物理尺寸 低氣壓試驗 高溫壽命 低溫壽命 溫度循環(huán) 破壞性試驗 非破壞性試驗 環(huán)境試驗 溫度試驗 ? 低溫試驗： 檢驗在規(guī)定的低溫條件下，器件滿足工作或儲存要求的適應能力。 溫度試驗 目的： 測定器件承受極端高溫和極端低溫的能力，以及極端高低溫變化對器件的影響 所需設備： 高低溫實驗箱 實驗方法： 兩箱法 單箱法 溫度循環(huán) 溫度試驗 計時： 轉換時間 （ ≤ 1min) 樣品從一個極端溫度轉移到另一個極端溫度所經(jīng)歷的時間 保持時間 （ ≥ 10min) 樣品到達極端溫度（ ＜ 15min)后 停留的時間 循環(huán)次數(shù)： 大于 10次 中斷處理： 由于電源或設備故障，允許中斷試驗，但是如果中斷次數(shù) 超過規(guī)定的循環(huán)總次數(shù)的 10％時，必須重新開始。 注意： 必須在規(guī)定的沖擊溫度上下限溫度點進行規(guī)定的沖擊次 數(shù)，屬于非破壞性的檢測，篩選時為 100％檢驗，質(zhì)量一 致性檢測時也可抽樣檢測。 ? 所需設備： 溫濕箱 ? 試驗程序 ? 干燥－升溫－保持－降溫－升溫－保持－降溫 循環(huán) 10次 低溫子循環(huán) (至少 5次） 耐濕 ? 濕度控制： 80％－ 100％ ? 試驗時間： 10天左右 ? 失效判據(jù)： 標志脫落、褪色、模糊 鍍層腐蝕或封裝零件腐蝕透 引線脫落，折斷或局部分離 因腐蝕導致的引線之間或引線與外殼搭接 輻照試驗： 射線對物質(zhì)的最基本作用是電離
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