射線檢測ⅲ級資格培訓(xùn)講座25584-3--文庫吧
2025-06-22 13:50 本頁面
【正文】 其它立方和求根法： U=（Ug3 + Ui3）1/3簡單疊加法：U=（Ug+ Ui） 幾何不清晰度Ug 公式 Ug= bdf／（F—b） ——缺陷幾何不清晰度Ug = L2df／L1 ——射線照相幾何不清晰度 b163。186。缺陷到膠片距離；L2163。186。工件表面到膠片距離； 利用公式分析射線照相 幾何不清晰度影響因素（1）b：缺陷到膠片的距離： b↑→Ug↑→靈敏度↓df：源的大小：df↑→Ug↑→靈敏度↓F：焦距：F↑→Ug↓→靈敏度↑ L1：源到工件表面的距離： L1↑→Ug↓→靈敏度↑L2：工件表面到膠片的距離（L2=b） L2↑→Ug↑→靈敏度↓射線照相幾何不清晰度Ug與F 、L L2關(guān)系JB4730：射線源至工件表面的距離L1應(yīng)滿足下式的要求：A 級：L1≥ L2 2/3 （Ug≤L2 1/32/15）AB級：L1≥ 10dfL2 2/3 （Ug≤L2 1/31/10）B 級： L1≥ 15dfL2 2/3 （Ug≤L2 1/31/15） 經(jīng)驗公式，上世紀(jì)70年代德國國家標(biāo)準(zhǔn)首先采用； L2 ↑→允許的最大Ug↑；固有不清晰度的影響因素（1）射線的能量（MeV或管電壓）對Ui的影響300KV： Ui= mm；Ir192：Ui= mm；CO60：Ui= mm；2MV：Ui= mm；8MV：Ui= mm；射線的能量↑ → Ui ↑固有不清晰度的影響因素（2） 屏一片貼緊程度對Ui的影響前后屏與膠片不貼緊影響＞前屏與膠片不貼緊影響＞后屏與膠片不貼緊影響； mm，Ui增大一倍； 增感屏種類（鉛、銅、鋼或鉭 ）對Ui的影響JB47302005增感屏使用規(guī)定:Co60、高能X射線：鉛屏限在A、AB級；B級應(yīng)使用銅、鋼或鉭屏，不用鉛屏。歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN1435:1997 焊接接頭的射線檢測增感屏使用規(guī)定Co 60、高能X射線： A級和B級均應(yīng)使用鋼屏、銅屏、或鉭屏，不允許使用鉛屏不清晰度曲線幾何不 清晰度+固有不清晰度+顆粒度 射線照相顆粒度 b 顆粒性——心理顆粒性——照相質(zhì)量主觀評價法b 顆粒度——顯微密度計——照相質(zhì)量客觀評價法 射線照相顆粒度（示意圖） 顆粒度產(chǎn)生原因 膠片粒度：感光銀鹽顆粒大小、分布不均勻性 量子噪聲：光子隨機分布的統(tǒng)計漲落（射線能量、曝光量、黑度） 隨機性，不均勻性，不可控性顆粒度產(chǎn)生原因圖示顆粒度產(chǎn)生原因圖示說明ω（）——空間頻率， 。W（ω）維納頻譜函數(shù)；WS維納頻譜M（ω）對比度調(diào)制度，0≤M（ω）≤1影像被噪聲掩蓋的圖示說明低信噪比影像被噪聲掩蓋高信噪比影像不被噪聲掩蓋 靈敏度和缺陷檢出的有關(guān)研究 要點1——定義：在底片上能夠辨認(rèn)的某一尺寸影像的最小黑度差要點2——ΔDmin與ΔD是兩個不同的概念 ；要點3——ΔD與ΔDmin的關(guān)系：當(dāng)ΔD≥ΔDmin時，影像能夠識別，反之則不能識別；要點4——討論ΔDmin與影像大小、底片黑度、顆粒度和人眼敏銳度等因素關(guān)系，前提是觀片條件是適當(dāng)?shù)亩沂枪潭ǖ摹? 圖38 底片黑度D和△D min的關(guān)系 圖39 金屬絲影像寬度W和△D min的關(guān)系。 在不同亮度條件下，人眼對黑度差識別的敏感程度不同，此即第三章討論過的最小可見對比度Δdmin。在適宜的條件下，；。膠片粒度、增感屏和△Dmin的關(guān)系 富士膠片,KZSF熒光增感屏, SMP金屬熒光增感屏,Pb增感屏 射線底片黑度與靈敏度要點1：黑度與G值、△D的關(guān)系；要點2：黑度與ΔDmin的關(guān)系；要點3：最佳黑度 的概念和前提；要點4：平板試件透照的最佳黑度；要點5：不等厚試件最佳黑度和最佳射線能量 圖249 膠片G值與黑度D的關(guān)系 A、B：非增感型膠片，G值隨著黑度的增大而增大。C增感型膠片，G值在某一特定黑度區(qū)域最大圖311 黑度D和ΔD及ΔDmin的關(guān)系 圖312 最佳黑度和正常黑度范圍圖313 黑度和可識別最小線徑的關(guān)系參數(shù)μ/（1+n）的單位為cm1；透照幾何條件W′≈0 注解：μ/（1+n）—比襯度，比襯度越大，對比度越高；W′≈0意味著幾何條件不影響對比度；說明：每一條μ/（1+n）曲線代表一組透照參數(shù)， μ/（1+n）越大，可識別線徑越細；曲線左邊升高是由于黑度低導(dǎo)致對比度降低；曲線右邊升高是由于黑度高導(dǎo)致最小可見對比度增大平板試件透照的最佳黑度由射線照相對比度公式和圖39所顯示的d和ΔDmin的關(guān)系，結(jié)合試驗數(shù)據(jù)推導(dǎo)出如圖313的結(jié)果。由圖中曲線可知，對于任何材質(zhì)μ或散射比n的變化，（即圖中點劃線），此黑度稱為平板試件透照的最佳黑度。 有余高焊縫試件透照的最佳黑度，和有余高焊縫試件透照的最佳射線能量。 b 一般情況下焊縫余高是不磨平的，則該部位可識別線徑最小，但此時母材部位的黑度比焊縫中心大，所以母材部位可識別線徑將大于焊縫部位可識別線徑，即兩個部位的射線照相靈敏度不等，這顯然不能滿足缺陷檢出的要求。b 為使焊縫部位和母材靈敏度相等，就需要以最佳黑度為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)母材黑度和焊縫黑度。使母材黑度比D=，同時使焊縫黑度比D=。b 黑度的是通過改變射線能量進而改變μ和n來實現(xiàn)的，黑度的具體數(shù)值大小與射線能量和余高高度等參數(shù)有關(guān)。b 此時的黑度稱為有余高焊縫試件
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