【正文】 圖 18 ．《城鎮(zhèn)地籍調(diào)查規(guī)程》規(guī)定：解析法測定城鎮(zhèn)街坊外圍界址點(diǎn)及街坊內(nèi)明顯的界址點(diǎn)位置時，界址點(diǎn)間距允許誤差、界址點(diǎn)與鄰近地物點(diǎn)距離允許誤差應(yīng)控制在（ ）內(nèi)。 A ．177。 10 ㎝ B. 177。 5 ㎝ C ．177。 ㎝ D. 177。 15 ㎝ 19 ．比例尺是地圖的一個重要參數(shù)，地籍圖屬于（ ）圖。 A ．大比例尺 B. 中比例尺 C ．小比例尺 D. 中小比例尺 20 ．在土地征用或征收、土地出讓或轉(zhuǎn)讓時，一般采用（ ）法計算宗地面積。 A ．解析 B. 圖解坐標(biāo) C ．求積儀 D. 方格網(wǎng) 21 ．地籍測量與普通地形測量都要重點(diǎn)測量的要素是（ ）。 A ．重要地物 B. 等高線 C ．土地權(quán)屬界線 D. 河流 22 ．某權(quán)利人擁有建筑面積為 146 ㎡的一塊宗地，本棟建筑物占地面積為 1032 ㎡，本棟建筑物建筑總面積 3247 ㎡。該權(quán)利人應(yīng)分?jǐn)偟幕酌娣e為（ ）。 A ． ㎡ B ． ㎡ C ． ㎡ D ． ㎡ 23 ．有一矩形宗地，宗地界址點(diǎn) J1 （ 7 、 1 ）、 J2 （ 3 、 4 ），界址邊長 J2J3= 12m ， J2J4 = 13m ，宗地面積為（ ）。 ㎡ ㎡ ㎡ ㎡ 24 ．如圖，已知 A 、 B 兩點(diǎn)坐標(biāo)分別為： A （ 100 、 100 ）、 B （ 200 、 200 ），方位角α 0 = 45 176。測量 A 點(diǎn)到 P 的水平距離 D= 38m ，觀測水平角β =52 176。界址點(diǎn) P 的坐標(biāo)的計算結(jié)果是（ ）。 A.( 、） B.( 、 ) C.( 、 ) D.( 、 ) 25. 地籍鉛筆原圖的基本精度要求是 , 相鄰界址點(diǎn)間距、界址點(diǎn)與鄰近地物點(diǎn)關(guān)系距離的中誤差應(yīng)控制在圖上（ ）內(nèi)。 A ．177。 mm B ．177。 mm C ．177。 mm D ．177。 mm 26 ．地籍測量坐標(biāo)系最好選擇國家統(tǒng)一的（ ）帶平面直角坐標(biāo)系，使其成為國家網(wǎng)的組成部分。 A ． 176。 B ． 3 176。 C ． 6 176。 D ． 9 176。 定位技術(shù)在測繪中已經(jīng)得到應(yīng)用和普及 , 近年來推出的載波相位差分技術(shù) , 又稱為 ( ) 定位技術(shù)。 A ．動態(tài) B ．實時動態(tài) C ．靜態(tài) D ．實時靜態(tài) 28. 宗地分割時 , 宗地編號的變更原則之一是 ( ) 。 A ．舊宗地號將作為歷史，不復(fù)再用 B ．分割后面積較大的宗地采用舊宗地號，其它宗地重新編號 C ．分割后面積較小的宗地采用舊宗地號，其它宗地重新編號 D ．分割后任意一個宗地都可以采用舊宗地號 29 ．變更地籍調(diào)查時，界址未發(fā)生變化的宗地，界址點(diǎn)號的變更原則之一是：（ ）。 A ．宗地界址點(diǎn)號不變 B ．在宗地所在街道最大界址點(diǎn)號后順序重新編號 C ．在宗地所在街坊最大界址點(diǎn)號后順序重新編號 D ．在原界址點(diǎn)號后加支號重新編號 30 ．變更地籍調(diào)查時，對界址發(fā)生變化的宗地，其宗地草圖上應(yīng)加蓋（ ）字樣的印章。 A ．“作廢” B ．“變化” C ．“變更” D ．“初始” 31 ．出讓土地使用權(quán)的土地用途變更是指土地使用者在征得出讓方同意，并經(jīng)土地管理部門和城市規(guī)劃部門批準(zhǔn)，依照有關(guān)規(guī)定，重新簽定土地使用權(quán)出讓合同，調(diào)整（ ）后，改變土地使用權(quán)出讓合同規(guī)定的土地用途。 A ．土地使用權(quán)出讓金 B ．宗地標(biāo)定地價 C ．土地租金 D ．基準(zhǔn)地價 32 ．無灌溉設(shè)施，主要依靠天然降雨，用于種植水生作物的耕地，地類應(yīng)確定為（ ）。 A ．旱地 B ．水澆地 C ．望天田 D ．灌溉水田 33 ． 161 號宗地與 15 號及 32 號宗地合并，則合并后的宗地號為（ ）。 A ． 162 B ． 1611 C ． 151 D ． 321 34 ．變更地籍調(diào)查時，界址發(fā)生變化的宗地應(yīng)按要求（ ）宗地草圖。 A ．在實地勘丈 B ．依據(jù)地籍圖修改 C ．在室內(nèi)修改 D ．依據(jù)宗地圖修改 35 ．變更地籍調(diào)查完成后，審核人對變更地籍調(diào)查結(jié)果進(jìn)行全面審核。結(jié)果核實無誤，在意見欄填寫合格的審核意見，否則（ ）。 A ．填寫不合格 B ．填寫不合格并指出錯誤所在 C ．應(yīng)指出錯誤所在 D ．填寫不合格并指出錯誤所在及處理意見 36 ．變更地籍測量一般不進(jìn)行（ ）。 A ．首級控制測量 B ．界址測量 C ．制作宗地圖 D ．面積量算 37 ．變更地籍測量精度應(yīng)（ ）變更前地籍測量精度。 A ．低于 B ．等于 C ．不低于 D ．不高于 38 ．對界址發(fā)生變化的宗地進(jìn)行變更地籍測量時，無淪采用何種測量方法，測量人員都應(yīng)首先檢測（ ）的精度，確認(rèn)無誤后再進(jìn)行變更地籍測量。 A ．地形點(diǎn) B ．原控制點(diǎn)及原界址點(diǎn) C ．水準(zhǔn)點(diǎn) D ．高程點(diǎn) 39 ．假設(shè)不考慮檢查數(shù)量上的要求，且檢測距離與原丈量距離是同精度的，檢查了 5 條邊（見下表），則間距中誤差為（ ）。 點(diǎn)號 檢測距離（ m ） 原勘丈距離（ M ） 較差（㎝） J1 J2 J2 J3 J3 J4 + J4 J5 + J5 J1 + A ．177。 ㎝ B ．177。 1. 11 ㎝ C ．177。 ㎝ D ．177。 ㎝ 40 ．極坐標(biāo)法放樣 P 點(diǎn)的步驟是：將儀器安置在已知點(diǎn) A 上，對中整平后，后視另一已知點(diǎn) B ，并以 B 點(diǎn)為零方向，放樣 AB 與 AP 的夾角β，得 AP 方向，沿 AP 方向放樣（ ）距離，得 P 點(diǎn)。 A ． B 到 P 的長度 B ． A 到 B 的長度 C ． P 到 B 的長度 D ． A 到 P 的長度 41 ．?dāng)M放樣新增界址點(diǎn) P 的坐標(biāo)為：（ 、 ），臨近的控制點(diǎn) A 的坐標(biāo)為 ( 、 ), 臨近的原界址點(diǎn) B 的坐標(biāo)為 ( 、 ) 。計算邊長作為距離交會法放樣數(shù)據(jù) , 則 A 到 P 的長度和 B 到 P 的長度分別為 ( ) 。 A ． m 、 6m B ． m 、 m C ． m 、 m D ． m 、 m 42. 為保證地籍圖的現(xiàn)勢性 , 當(dāng)一幅圖內(nèi)的宗地變更面積 ( ) 時 , 應(yīng)對該幅圖進(jìn)行基本地籍圖的更新測量。 A ．接近 1/2 B ．超過 1/2 C ．超過 1/3 D ．接近 1/3 43 ．以街道為單位的宗地面積匯總表的變更，應(yīng)（ ），將新增加的宗地面積加在表內(nèi)。 A ．保留變化數(shù)據(jù) B ．劃掉發(fā)生變更的宗地面積數(shù)并加蓋“作廢”字樣印章 C ．劃掉發(fā)生變更的宗地面積數(shù)并加蓋“變化”字樣印章 D ．劃掉發(fā)生變更的宗地面積數(shù)并加蓋“變更”字樣印章 44 ．宗地是被（ ）封閉的地塊。 A ．權(quán)屬界線 B ．街巷 C ．行政區(qū)內(nèi)行政界線 D ．主干道路 45 ．新增界址點(diǎn)坐標(biāo)為： P （ 、 ），臨近控制點(diǎn)坐標(biāo)為： A （ 、 ），原界址點(diǎn)坐標(biāo)為： B （ 、 ）。用極坐標(biāo)法放樣時， AP 與 AB 的夾角β和 AP 的長度 S 為（ ）。 A ． 60o m B ． 30o m C ． 60o m D ． 30o m 46 ．采用解析法檢測 4 個界址點(diǎn)坐標(biāo)，檢測精度與原測精度相同，原坐標(biāo)依次為： J1 （ 、 ）、 J2 （ 、 ）、 J3 （ 、 ）、 J4 （ 、 ），檢測坐標(biāo)依次為： J1 （ 、 ）、 J2 （ 、 、）、 J3 （ 、 ）、 J4 （ 、 ），本次檢測界址點(diǎn)點(diǎn)位中誤差為（ ）。 A ．177。 cm B ．177。 cm C ．177。 cm D ．177。 cm 47 ．為檢測某界址點(diǎn)間距的圖上精度，在 1 ： 500 的地籍圖上，量取該界址點(diǎn)間距的圖上距離為 ㎝，在實地用鋼尺丈量該界址點(diǎn)間距為 ，該界址點(diǎn)間距檢測的圖上較差為（ ）。 A ． mm B ． mm C ． mm D ． mm 48 ．為檢測 1 ： 500 地籍圖圖面精度，在實地丈量一組界址點(diǎn)間距與相應(yīng)的界址點(diǎn)圖解間距比較，其檢測較差依次為： ， ， ， ， ，本次檢測界址點(diǎn)間距圖上中誤差的絕對值是（ ）。 A ． mm B ． mm C ． mm D ． mm 49 ．城鎮(zhèn)初始權(quán)屬調(diào)查的基本單元是（ ）。 A ．圖斑 B ．宗地 C ．房屋 D ．用地單位 50 ．為檢測地籍圖圖面精度，利用實地丈量一組相鄰界址點(diǎn)的距離，并與相應(yīng)的圖解距離比校，實測距離與圖解距離圖上允許誤差的絕對值應(yīng)不大于（ ）。 A ． mm B ． mm C ． mm D ． mm 51 ．在開展城鎮(zhèn)土地利用現(xiàn)狀與潛力調(diào)查評價工作中，當(dāng)城鎮(zhèn)地籍調(diào)查及城鎮(zhèn)變更調(diào)查的成果不能覆蓋整個評價區(qū)域時，應(yīng)利用（ ）作為補(bǔ)充。 A ．城市規(guī)劃資料 B ．土地利用總體規(guī)劃資料 C ．城市控制性詳細(xì)規(guī)劃資料 D ．土地利用現(xiàn)狀調(diào)查成果資料 52 ．勘測定界圖的比例尺一般不小于（ ）。 A ． 1 ： 1000 B ． 1 ： 2000 C ． 1 ： 5000 D ． 1 ： 10000 53 ．在土地勘測定界的地類調(diào)查時，應(yīng)核實實地地類與（ ）上標(biāo)注地類是否一致，當(dāng)不一致時，應(yīng)在勘測定界技術(shù)報告及面積量算表中注明。 A ．選址意見書 B ．初步設(shè)計前測繪的地形圖 C ．工程設(shè)計圖 D ．土地利用現(xiàn)狀圖 54 ．某建設(shè)項目用地有六個界址點(diǎn)，其坐標(biāo)依次為： J1 （ 0 、 1 ）、 J2 （ 1 、 1 ）、 J3 （ 2 、 2 ）、 J4 （ 2 、 4 ）、 J5 （ 1 、 4 ）、 J6 （ 0 、 2 ），則該項目用地的總面積是（ ）。 A ． ㎡ B ． ㎡ C ． ㎡ D ． ㎡ 55 ．某地塊在土地利用現(xiàn)狀圖上注記為“旱地”，農(nóng)業(yè)結(jié)構(gòu)調(diào)整中改種桑樹，但耕作層未被破壞，在土地勘測定界地類調(diào)查時，該地塊地類應(yīng)確定注記為（ ）。 A ．旱地 B ．果園 C ．可調(diào)整桑園 D ．桑園 56 ．土地勘測定界面積匯總時，項目占用基本農(nóng)田的面積，應(yīng)填寫在（ ）上。 A ．《勘測定界表》 B ．《項目用地土地勘測面積表》 C ．《項目用地土地分類面積表》 D ．《項目用地土地權(quán)屬面積表》 57 ．土地勘測定界時，可利用擬用地界址點(diǎn)坐標(biāo)與控制點(diǎn)坐標(biāo)，計算擬用地界址點(diǎn)相對于控制點(diǎn)的角度等有關(guān)數(shù)據(jù)，作為（ ）放樣數(shù)據(jù)。 A ．前方交會法 B ．距離交會法 C ．極坐標(biāo)法 D ．截距法 58 ．土地勘測定界時，界址點(diǎn)放樣的點(diǎn)位中誤差應(yīng)控制在（ ）內(nèi)。 A ．177。 5 cm B ．177。 10 cm C ．177。 15 cm D ．177。 20 cm 59 ．土地勘測定界時，界址點(diǎn)間距超過（ ）時，應(yīng)加設(shè)界址樁。 A ． 100 m B ． 150 m C ． 200 m D ． 250 m 60 ．土地勘測定界采用距離交會法放樣時，兩個已知點(diǎn)坐標(biāo)分別為： A （ 8 、 15 ）， B （ 6 、 35 ），待放樣點(diǎn)坐標(biāo)為： P （ 28 、 25 ），采用該方法的放樣數(shù)據(jù)是（ ）（ SA 是 A 點(diǎn)到 P 點(diǎn)的距離， SB 是 B 點(diǎn)到 P 點(diǎn)的距離）。 A ． SA= m SB= m B ． SA= m SB= m C ． SA= m SB= m D ． SA= m SB= m 二、多項選擇題（共 20 題，每題 2 分。每題的備選項中，有 2 個或 2 個以上符合題意，至少有 1 個錯項。錯選，本題不得分；少選，所選的每個選項得 分） 61 ．地籍調(diào)查是土地登記的基本工作，為滿足土地登記的要求，地籍調(diào)查的內(nèi)容和對象應(yīng)包括（ ）。 A ．土地權(quán)利主體 B ．土地權(quán)利客體 C ．土地權(quán)屬性質(zhì)和來源 D ．土地規(guī)劃 E ．地上建筑物、構(gòu)筑物的權(quán)利及限制 62 ．地籍測量包括地籍控制測量和地籍細(xì)部測量，地籍細(xì)部測量包括（ ）等內(nèi)容。 A ．實地標(biāo)定界址點(diǎn)位置 B ．測定界址點(diǎn)位置 C ．測繪地籍圖 160