【正文】
衍射( RHEED)、 X射線小角衍射等來研究樣品的結晶性、結晶學取向、表面形貌等結構性質。 ? 可采用盧瑟福背散射來測量樣品中各元素的含量。 電學輸運特性的測量 采用四點法和霍爾效應測量相結合,對外延 BTO薄膜的電阻率 溫度特性、載流子遷移率 溫度特性、載流子濃度 溫度特性以及霍爾系數(shù) 溫度特性做出系統(tǒng)測試。電阻率采用 Vander Paw四點法,在可變溫的真空變溫探針臺測定,由 Keithley 2400提供電壓測量和電流源。PPMS系統(tǒng)可做進一步測量。 Van der Pauw 四點法 Van der Pauw四點法對樣品的要求 a) The contacts are at the circumference of the sample. b) The contacts ar