spc統(tǒng)計過程控制概述(ppt49頁)-閱讀頁
2025-03-11 12:38本頁面
【正文】 Rao 2023 不合格率的 p圖數(shù)據(jù)收集1. 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量? 子組容量 (n=50~200)? 分組頻率? 子組的數(shù)量 (25)2. 計算每個子組的不合格率（ p）– 記錄每個子組的下列值– 被檢項目的數(shù)量 ——n– 發(fā)現(xiàn)的不合格項目 ——np– 計算不合格率 p=np/p3. 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度（ ~2倍）4. 將不合格品率描繪在控制圖上169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時間特性值?不變?傾向性變化169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時間特性值?規(guī)律性變化?不變169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時間特性值?無規(guī)律變化?無規(guī)律變化169。– R圖? 通過計算機上的模擬試驗證實：只要 X不是非常不對稱，則 R的分布無大的變化。John Z. Rao 2023 XR控制圖? 靈敏度高– X圖：X通過平均– R圖：無此優(yōu)點偶因至少可以部分抵消（偶因反映在 ?上）異因不變靈敏度高異因突出169。John Z. Rao 2023 ? 若 ?、 ?未知，則需對其進行估計，即169。John Z. Rao 2023 A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a. 子組大小使各樣本之間出現(xiàn)變差的機會小在過程的初期研究中，子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個單一的過程流。c. 子組數(shù)的大小一般 100個單值讀數(shù)， 25個子組169。John Z. Rao 2023 A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)XR 圖通常是將 X圖畫在 R圖之上方，下面再接一個數(shù)據(jù)欄。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點應(yīng)縱向?qū)R。同時還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（ X）、極差（ R）以及日期 /時間或其他識別子組的代碼的空間。John Z. Rao 2023 A3計算每個子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（ X）和樣本極差（ R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其變差。 N為子組的樣本容量。John Z. Rao 2023 169。X圖：坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值勤（ X）的最大值與最小值差的 2倍。169。該工作在確定了刻度以后應(yīng)盡快完成。簡要地瀏覽一下所有畫上去的點，看它們是否合理，如果有的點比別的點高得很多或低得很多，需確認(rèn)計算及畫圖是否正確，應(yīng)確保所畫的 X和 R點在縱向是對應(yīng)的。John Z. Rao 2023 169。John Z. Rao 2023 謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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