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正文內(nèi)容

spc統(tǒng)計(jì)基本培訓(xùn)教材-閱讀頁

2025-03-02 14:49本頁面
  

【正文】 缺點(diǎn)類別設(shè)定缺點(diǎn)代碼設(shè)定檢驗(yàn)作站設(shè)定連接儀器設(shè)定層別條件設(shè)定量測單位設(shè)定表尾資料設(shè)定PChartNPChartCChartUChart柏拉圖不良率推移圖PPM推移圖XbarRchartXRmchartHistogramσChartσChartCPK推移圖製程能力分析圖製程建議分析多品質(zhì)特性圖3.計(jì)數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖它是利用管製圖的原理 ,是 SPC中計(jì)數(shù)值最常用和最主要的分析圖形之一 ,它具有以下特點(diǎn)與功能 :1.(1).了解本系統(tǒng)中在正常狀況下的不良狀況 ,(2).對于突發(fā)件 (特殊原因 )影響程度及時(shí)了解。(3).便于預(yù)測下一階段的不良率。各組檢驗(yàn)數(shù)相同各組檢驗(yàn)數(shù)不相同各組檢驗(yàn)數(shù)相差不大各組檢驗(yàn)數(shù)相差較大PCHART並存在以每筆為一點(diǎn)和每天為一點(diǎn)的算法3.計(jì)數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖 製作CL=Pbar=(不良總數(shù) /抽樣總數(shù) )UCL= Pbar+ 3δPbar+ 3╳Pbar╳(1Pbar)/ni(組抽樣數(shù) )= Pbar+ 3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )Pbar3╳Pbar╳(1Pbar)/ni(組抽樣數(shù) )╳100%= Pbar+ 3╳  LCL= Pbar3╳  (第 1組樣本數(shù) )╳100%= Pbar+ 3╳  LCLi= Pbar3╳  (第 i組樣本數(shù) )往上跑要立即找出原因(2).根擾管製圖判讀規(guī)則 ,就必須分析一次(4).否則不倫不類(5).應(yīng)用要求為檢驗(yàn)數(shù)最好相同 ,如檢驗(yàn)數(shù)不同 ,因?yàn)橥ǔ2涣紨?shù)管製圖是不良率管製圖的一個(gè)補(bǔ)充。人為因素相對較少 ,用不良率管製圖 )CL=Pbar=不良總數(shù) /抽樣次數(shù) = Pbar+ 3╳  LCL= Pbar3╳  NP 其它內(nèi)容似 PChart3.計(jì)數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 單位缺陷數(shù)管製圖U圖是用平均缺點(diǎn)數(shù)來做的一種管製圖 ,U圖存在有檢驗(yàn)數(shù)相同和不同這兩種狀況 :UCLΣ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )例 :╳100%= Pbar+ 3╳  LCLi= Pbar3╳  (第 i組樣本數(shù) )缺點(diǎn)數(shù)管製圖也是單位缺點(diǎn)數(shù)管製圖的一補(bǔ)充 , 也要求檢驗(yàn)數(shù)相同才有意義。缺點(diǎn)數(shù)管製圖是用來相對缺點(diǎn)數(shù)的變化狀況 ,有利于公司品質(zhì)方針與政策的執(zhí)行。=UCL=LCL=Cbar例 :C主要用來分析各種不良原因或缺點(diǎn)項(xiàng)目中的重點(diǎn)部份 ,應(yīng)可分析從大到小的各類問題 一般在下列情況使用 :全廠所有缺點(diǎn) (2).3.計(jì)數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 製作(1).(2).分類好的數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總 ,並計(jì)算出各類別所占百分比 以總數(shù)的十分之一為一單為格 ,以每一類別以 100%的比例來做右邊的縱軸 ,在 80%(5).在橫軸上 ,再根據(jù)每一類別的數(shù)量在畫最后從左邊第一方格右上角描第一點(diǎn) ,第三方格右邊上面的第二高點(diǎn)高度加本方格以此類推 ,完成 (2).決定改善的攻擊目標(biāo) 。(4).應(yīng)用發(fā)掘現(xiàn)場的重要問題點(diǎn) 。(6).可作不同條件的評價(jià) 。(8).柏柆圖分析具有檢定假說之意義 。(9).配合特性要因圖使用 (柏拉圖上的項(xiàng)目當(dāng)作品質(zhì)特性加以要因分析 ,可以討論出改 當(dāng)缺點(diǎn)項(xiàng)目或類別超過 15項(xiàng)時(shí) (有些書上寫 9項(xiàng) ,而用電腦做則可在經(jīng)過第 2步的排序時(shí) ,“其它 ”且一定要放在最好 ,“其它 ”,在柏拉圖的折線點(diǎn)上不需要標(biāo)識具體數(shù)據(jù) ,而如標(biāo)識數(shù)據(jù) ,且無實(shí)際意義 .(3).如在柏拉圖做出之后 ,“其它 ”的類別高度最不能超過第 4項(xiàng) (有些書上寫第 3項(xiàng) ),則表示類別劃分不合理3.計(jì)數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇日期、月度、年度目標(biāo)值4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart平均數(shù)與全距管製圖 意義用它來監(jiān)控製程品質(zhì)狀態(tài)的發(fā)展趨勢是非常好的 ,XbarR管製圖可分為兩部份 :經(jīng)過計(jì)算出管製圖上下限之后畫出的 ,它主要用來對初期品質(zhì)測定和監(jiān)控 ,在現(xiàn)有環(huán)境中品質(zhì)的製程能力 , 製程管製圖 是根據(jù)之前的歷史數(shù)據(jù) ,並以此為依據(jù)作為今后管製圖的管製界限。如 3月份的管製圖以 2月份的管製界限來製定 , 4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart平均數(shù)與全距管製圖 解釋製作查表法 計(jì)算法XUCL=X+ A2RXUCL=X+ A2RRUCL=D4R查表見 附Σ(Xi- XXσ=Xσ=(K*N-1 )XUCL=X+3 XσRCL=R=各組距之和 /組數(shù) 或= (MaxMin)/組數(shù)RUCL=RCL+3*Σ(Ri- R)2Σ(Ri- R)2(組數(shù) )例 見圖4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart平均數(shù)與全距管製圖 製程製作用過去的經(jīng)驗(yàn)或資料來做為目前的管製界限。製程管製圖的作法很簡單 ,再把現(xiàn)有的點(diǎn)描進(jìn)去就完成了。解析管製圖通常要給的數(shù)據(jù)有 :(1).平均數(shù)管製圖的中心線 (XCL)(3).全距管製圖的中心線 (RCL)給定值XUCL=XCL+3XσXLCL=XCL3XσRCL=本圖形在計(jì)量值中是最基本的、最常用的一種。一是分析數(shù)據(jù)表位置的品質(zhì)參數(shù)與指標(biāo) , (1).注意規(guī)格界限與管製之間的比較 ,包含關(guān)系、交叉關(guān)系、不相干 查看 Ca、 Cp、 Cpk與 PPM等品質(zhì)指標(biāo) (1).就必須看圖形的變化 而全距管製圖沒有較大波動(dòng)時(shí) , 而全距管製圖有出現(xiàn)連續(xù) 3點(diǎn)上升 , 而全距管製圖沒上升變化 , 且 cp不是很大時(shí) ,必須立即到現(xiàn)場去查看原因 , 且全距管製圖沒有較大變動(dòng) , 都需要同以前在相同條件下做比較分析 ,同時(shí)去驗(yàn)証一到兩次 有很大可能是輸錯(cuò)或記錯(cuò)了數(shù)據(jù) ,以便確認(rèn)原因 , 還需要改善品質(zhì)時(shí) ,Bars以便從不同角度進(jìn)一步分析 。4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差管製圖 意義平均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差管製圖的功效類同平均數(shù)全距管製圖 ,標(biāo)準(zhǔn)差相對較小 XbarσChart也同 XbarRchart一樣 ,一個(gè)是各組數(shù)據(jù)平均數(shù)組成的 Xbar一個(gè)是各組數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差組成的 σChart。這二者的功能與平均數(shù)全距管製圖的功能與做法都及為類似。XbarσChart有些書上記錄 Xbars是相同的概念。例 :chart4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差管製圖 應(yīng)用σj==或 ==CLσUCL=CL+3σσLCL=CL3σ本圖形分析應(yīng)用 ,Chart來分析應(yīng)用 ,全距易受個(gè)別值的影響 ,所以本圖形相對要嚴(yán)謹(jǐn)一些。而標(biāo)準(zhǔn)差管製圖發(fā)生某一點(diǎn)超出其管製界限 ,2. 應(yīng)立即查清原因 ,3.則表示此組數(shù)據(jù)可能有不良品產(chǎn)如遇戶要求較嚴(yán)格 ,建議重新全檢一次 ,做挑選處理。4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart中位數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差管製圖中位數(shù)全距管製圖是從另一個(gè)角度來分析品質(zhì)狀態(tài) ,它是用來彌褲平均數(shù)全距管製圖和平均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差管製圖的一些不足。只是一個(gè)平均數(shù)和一個(gè)中位數(shù)的區(qū)別。 X(N/2)X(N/2+1)Σ(Xmi- Xm)2/n(組數(shù) )XmLCL=CL3其圖形分析應(yīng)用 ,BarR管製圖 ,如若品質(zhì)更好時(shí) , 以不分組的方式描點(diǎn)作管製圖 ,所以在計(jì)量值中當(dāng)每次取樣數(shù)為 1時(shí) ,在管製圖中只能使用個(gè)別值與移動(dòng)平均值管製圖。如生產(chǎn)效率及損耗率 。不需要多取樣本 ,(3).取得測定值既費(fèi)時(shí)成本又高 , 則 Ri=|SLXi|(m一般為 3)Rm=直方圖在品質(zhì)管理中 ,對品質(zhì)狀況分析有極其重要的參考價(jià)值?,F(xiàn)已成為客戶要求做 SPC的指標(biāo)性圖形 ,可以具有以下功能 :(1).(2).分辨數(shù)據(jù)的真?zhèn)?4).體現(xiàn)規(guī)格界限與管製界限的關(guān)系樣本數(shù)一般要求50~250個(gè) ,否則變得無意義4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 製作第一步 :找最大值與最小值 MaxMin第二步 :Max- K=1+(結(jié)果必須取整數(shù) )第四步 :計(jì)算組距 組距 =全距/ K(組數(shù) 起始點(diǎn)值=最小值-測定值最小位數(shù)/2最終點(diǎn)值 =Max第七步 : 計(jì)算各品管指標(biāo) (參照前面的品質(zhì)指標(biāo)計(jì)算公式 )第八步 : 作出圖形 出現(xiàn)了不規(guī)則形狀 ,否則判斷容易出現(xiàn)誤差??梢詤⑶懊娴闹狈綀D判讀應(yīng)用時(shí)要注意以下幾點(diǎn) :數(shù)據(jù)量的多少(2).要與計(jì)量值中其它管製圖結(jié)使起來看(4).則可以借助 σs或 σa來分析(5).當(dāng)為單邊規(guī)格時(shí) ,規(guī)格與製程標(biāo)準(zhǔn)差管製圖 ,不如說是一種狀態(tài)圖 ,所以編者就稱其為管製圖 ,它把直圖的粗糙變的更細(xì)膩 ,直方圖是以是以柱狀形式表現(xiàn) ,而規(guī)格與製程標(biāo)準(zhǔn)管製圖以具體點(diǎn)的形式表。再加上規(guī)格界限和管製界限 , (1).對數(shù)據(jù)分布更加清析 ??梢赃M(jìn)一步分析到以現(xiàn)有製程能力可以(3).對數(shù)據(jù)的真實(shí)性更容易分析 ,是否全檢等 。如是否為是量測儀器精度不夠等 。更易于對成本的決策 ,規(guī)格要求不嚴(yán) ,對成本較高 ,實(shí)際上是 規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差管製 和 製程標(biāo)準(zhǔn)差管製圖 兩種 ,注意 :否則難以有分析和判讀的效果 。4.計(jì)量值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 s與 σ a Chart 規(guī)格與製程標(biāo)準(zhǔn)差圖 製作K=?。场?(、4、 、 、 6)管製界限均不應(yīng)超出規(guī)格界限 , , 立即製定計(jì)劃請高層管理者出席開一次動(dòng)員會(huì)議SPC系統(tǒng)規(guī)劃對相關(guān)人員做軟件操作培訓(xùn)理論培訓(xùn)同相關(guān)人員討論基本資料 23並記錄數(shù)據(jù)文員收集數(shù)據(jù) ,填寫製程標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)記錄表否是否是2.Spc系統(tǒng)規(guī)劃技術(shù)篇規(guī)劃項(xiàng)目 (1).缺陷類別 (2).缺陷代碼 (3).產(chǎn)品類別 (4).檢驗(yàn)工作站 (5).層別條件 (6).各相關(guān)人員權(quán)責(zé) (7).獎(jiǎng)罰機(jī)製 (8).多長時(shí)間檢討一次規(guī)劃原則 (1).缺陷代碼完整而方便管理 , 數(shù)量為 50~250個(gè)之間 (2).缺陷類別為 4~8類 , 要留一個(gè)其它類別 (3).產(chǎn)品類別要加一個(gè)改善類和機(jī)臺(tái)類 (4).檢驗(yàn)工作站也要加一個(gè)專案和機(jī)臺(tái) (5).各人員權(quán)責(zé)要本著不多增加工作複雜程度 , 而對其有幫助 ,同時(shí)要特別注意良好的溝通 (6).層別條件要站在較遠(yuǎn)的時(shí)間來看待 ,而且全面細(xì)致 (7).所有動(dòng)作一定要結(jié)合現(xiàn)場實(shí)際規(guī)劃注意事項(xiàng) (1).合理地安排適當(dāng)?shù)慕逃?xùn)練 (2).高層主管多多支持 (3).數(shù)據(jù)調(diào)整不能 “ 模糊自己 ” (4).各產(chǎn)品生產(chǎn)時(shí)間長短3.圖形綜合應(yīng)用技術(shù)篇原則上 ,是全部分析最好 ,同時(shí)使用 SPC時(shí)又簡潔方便 不良率 /PPM推移圖 :在各點(diǎn)數(shù)據(jù)中應(yīng)可選擇以天、周、月為一點(diǎn) 。在產(chǎn)品上應(yīng)可以選擇單個(gè)或多個(gè) 。在檢驗(yàn)工序上 ,應(yīng)可選擇單個(gè)、多個(gè)、不選 。所以當(dāng)某個(gè)批無成或已生產(chǎn)了近一周以上時(shí)就需要使用 ,PChart、 NPChart、 CChart、 UChart圖 為每輸進(jìn)一至兩個(gè)點(diǎn)必須分析一次柏拉圖 :每周和每月做總結(jié)分析。chart、 XbarSchart、 XRm在每輸 1至 2點(diǎn)的數(shù)據(jù)必須分析一次。Chart、 σa批次小生產(chǎn)或時(shí)間短至少分析一次 ,應(yīng)每 2至 3天內(nèi)必須分析一次 ,CPK推移圖 :綜合建議分析圖 :多品質(zhì)特性圖 :以后在調(diào)整期間注意分析
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