【正文】 whether that operation should be charted.4. 對于車間目的來說，一個(gè)受控的過程即是僅有很少百分比的點(diǎn)失控并且對失控點(diǎn)采取過適當(dāng)?shù)拇胧an collect a single data per time, by considering the efficiency and scrap? 制程品 質(zhì) 極 為 均 勻 ，不需多取 樣 本，如液體 濃 度。Costly for the measurement, such as plicated chemical analysis, and destructive test.84X MR 圖85計(jì) 數(shù) 型 數(shù) 據(jù)控制 圖Attribute Control ChartsvP圖 (P Charts)vnP圖 (nP Charts)vC圖 (C Charts)vU圖 (U charts) 86P 圖 (P Charts)v 不合格品率 (不良率 )控制 圖Failure Rate Control Chartv 分析或控制制程不合格品率 (不良率 )Analyse or control the failure ratev 樣 本大小 n可以不同Sample size n can varies87P 圖 (P Charts)88P 圖 (P Charts)89nP 圖 (nP Charts)v 不合格品 數(shù) (不良 數(shù) )控制 圖Non conforming no ( No of defective) Control Chartv 分析或控制制程不合格品 數(shù) (不良 數(shù) )Analyse and Control of Non conforming no ( No of defective) Control Chartv 樣 本大小 n要相 同Sample Size N must be the same90nP 圖 (nP Charts)91C 圖 C Chartsv 缺點(diǎn) 數(shù) 控制 圖Defect Point Control Chartv 分析或控制制程缺點(diǎn) 數(shù)Analyse or Control of Defect Point Control Chartv 樣 本大小 n 要相同Sample Size N must be the same92C 圖 在 樣 本大小一致的子 組 內(nèi) 的 不合格數(shù)93u 圖 U Chartsv 單 位缺點(diǎn) 數(shù) 控制 圖 Unit defective Control Chartsv 分析或控制制程 單 位缺點(diǎn) 數(shù)Analyse or Control of Unit defective Control Chartsv 樣 本大小 n 可以不同Sample Size n can varies94u 圖 U charts95過 程能力Process Capability96過 程控制和 過 程能力Process Control Process Capabilityv 判 斷 一 個(gè) 過 程是 受控 還 是 不受控 用：To judge the process are in control or out of control:控制 圖 Control Chartv 判 斷 一 個(gè) 過 程是否 滿 足 規(guī) 格要求：To judge the process can fulfill the specification :能力指 數(shù) – Cpk ( Process Capability) 性能指 數(shù) Ppk ( Performance Capability) 97v 短期 Short Termv 長 期 Long Term過 程能力 Process Capability短期 研 究 長 期 研 究一月星期一 星期二二月Short Term Long Term98過 程能力的 研 究 Process Capability Study短期普通原因特殊原因v 短期能力 研 究 過 程性能 Short Term Performance Capability σ699過 程能力的 研 究 Process Capability Studyv 過 程性能 (Process Performance)? 過 程 總變 差 特殊原因 變 差 + 普通原因 變 差? Total Process Variation due to both Special and Common Cause? 由 估 計(jì) 出 Estimate form Sigmaσ s100過 程能力的 研 究 Process Capability Study輸 入 (材料 )過 程 (生 產(chǎn) /裝配 )輸 出 (產(chǎn) 品 )反 饋 (測 量 /檢驗(yàn) )v 長 期能力 研 究 過 程能力 Long Term Capability Study Process CapabilityInput MaterialProcess (Production)Output ( Product)Feedback Measure101v 長 期能力 研 究 過 程能力Long Term Capability Study Process Capability過 程能力的 研 究 Process Capability Study長 期R7R5R4R1R2 R3 R6102v 過 程 能力 (Process Capability)? 過 程固有 總變 差 由 普通原因 造成的 變 差 ? Process Inherent Variation due to COMMON cause? 由 估 計(jì) 出 Estimated from? (Rbar)是 樣 本子 組 的平均全距 Rbar the full range過 程能力的 研 究 Process Capability Study 103v 指 數(shù) (index)客 戶 要求的過 程能力和 過 程性能的 數(shù) 值Customer RequiredProcess Capability and Performance Index指 數(shù) Index Upper SpecLower SpecShortTerm CapabilityLongTerm Capability104指 數(shù) 分 類 Types of IndexProcess CapabilityPerformance CapabilityIrrespective of process centeringAccounts for process centering105v 能力 指 數(shù) 的 計(jì) 算 基于以下假 設(shè) 條 件 ：Cpk is under the following assumption:? 過 程 處 于 統(tǒng)計(jì) 穩(wěn) 定 狀 態(tài) Process is Statistically Stable? 每 個(gè) 測 量 單值 遵循 正 態(tài) 分布 Each point follow Normal Distribution? 規(guī) 格的上、下限是基于 客 戶 的要求Upper and Lower Spec are based on customer requirement? 測 量系 統(tǒng) 能力充分 Sufficient MSAv 如果理解 關(guān) 滿 足了 這 些假 設(shè) 后，能力指 數(shù) 的 數(shù) 值 越大，潛在的客 戶滿 意度越高Higher Cpk, Higher customer satisfaction過 程能力指 數(shù) Process Capability Index106v Cp = 規(guī) 格范 圍 與 過 程能力的比率? Ratio of Spec width and Process widthv 不考 慮過 程的 對 中性v Not consider process centering能力指 數(shù) Capability Index CpLSL USL規(guī) 格范 圍固有 變 差Process VariationSpec width 107v CPU = 上限公差范 圍 與 1/2個(gè) 固有過 程 能力的比率? Ratio of Upper Spec distance and 189。固有能力1/2 Process VariationUpper Spec width108v CPL = 下限公差范 圍 與 1/2個(gè) 固有過 程 能力的比率Ratio of Lower Spec distance and 189。固有能力1/2 Process VariationLower Spec width 109v Cpk 是 CPU或 CPL中 較 小的一 個(gè) ：Min of CPU or CPL對中能力指數(shù) Centering Capability Index Cpk110v Pp = 規(guī) 格范 圍 與 過 程性能力的比率? Ratio of Spec width and Process widthv 不考 慮過 程的 對 中性Not consider process centering 性能指數(shù) Performance Capability PpLSL USL過程總變差規(guī)格范圍Total Process VariationSpec width 111v 與 Cpk相同， Ppk等于： Similar to Cpk對中性能指數(shù) Centering Performance Capability Ppk112Ppk 與 可能的失效率Relationship of Ppk Likely Failure rate Likely Failure Rate 可能的失效率 Ppk50 per thousand piece = 2 per thousand piece = per thousand piece = = per thousand piece = 113THE END謝謝114謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAI