【正文】 時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕壓被測(cè)鍵；c. 讀取測(cè)試儀上顯示數(shù)據(jù)； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 正常彈性：180+/20 g；手感：〉40%；行程：〉=；b. 打擊壽命：〉100 萬(wàn)次，打擊后衰減率〈20%； c. 鹽霧后衰減率〈20%； 高頻振動(dòng)測(cè)試 測(cè)試目的：模擬運(yùn)輸時(shí)對(duì)手機(jī)的振動(dòng)，驗(yàn)證手機(jī)受振動(dòng)后的性能及傳導(dǎo)的射頻性能； 測(cè)試條件：頻率范圍 520Hz ，功率頻譜密度 ；頻率范圍 20500Hz，功率頻譜密度3dB/oct； 測(cè)試數(shù)量：4pcs（試驗(yàn)后 RF 測(cè)試 2pcs）； 測(cè)試設(shè)備：高頻振動(dòng)測(cè)試儀，CMU200/CMD55，射頻線，穩(wěn)壓電源等； 測(cè)試方法：a. 存入 5 個(gè)電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機(jī)裝上帶滿電電池，插上測(cè)試卡，設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)后，固定在振動(dòng)臺(tái)上夾緊；c. 設(shè)備參數(shù)按以下調(diào)整：頻率范圍 520Hz ，功率頻譜密度 ；頻率范圍 20500Hz，功率頻譜密度3dB/oct；d. 啟動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng)，X、Y、Z 三個(gè)軸向分別進(jìn)行 1 小時(shí)測(cè)試，每個(gè)軸向振動(dòng)后都要對(duì)手機(jī)進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電，用延長(zhǎng)射頻線與 CMU 連接并進(jìn)行通話，在電壓設(shè)置為 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試（測(cè)試方法：參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范）； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)剛開(kāi)始 5min 內(nèi)不應(yīng)掉電；振動(dòng)完成后無(wú)不識(shí)卡現(xiàn)象；外觀、結(jié)構(gòu)、功能無(wú)異常；RF 參數(shù)符合規(guī)格要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無(wú)零件松動(dòng)、脫落，晃動(dòng)無(wú)異常以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無(wú)異常；第 17 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件d. 樣品內(nèi)存，時(shí)鐘無(wú)異常（內(nèi)存無(wú)丟失；時(shí)鐘無(wú)混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；RF 性能指標(biāo)合格；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范（TDMA 制式））； 砂塵試驗(yàn) 測(cè)試目的：驗(yàn)證樣機(jī)結(jié)構(gòu)密封性； 測(cè)試條件：砂塵密度：2kg/m3；砂塵流量：2m/s；砂塵材料：滑石粉 250 目（46μm）；濕度≤30%；持續(xù)時(shí)間：8hrs； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：砂塵試驗(yàn)箱； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：a. 功能測(cè)試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能；b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試：按鍵彈性；轉(zhuǎn)軸靈活性；其它可活動(dòng)部件靈活性；c. 外觀檢測(cè)：顯示區(qū)域；殼體表面噴涂； 測(cè)試方法：a. 將手機(jī)裝上帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)后，放置到沙塵試驗(yàn)箱里支架上；b. 一個(gè)正面擺放，一個(gè)反面擺放；不靠近試驗(yàn)箱內(nèi)壁；c. 測(cè)試時(shí)間持續(xù) 8h；d. 將樣品從試驗(yàn)箱中取出，用無(wú)塵布和刷子對(duì)其清潔后，進(jìn)行檢查；e. 砂塵流量：2m/s；砂塵材料：滑石粉 250 目（46μm）；濕度≤30%； f. 對(duì)于翻蓋手機(jī)，打開(kāi)到使用狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)，滑開(kāi)到上限位置； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 功能檢查：無(wú)異常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：按鍵彈性正常；轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)正常，無(wú)異音；所有可活動(dòng)部件活動(dòng)正常；c. 外觀檢查：顯示區(qū)域無(wú)明顯砂塵；殼體表面噴涂無(wú)退化現(xiàn)象； 人工汗液測(cè)試 測(cè)試目的：驗(yàn)證樣機(jī)對(duì)人體汗液的耐腐蝕性能； 測(cè)試條件：人工汗液（堿性配方：氨水 % ，氯化鈉 %，水 %）PH=，（酸性配方：氯化鈉（Nacl）20g/L；氯化氨（NH4Cl）；尿素（CH4N20）5g/L；醋酸(CH3COOH)；乳酸(C3H603)15g/L；氫氧化鈉 NaOH 適量（調(diào)節(jié)溶液 PH 值達(dá)到 ））；用浸有人工汗液的紗布裹住測(cè)試樣機(jī)，（確保紗布和樣機(jī)緊密接觸），在 40℃/95% 的恒溫恒濕箱中放置 24 小時(shí)， 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：人工汗液、恒溫恒濕箱； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：a. 打開(kāi)恒溫恒濕機(jī)的電源，溫度設(shè)定為：40 ℃，濕度設(shè)置為：95%，試驗(yàn)時(shí)間：24 小時(shí)； b. 用紗布浸占人工汗液，紗布濕透即可，然后用紗布裹緊測(cè)試樣機(jī)（確保紗布和樣機(jī)緊密接觸）；每第 18 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專業(yè) 臺(tái)測(cè)試樣機(jī)分為上下兩個(gè)區(qū)域，分別用浸有酸性和堿性汗液的紗布包裹；c. 樣機(jī)擺放應(yīng)一臺(tái)樣機(jī) A 面朝上，一臺(tái)樣機(jī) A 面朝下，間隔 5cm 以上；d. 運(yùn)行恒溫恒濕箱；e. 試驗(yàn)時(shí)間結(jié)束后關(guān)閉電源，取出手機(jī)；f. 解開(kāi)紗布，室溫條件下放置 2 小時(shí)后對(duì)樣機(jī)進(jìn)行全面的外觀和功能檢查； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： 金屬部件無(wú)氧化發(fā)黑現(xiàn)象，手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能正常；質(zhì)量體系文件a. 外觀檢查：表面噴涂，絲印，電鍍無(wú)脫落，起泡，腐蝕；噴漆表面無(wú)變色、起皮、脫落、褪色等異常以及與測(cè)試前不一致的外觀； 壽命試驗(yàn) 翻蓋壽命測(cè)試 測(cè)試目的：適用于翻蓋手機(jī)，驗(yàn)證手機(jī)翻蓋壽命的可靠性； 測(cè)試條件：8 萬(wàn)次；40~45 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：翻蓋試驗(yàn)機(jī)； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：a. 將手機(jī)不包裝，開(kāi)機(jī)固定在測(cè)試設(shè)備上；b. 調(diào)節(jié)好氣壓、前桿和后桿的翻轉(zhuǎn)角度，以 40~45 次/分的速率翻蓋 8 萬(wàn)次，在 2 萬(wàn)次、3 萬(wàn)次、4萬(wàn)次和 5 萬(wàn)次、6 萬(wàn)次、7 萬(wàn)次、8 萬(wàn)次時(shí)檢查 LCD 能否正常顯示，手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)和功能是否正常；c. 關(guān)閉電源，取下手機(jī)； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：翻蓋可以平穩(wěn)的開(kāi)合，無(wú)異響；翻蓋轉(zhuǎn)軸功能無(wú)松動(dòng)，變緊等以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的結(jié)構(gòu)問(wèn)題；c. 外觀檢查：按鍵，鏡片等無(wú)明顯磨損痕跡，殼體配合縫隙無(wú)變大，軸連接區(qū)域無(wú)裂紋或斷裂等異常；表面噴漆無(wú)破裂及顯示磨損等以及無(wú)其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的外觀問(wèn)題； 滑蓋壽命測(cè)試 測(cè)試目的：適用于滑蓋手機(jī)，驗(yàn)證手機(jī)滑蓋壽命的可靠性； 測(cè)試條件：8 萬(wàn)次；40~45 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：滑蓋試驗(yàn)機(jī)； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀和功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：a. 打開(kāi)電源和氣閥；b. 將手機(jī)不包裝，開(kāi)機(jī)固定在測(cè)試設(shè)備上；第 19 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件c. 以 40~45 次/分的速率滑蓋 8 萬(wàn)次，在 2 萬(wàn)次、3 萬(wàn)次、4 萬(wàn)次和 5 萬(wàn)次、6 萬(wàn)次、7 萬(wàn)次、8 萬(wàn)次時(shí)檢查 LCD 能否正常顯示，手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)和功能是否正常；d. 關(guān)閉電源，取下手機(jī)；e. 將 FPC 拆下,每個(gè) PIN 在將 FPC 拱起做 3 個(gè)方向擠壓的情況下做電阻量測(cè),(如付圖),每 PIN 的電阻值和測(cè)試前一樣； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 當(dāng)拿住上滑蓋和下滑蓋，樣品不能因?yàn)樽陨淼闹亓慷蜷_(kāi)。20g；60 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：按鍵測(cè)試儀； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：a. 將手機(jī)不包裝不開(kāi)機(jī)固定在測(cè)試設(shè)備上；b. 以 200g 力按任意選定鍵盤上的按鍵，按壓的速度為 60 次/分，按壓 20 萬(wàn)次，在 3 萬(wàn)次，6 萬(wàn)次， 8 萬(wàn)次，9 萬(wàn)次和 10 萬(wàn)次、13 萬(wàn)次、16 萬(wàn)次、19 萬(wàn)次、20 萬(wàn)次時(shí)分別檢查手機(jī)外觀和功能是否正常；側(cè)鍵每隔 1 萬(wàn)次，進(jìn)行手機(jī)外觀和功能檢查；c. 人造手指與樣機(jī)按鍵的距離為 2mm；d. 每臺(tái)樣機(jī)按鍵選擇盡量不重復(fù)，盡可能多； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：按鍵彈性，殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，以及與測(cè)試前不一致的現(xiàn)象；c. 備注：實(shí)驗(yàn)中被測(cè)試樣機(jī)的按鍵選擇應(yīng)根據(jù)不同機(jī)型進(jìn)行確定，并參考工程師的建議；第 20 頁(yè) 共 58 頁(yè)d. 外觀無(wú)異常；正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件 微動(dòng)開(kāi)關(guān)（hold 鍵等）壽命測(cè)試 測(cè)試目的：驗(yàn)證樣機(jī)微動(dòng)開(kāi)關(guān)的可靠性； 測(cè)試條件：2 萬(wàn)次； 測(cè)試設(shè)備：手工測(cè)試（有設(shè)備用設(shè)備測(cè)試）； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、機(jī)構(gòu)和功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：手機(jī)為開(kāi)機(jī)狀態(tài)，用手來(lái)回?fù)軇?dòng)微動(dòng)開(kāi)關(guān)，來(lái)回一個(gè)回合算一次，共做 20000 次，速度為 60 次/分，檢查手機(jī)外觀和功能是否正常； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：微動(dòng)開(kāi)關(guān)滑動(dòng)正常，殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，以及與測(cè)試前不一致的現(xiàn)象； 耳機(jī)（單功能）插拔測(cè)試 測(cè)試目的：驗(yàn)證耳機(jī)插拔壽命的可靠性； 測(cè)試條件：2000 次；20 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：手工測(cè)試； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢測(cè)，耳機(jī)插入拔出配合，耳機(jī)功能以及Jack 外觀檢查； 測(cè)試方法：a. 手機(jī)為開(kāi)機(jī)狀態(tài)；b. 耳機(jī)插入樣機(jī)的耳機(jī)孔時(shí)不會(huì)松動(dòng)（耳機(jī)可以承受得住樣機(jī)本身的重量）；c. 插入耳機(jī)手機(jī)顯示耳機(jī)圖標(biāo)到拔出耳機(jī)手機(jī)顯示耳機(jī)圖標(biāo)消失為一個(gè)循環(huán)，重復(fù) 2000 個(gè)循環(huán)；d. 手工插拔 2000 次，每一次都要觀察手機(jī)顯示狀況，插拔完成后對(duì)樣機(jī)及耳機(jī)進(jìn)行結(jié)構(gòu)、功能、外觀檢查；e. 插拔速率：20 次/分鐘； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： 樣機(jī)及耳機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能無(wú)異常；a. 功能檢查：撥打電話，使用耳機(jī)通話時(shí)，耳機(jī)的受話器及 MIC 功能正常，無(wú)斷音、雜音（通話過(guò)程中轉(zhuǎn)動(dòng)耳機(jī)插頭，確保耳機(jī)在不同角度下使用功能正常）；拔下耳機(jī)后通話，樣機(jī)的受話器及 MIC 功能正常，無(wú)斷音、雜音；顯示，鈴聲，振動(dòng)，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：樣機(jī)結(jié)構(gòu)無(wú)異常；耳機(jī)插頭無(wú)焊接故障、裂紋；耳機(jī)卡鉤無(wú)破損、斷裂；耳機(jī)孔無(wú)破裂、變形、焊盤無(wú)脫落；耳機(jī)壓頭無(wú)脫落。10 次/min； 測(cè)試設(shè)備：手工插拔； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測(cè)，充電器 I/O 口外觀，功能檢測(cè)； 測(cè)試方法：a. 將樣機(jī)設(shè)置為為開(kāi)機(jī)狀態(tài)；b. 插上手機(jī)顯示有“插入功能”到拔出手機(jī)顯示 “插入功能”消失為一個(gè)循環(huán)，重復(fù) 2000/1500 個(gè)循環(huán)；c. 單功能充電器連接器：進(jìn)行 2000 次的手工插拔，每一次都要觀察手機(jī)顯示狀況；插拔完成后對(duì)樣機(jī)進(jìn)行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢查；d. 2 合 1 充電器連接器：進(jìn)行充電器 2000 次的手工插拔，耳機(jī)（或數(shù)據(jù)線）各 1500 次；每一次都要觀察手機(jī)顯示狀況；插拔完成后對(duì)樣機(jī)進(jìn)行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢查；e. 3 合 1 充電器連接器：進(jìn)行充電器 2000 次、耳機(jī)和數(shù)據(jù)線各 1500 次的手工插拔，每一次都要觀察手機(jī)顯示狀況；插拔完成后對(duì)樣機(jī)進(jìn)行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢查；f. 插拔速率：20177。充電器插頭無(wú)磨損、焊接故障、裂紋；I/O 接口無(wú)磨損、破裂、變形；焊盤無(wú)脫落；充電器插頭彈性正常、無(wú)脫落。10 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：人工測(cè)試； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：a. 功能測(cè)試：開(kāi)關(guān)機(jī)是否正常；b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試：拆裝是否順暢（電池卡扣，電池觸片、連接器等）； 測(cè)試方法：a. 將電池/電池蓋拆下，再裝上為 1 次，反復(fù)拆裝 2000 次； b. 進(jìn)行到 1000 次， 查樣品各功能及結(jié)構(gòu)是否正常； c. 如果樣品是內(nèi)置電池的形式，對(duì)于電池和電池蓋都要做測(cè)試；d. 拆裝速率：20177。電池卡扣功能正常，無(wú)變形，無(wú)磨損，有彈力。10 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：手工測(cè)試； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：a. 功能測(cè)試：樣機(jī)正常開(kāi)機(jī)，正常讀取 SIM 卡信息；b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試：SIM 卡鎖，卡座，SIM 卡彈片等正常； 測(cè)試方法：a. 樣機(jī)關(guān)機(jī)狀態(tài)，進(jìn)行 SIM 卡拆裝測(cè)試，反復(fù)拆裝 2000 次（插上 SIM 卡，取下 SIM 卡，記錄為 1 次）； b. 測(cè)試前 SIM 卡必須是標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試用 SIM 卡。10 次/分； 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：a. 功能檢查：樣機(jī)開(kāi)機(jī)正常，讀取 SIM 卡信息無(wú)異常；可以撥打 112；b. 結(jié)構(gòu)檢查：SIM 卡鎖無(wú)破損、磨損、變形，SIM 卡彈片無(wú)破損、凹陷、變形等； 存儲(chǔ)卡拆裝測(cè)試質(zhì)量體系文件 測(cè)試目的：驗(yàn)證存儲(chǔ)卡（TFLASH 卡、mini SD 卡、SD 卡等）拆裝測(cè)試結(jié)構(gòu)的可靠性； 測(cè)試條件：2000 次；20~60 次/min； 測(cè)試數(shù)量：2pcs； 測(cè)試設(shè)備：手工測(cè)試（雙頭筆插拔試驗(yàn)機(jī)）； 測(cè)試前檢查項(xiàng)目：a. 功能測(cè)試：樣機(jī)正常開(kāi)機(jī)，正常讀取存儲(chǔ)卡信息；b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試：存儲(chǔ)卡鎖，卡座，存儲(chǔ)卡彈片等正常； 測(cè)試方法：a. 樣機(jī)不能用設(shè)備自動(dòng)測(cè)試時(shí)，手工插拔 2000 次對(duì)樣機(jī)功能、結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢查；手機(jī)能開(kāi)機(jī)，能用設(shè)備進(jìn)行存儲(chǔ)卡拆裝測(cè)試時(shí)，用設(shè)備插拔 2000 次（插上存儲(chǔ)卡，取下存儲(chǔ)卡，記錄為 1 次）；b. 測(cè)試前存儲(chǔ)卡必須是標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試