【正文】 10 次/分； 檢驗標準：a. 功能檢查：樣機開機正常，讀取 SIM 卡信息無異常；可以撥打 112；b. 結構檢查：SIM 卡鎖無破損、磨損、變形，SIM 卡彈片無破損、凹陷、變形等； 存儲卡拆裝測試質量體系文件 測試目的：驗證存儲卡（TFLASH 卡、mini SD 卡、SD 卡等）拆裝測試結構的可靠性； 測試條件：2000 次；20~60 次/min； 測試數(shù)量：2pcs； 測試設備：手工測試（雙頭筆插拔試驗機）； 測試前檢查項目：a. 功能測試：樣機正常開機，正常讀取存儲卡信息；b. 結構測試：存儲卡鎖，卡座，存儲卡彈片等正常； 測試方法：a. 樣機不能用設備自動測試時，手工插拔 2000 次對樣機功能、結構進行檢查；手機能開機，能用設備進行存儲卡拆裝測試時，用設備插拔 2000 次（插上存儲卡，取下存儲卡，記錄為 1 次）；b. 測試前存儲卡必須是標準的測試用存儲卡。電池卡扣功能正常，無變形，無磨損，有彈力。充電器插頭無磨損、焊接故障、裂紋；I/O 接口無磨損、破裂、變形；焊盤無脫落；充電器插頭彈性正常、無脫落。20g；60 次/min； 測試數(shù)量：2pcs； 測試設備：按鍵測試儀； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、結構和功能檢測； 測試方法：a. 將手機不包裝不開機固定在測試設備上；b. 以 200g 力按任意選定鍵盤上的按鍵，按壓的速度為 60 次/分，按壓 20 萬次，在 3 萬次，6 萬次， 8 萬次，9 萬次和 10 萬次、13 萬次、16 萬次、19 萬次、20 萬次時分別檢查手機外觀和功能是否正常；側鍵每隔 1 萬次，進行手機外觀和功能檢查；c. 人造手指與樣機按鍵的距離為 2mm；d. 每臺樣機按鍵選擇盡量不重復，盡可能多； 檢驗標準：a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結構檢查：按鍵彈性，殼體配合，結構件配合，以及與測試前不一致的現(xiàn)象；c. 備注：實驗中被測試樣機的按鍵選擇應根據(jù)不同機型進行確定，并參考工程師的建議；第 20 頁 共 58 頁d. 外觀無異常；正氣、進取、專業(yè) 質量體系文件 微動開關（hold 鍵等）壽命測試 測試目的：驗證樣機微動開關的可靠性； 測試條件：2 萬次； 測試設備：手工測試（有設備用設備測試）； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、機構和功能檢測； 測試方法：手機為開機狀態(tài)，用手來回撥動微動開關，來回一個回合算一次，共做 20000 次，速度為 60 次/分，檢查手機外觀和功能是否正常； 檢驗標準：a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結構檢查：微動開關滑動正常，殼體配合，結構件配合，以及與測試前不一致的現(xiàn)象； 耳機（單功能）插拔測試 測試目的：驗證耳機插拔壽命的可靠性； 測試條件：2000 次；20 次/min； 測試數(shù)量：2pcs； 測試設備：手工測試； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、結構和功能檢測，耳機插入拔出配合，耳機功能以及Jack 外觀檢查； 測試方法：a. 手機為開機狀態(tài)；b. 耳機插入樣機的耳機孔時不會松動（耳機可以承受得住樣機本身的重量）；c. 插入耳機手機顯示耳機圖標到拔出耳機手機顯示耳機圖標消失為一個循環(huán)，重復 2000 個循環(huán)；d. 手工插拔 2000 次，每一次都要觀察手機顯示狀況，插拔完成后對樣機及耳機進行結構、功能、外觀檢查；e. 插拔速率：20 次/分鐘； 檢驗標準： 樣機及耳機外觀，結構和功能無異常；a. 功能檢查：撥打電話，使用耳機通話時，耳機的受話器及 MIC 功能正常，無斷音、雜音（通話過程中轉動耳機插頭，確保耳機在不同角度下使用功能正常）；拔下耳機后通話，樣機的受話器及 MIC 功能正常，無斷音、雜音；顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結構檢查：樣機結構無異常；耳機插頭無焊接故障、裂紋；耳機卡鉤無破損、斷裂；耳機孔無破裂、變形、焊盤無脫落；耳機壓頭無脫落。2℃；鹽水濃度：5%（PH 值：~），持續(xù)時間：72hrs； 測試數(shù)量：2pcs； 測試設備：鹽霧試驗箱； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、結構、功能檢測； 測試方法：a. 打開電源和氣閥，鹽水噴霧機溫度設定為：35 ℃，壓力桶溫度：47℃，壓力控制在 1kg/cm2，鹽水濃度：5% （PH 值：）, 共三個噴霧周期，每次噴霧 2h，每次噴霧后有一個為期 22h 的濕熱儲存周期。轉軸無異響，彈性正常，開合角度無變化，無松動或變緊；殼體無變形，配合縫隙無變大；殼體無裂紋、斷裂；按鍵無翹起、脫出、脫落；lens 無翹起、脫落；裝飾件無翹起、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣機外觀無異常。 測試方法:a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4。12cycles 。2℃，95%RH（+2%~3%RH）；持續(xù)時間：48hrs； 測試數(shù)量：8pcs（試驗后 RF 測試 2pcs）； 測試設備：恒溫恒濕箱，CMU200/CMD5延長射頻線，穩(wěn)壓電源等； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、結構、功能檢測及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機裝上帶滿電電池，不插測試卡，設置為關機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入恒溫恒濕箱內，手機間的距離大于等于 10cm，調節(jié)溫度控制器到+40℃，濕度控制為 95%RH；c. 持續(xù) 48 個小時之后，取出手機，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行外觀、結構、功能檢查，并使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與 CMU/CMD 連接并進行通話，在電壓設置為 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標測試規(guī)范）；d. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置； 檢驗標準：手機外觀，結構和功能無異常；RF 參數(shù)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；第 13 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 質量體系文件b. 結構檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體、lens 表面無明顯掉漆，無裂紋，破損，沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內存，時鐘無異常（內存無丟失；時鐘無混亂，復位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標測試規(guī)范（TDMA 制式））； 溫度沖擊測試 測試目的：驗證樣機高低溫沖擊下的材料性能，結構配合，裝配、制成工藝等可靠性及傳導的射頻性能。 正弦波；啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z 六個軸向各沖擊 1000 次，每個軸向沖擊后都要對手機進行外觀、結構、功能檢查；c. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用射頻線與 CMU/CMD 連接并進行通話，在電壓設置為 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標測試規(guī)范）； 檢驗標準：外觀、功能、結構正常；RF 參數(shù)指標符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結構檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 內存檢查：樣品內存，時鐘無異常（內存無丟失；時鐘無混亂，復位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標測試規(guī)范（TDMA 制式））； 低頻振動測試 測試目的：用于驗證手機的抗振性能； 測試條件：5~20Hz，位移：5mm，X、Y、Z 三個軸各 1h； 測試數(shù)量：8pcs； 測試設備：電動振動系統(tǒng)； 測試前檢查項目：對手機進行全面外觀、結構、功能檢測； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設置手機時鐘為當前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊。2)℃,相對濕度為 90％～95％翻蓋標準：由 5W 次更新為 8W 次 滑蓋標準：由 5W 次更新為 8W 次 按鍵壽命：由 10W 次改為 20W 次 微動開關（hold 鍵）壽命：由 1W 次改為 2W 次 充電器插拔測試條件改為：3 合一的充電器，充電器插拔 2000次，數(shù)據(jù)線和耳機各 1500 次，共 5000 次電池蓋拆裝：由 1000 次改為 500 次 存儲卡拆裝：由 2000 次改為 500 次 SIM 卡拆裝：由 1000 次改為 500 次 觸摸屏點擊測試：測試速率由 2 次/S，改為 1 次/S五向鍵壽命：由 3W 次改為 5W 次 重復跌落：跌落高度統(tǒng)一為 8cm，跌落次數(shù)由 20000 次改為10000 次 摩擦測試：棱摩擦標準由 150 圈改為 100 圈；橡膠漆測試標準由 140 圈改為 70 圈百格：膠帶的粘貼次數(shù)由 2 次改為 3 次 鉛筆硬度：載荷由 1Kg 改為 滾筒：測試次數(shù)由 1000 次改為 500 次 軟壓：測試標準由 3000 次改為 2000 次扭曲：測試標準由 1000 次改為 500 次 增加人工汗液測試項第 3 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 質量體系文件 程雷更新1. 增加包裝重量和跌落高度的對應關系表2. 增加包裝跌落測試手法,包括跌落棱/角/面的規(guī)定鹽霧實驗的樣機測試后干燥條件改為:用吹風機吹干表面殘留液體后放置與通風干燥處干燥 48H修正筆誤： 溫度沖擊測試（P10）: 一處寫 12cycles，一處寫循環(huán) 4次，前后不一致 滑蓋壽命測試（P15）： 以 40～45 次/分的速率滑蓋 5 萬次 ＝ 應該是 8 萬次 五向鍵壽命測試（P23）: 40000 萬次、50000 萬次 兩處筆誤 沖擊測試（P7）：脈沖持續(xù)時間 18ms＝ 應該是 6ms X,Y,Z 六個軸向＝ 應該是 X,Y,Z 三個軸向 人工汗測試（P14）：PH 值=＝ 應該是 PH 值=電池/電池蓋拆裝：由 500 次改為 2000 次增加低頻振動測試：位移參數(shù)量：5mm取消 其它測試（電池充放電測試和電池內阻測試）( 和 )取消測試條件及方法，增添指向殼體可靠性測試規(guī)范（QZ/LCTZC162009）第 4 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 質量體系文件 陳貫中 更新 USB 推力測試 USB 外部逆插要求 卡壽命測試由 500 增加到 2000 500 增加到 2000、底部的測試（PH=） Mic 和 Receiver 的壽命測試（天線）的拉力測試（可選測試項）第 5 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 目 錄質量體系文件目的 .................................................................................. 9適用范圍 .............................................................................. 9定義 .................................................................................. 9職責 .................................................................................. 9 可靠性試驗測試方法和判定標準 ..........................................