【文章內(nèi)容簡介】 查；d. 測試時間以試驗箱達(dá)到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將第 9 頁 共 58 頁一半樣品滑開到上限位置；正氣、進取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）； 低溫運行測試 測試目的：驗證樣機低溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能； 測試條件：溫度：20℃177。2℃；持續(xù)時間：4hrs； 測試數(shù)量：4pcs （試驗中 RF 測試 2pcs）； 測試設(shè)備：高低溫箱，CMU200/CMD55，延長射頻線，穩(wěn)壓電源等； 測試前檢查項目：對手機進行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能、RF 參數(shù)檢測；a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀； 測試方法a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 手機帶滿電電池并插卡（測試 RF 參數(shù)時取下 SIM Card），設(shè)置為開機狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到20℃，并將所測樣機同 CMU200/CMD55 和電源連接好；c. 持續(xù) 1 小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與 CMU200/CMD55 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為 和 的情況下進行 RF 參數(shù)測試；并保存測試數(shù)據(jù)（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 持續(xù) 4 個小時之后，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 測試時間以試驗箱達(dá)到所需溫度條件時開始計算；f. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式）；第 10 頁 共 58 頁 沖擊測試正氣、進取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件 測試目的：用于驗證手機的抗沖擊性能及射頻參數(shù)指標(biāo)； 測試條件：加速度 25g，脈沖持續(xù)時間 6 ms ；波形: 189。 正弦波；X、Y、Z 三個軸向各沖擊1000 次； 測試數(shù)量：8pcs（試驗后 RF 測試 2pcs）； 測試設(shè)備：電動振動系統(tǒng)； 測試前檢查項目：對手機進行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能和及不同功率等級、不同信道的射頻參數(shù)； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊；參數(shù)設(shè)置：加速度 25 g，脈沖持續(xù)時間 6 ms ；波形: 189。 正弦波；啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z 六個軸向各沖擊 1000 次，每個軸向沖擊后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；c. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用射頻線與 CMU/CMD 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：外觀、功能、結(jié)構(gòu)正常；RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 內(nèi)存檢查：樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式））； 低頻振動測試 測試目的：用于驗證手機的抗振性能； 測試條件：5~20Hz，位移：5mm，X、Y、Z 三個軸各 1h； 測試數(shù)量：8pcs； 測試設(shè)備：電動振動系統(tǒng)； 測試前檢查項目：對手機進行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊。將振動參數(shù)設(shè)置為 5~20Hz；c. 啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z 三個軸向分別進行 1 小時測試，每個軸向振動后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)： 外觀、結(jié)構(gòu)、功能無異常；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，第 11 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）； 高溫儲存測試 測試目的：手機高溫環(huán)境下的適應(yīng)性； 測試條件：溫度：+70℃177。2℃；持續(xù)時間：16hrs； 測試數(shù)量：4pcs； 測試設(shè)備：高低溫箱； 測試前檢查項目：對手機進行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢測； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+70℃； c. 持續(xù) 16 個小時之后，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查；d. 測試時間以試驗箱達(dá)到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）； 高溫運行測試 測試目的：驗證樣機高溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能； 測試條件：溫度：+55℃177。2℃；持續(xù)時間：4hrs； 測試數(shù)量：4pcs（試驗中 RF 測試 2pcs）； 測試設(shè)備：高低溫箱，CMU200/CMD55,延長射頻線，穩(wěn)壓電源等； 測試前檢查項目：a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；第 12 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件b. 手機帶滿電電池并插卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+55℃，持續(xù) 1 小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與 CMU 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為 和 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；c. 持續(xù) 4 個小時之后，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行功能、結(jié)構(gòu)、外觀檢查；d. 測試時間以試驗箱達(dá)到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；RF 參數(shù)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式））； 恒溫恒濕測試 測試目的：驗證手機高溫高濕環(huán)境下的適應(yīng)性及傳導(dǎo)的射頻性能； 測試條件：+40℃177。2℃，95%RH（+2%~3%RH）；持續(xù)時間：48hrs； 測試數(shù)量：8pcs（試驗后 RF 測試 2pcs）； 測試設(shè)備：恒溫恒濕箱，CMU200/CMD5延長射頻線，穩(wěn)壓電源等； 測試前檢查項目：手機進行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)； 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機裝上帶滿電電池，不插測試卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入恒溫恒濕箱內(nèi)，手機間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+40℃，濕度控制為 95%RH；c. 持續(xù) 48 個小時之后，取出手機，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查，并使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與 CMU/CMD 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 測試時間以試驗箱達(dá)到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置； 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能無異常；RF 參數(shù)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；第 13 頁 共 58 頁正氣、進取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體、lens 表面無明顯掉漆，無裂紋，破損，沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式））； 溫度沖擊測試 測試目的：驗證樣機高低溫沖擊下的材料性能，結(jié)構(gòu)配合，裝配、制成工藝等可靠性及傳導(dǎo)的射頻性能。 測試條件：低溫40℃177。2℃/1h，高溫+80℃177。2℃/1h；轉(zhuǎn)換時間=5min。12cycles 。 測試數(shù)量：8pcs（試驗后 RF 測試 2pcs）。 測試設(shè)備：溫度沖擊箱,CMU200/CMD55，射頻參數(shù)，穩(wěn)壓電源等。 測試前檢查項目: 手機進行全面外觀和功能檢測及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)測試。 測試方法:a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放 MP3，MPEG4。b. 一半手機帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入低溫箱內(nèi)；手機間的距離大于等于 10cm。c. 樣機置于40℃低溫箱內(nèi)持續(xù) 1 小時后，在 5min 內(nèi)迅速移入+80℃高溫箱并持續(xù) 1 小時后，再在 5min內(nèi)迅速回到低溫箱。此為一個循環(huán)（一個循環(huán)用時 2 小時），共循環(huán) 12 次；d. 試驗結(jié)束后將樣機從高溫箱中取出，在常溫下放置 1~2 小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與 CMU200/CMD55 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為 的情況下進行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；f. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使