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正文內(nèi)容

可靠性測(cè)試規(guī)范(編輯修改稿)

2024-09-10 11:09 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 查;d. 測(cè)試時(shí)間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算;e. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使用狀態(tài);對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將第 9 頁(yè) 共 58 頁(yè)一半樣品滑開(kāi)到上限位置;正氣、進(jìn)取、專(zhuān)業(yè) 質(zhì)量體系文件 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu),功能無(wú)異常;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;b. 結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件,logo,LENS 等無(wú)開(kāi)膠以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:殼體表面無(wú)裂紋以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等); 低溫運(yùn)行測(cè)試 測(cè)試目的:驗(yàn)證樣機(jī)低溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能; 測(cè)試條件:溫度:20℃177。2℃;持續(xù)時(shí)間:4hrs; 測(cè)試數(shù)量:4pcs (試驗(yàn)中 RF 測(cè)試 2pcs); 測(cè)試設(shè)備:高低溫箱,CMU200/CMD55,延長(zhǎng)射頻線(xiàn),穩(wěn)壓電源等; 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:對(duì)手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能、RF 參數(shù)檢測(cè);a. 功能測(cè)試:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級(jí)下的射頻參數(shù);b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試:殼體配合,結(jié)構(gòu)件配合,天線(xiàn),Lens,顯示屏,裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu);c. 外觀檢測(cè):噴漆,印刷,電鍍等以及未描述到的外觀; 測(cè)試方法a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;b. 手機(jī)帶滿(mǎn)電電池并插卡(測(cè)試 RF 參數(shù)時(shí)取下 SIM Card),設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)后,放入高低溫箱內(nèi),手機(jī)間的距離大于等于 10cm,調(diào)節(jié)溫度控制器到20℃,并將所測(cè)樣機(jī)同 CMU200/CMD55 和電源連接好;c. 持續(xù) 1 小時(shí)后,使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電,用延長(zhǎng)射頻線(xiàn)與 CMU200/CMD55 連接并進(jìn)行通話(huà),在電壓設(shè)置為 和 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試;并保存測(cè)試數(shù)據(jù)(測(cè)試方法:參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范);d. 持續(xù) 4 個(gè)小時(shí)之后,在常溫下放置 1~2 小時(shí),然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查;e. 測(cè)試時(shí)間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算;f. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使用狀態(tài);對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置; 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu),功能無(wú)異常;RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;b. 結(jié)構(gòu)檢查:結(jié)構(gòu)無(wú)異常(殼體無(wú)變形、配合縫隙無(wú)變大;轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)或變緊,無(wú)異常手感等)以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:樣品外觀無(wú)異常(表面噴漆、電鍍無(wú)裂紋等)以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等);e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求(參考整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范(TDMA 制式);第 10 頁(yè) 共 58 頁(yè) 沖擊測(cè)試正氣、進(jìn)取、專(zhuān)業(yè) 質(zhì)量體系文件 測(cè)試目的:用于驗(yàn)證手機(jī)的抗沖擊性能及射頻參數(shù)指標(biāo); 測(cè)試條件:加速度 25g,脈沖持續(xù)時(shí)間 6 ms ;波形: 189。 正弦波;X、Y、Z 三個(gè)軸向各沖擊1000 次; 測(cè)試數(shù)量:8pcs(試驗(yàn)后 RF 測(cè)試 2pcs); 測(cè)試設(shè)備:電動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng); 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:對(duì)手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能和及不同功率等級(jí)、不同信道的射頻參數(shù); 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;b. 將手機(jī)裝上帶滿(mǎn)電電池,插上測(cè)試卡,設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)后,固定在振動(dòng)臺(tái)上夾緊;參數(shù)設(shè)置:加速度 25 g,脈沖持續(xù)時(shí)間 6 ms ;波形: 189。 正弦波;啟動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng),X、Y、Z 六個(gè)軸向各沖擊 1000 次,每個(gè)軸向沖擊后都要對(duì)手機(jī)進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查;c. 所有檢查完成后,使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電,用射頻線(xiàn)與 CMU/CMD 連接并進(jìn)行通話(huà),在電壓設(shè)置為 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試(測(cè)試方法:參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范); 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):外觀、功能、結(jié)構(gòu)正常;RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;b. 結(jié)構(gòu)檢查:無(wú)零件松動(dòng)、脫落,晃動(dòng)無(wú)異常以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:外觀無(wú)異常;d. 內(nèi)存檢查:樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等);e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求(參考整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范(TDMA 制式)); 低頻振動(dòng)測(cè)試 測(cè)試目的:用于驗(yàn)證手機(jī)的抗振性能; 測(cè)試條件:5~20Hz,位移:5mm,X、Y、Z 三個(gè)軸各 1h; 測(cè)試數(shù)量:8pcs; 測(cè)試設(shè)備:電動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng); 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:對(duì)手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測(cè); 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;b. 將手機(jī)裝上帶滿(mǎn)電電池,插上測(cè)試卡,設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)后,固定在振動(dòng)臺(tái)上夾緊。將振動(dòng)參數(shù)設(shè)置為 5~20Hz;c. 啟動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng),X、Y、Z 三個(gè)軸向分別進(jìn)行 1 小時(shí)測(cè)試,每個(gè)軸向振動(dòng)后都要對(duì)手機(jī)進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查; 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 外觀、結(jié)構(gòu)、功能無(wú)異常;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,第 11 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專(zhuān)業(yè) 藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查:無(wú)零件松動(dòng)、脫落,晃動(dòng)無(wú)異常以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:外觀無(wú)異常;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等); 高溫儲(chǔ)存測(cè)試 測(cè)試目的:手機(jī)高溫環(huán)境下的適應(yīng)性; 測(cè)試條件:溫度:+70℃177。2℃;持續(xù)時(shí)間:16hrs; 測(cè)試數(shù)量:4pcs; 測(cè)試設(shè)備:高低溫箱; 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:對(duì)手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢測(cè); 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;b. 一半手機(jī)帶滿(mǎn)電電池,不插卡,設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài);一半手機(jī)不放電池,放入高低溫箱內(nèi),手機(jī)間的距離大于等于 10cm,調(diào)節(jié)溫度控制器到+70℃; c. 持續(xù) 16 個(gè)小時(shí)之后,在常溫下放置 1~2 小時(shí),然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查;d. 測(cè)試時(shí)間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算;e. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使用狀態(tài);對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置; 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu),功能無(wú)異常;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;b. 結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件,logo,LENS 等無(wú)開(kāi)膠以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:殼體表面無(wú)裂紋以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等); 高溫運(yùn)行測(cè)試 測(cè)試目的:驗(yàn)證樣機(jī)高溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能; 測(cè)試條件:溫度:+55℃177。2℃;持續(xù)時(shí)間:4hrs; 測(cè)試數(shù)量:4pcs(試驗(yàn)中 RF 測(cè)試 2pcs); 測(cè)試設(shè)備:高低溫箱,CMU200/CMD55,延長(zhǎng)射頻線(xiàn),穩(wěn)壓電源等; 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:a. 功能測(cè)試:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級(jí)下的射頻參數(shù);b. 結(jié)構(gòu)測(cè)試:殼體配合,結(jié)構(gòu)件配合,天線(xiàn),Lens,顯示屏,裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu);c. 外觀檢測(cè):噴漆,印刷,電鍍等以及未描述到的外觀; 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;第 12 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專(zhuān)業(yè) 質(zhì)量體系文件b. 手機(jī)帶滿(mǎn)電電池并插卡,設(shè)置為開(kāi)機(jī)狀態(tài)后,放入高低溫箱內(nèi),手機(jī)間的距離大于等于 10cm,調(diào)節(jié)溫度控制器到+55℃,持續(xù) 1 小時(shí)后,使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電,用延長(zhǎng)射頻線(xiàn)與 CMU 連接并進(jìn)行通話(huà),在電壓設(shè)置為 和 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試(測(cè)試方法:參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范);c. 持續(xù) 4 個(gè)小時(shí)之后,在常溫下放置 1~2 小時(shí),然后進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)、外觀檢查;d. 測(cè)試時(shí)間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算;e. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使用狀態(tài);對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置; 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu),功能無(wú)異常;RF 參數(shù)符合要求;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;b. 結(jié)構(gòu)檢查:結(jié)構(gòu)無(wú)異常(殼體無(wú)變形、配合縫隙無(wú)變大;轉(zhuǎn)軸無(wú)松動(dòng)或變緊,無(wú)異常手感等)以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:樣品外觀無(wú)異常(表面噴漆、電鍍無(wú)裂紋等)以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等);e. RF 參數(shù)符合要求(參考整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范(TDMA 制式)); 恒溫恒濕測(cè)試 測(cè)試目的:驗(yàn)證手機(jī)高溫高濕環(huán)境下的適應(yīng)性及傳導(dǎo)的射頻性能; 測(cè)試條件:+40℃177。2℃,95%RH(+2%~3%RH);持續(xù)時(shí)間:48hrs; 測(cè)試數(shù)量:8pcs(試驗(yàn)后 RF 測(cè)試 2pcs); 測(cè)試設(shè)備:恒溫恒濕箱,CMU200/CMD5延長(zhǎng)射頻線(xiàn),穩(wěn)壓電源等; 測(cè)試前檢查項(xiàng)目:手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測(cè)及不同信道、不同功率等級(jí)下的射頻參數(shù); 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4;b. 一半手機(jī)裝上帶滿(mǎn)電電池,不插測(cè)試卡,設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài);一半手機(jī)不放電池,放入恒溫恒濕箱內(nèi),手機(jī)間的距離大于等于 10cm,調(diào)節(jié)溫度控制器到+40℃,濕度控制為 95%RH;c. 持續(xù) 48 個(gè)小時(shí)之后,取出手機(jī),在常溫下放置 1~2 小時(shí),然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查,并使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電,用延長(zhǎng)射頻線(xiàn)與 CMU/CMD 連接并進(jìn)行通話(huà),在電壓設(shè)置為 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試(測(cè)試方法:參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范);d. 測(cè)試時(shí)間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時(shí)開(kāi)始計(jì)算;e. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使用狀態(tài);對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置; 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu)和功能無(wú)異常;RF 參數(shù)符合要求;a. 功能檢查:撥打電話(huà),顯示,鈴聲,振動(dòng),按鍵,揚(yáng)聲器,受話(huà)器,回音,指示燈,拍照,充電,藍(lán)牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常;第 13 頁(yè) 共 58 頁(yè)正氣、進(jìn)取、專(zhuān)業(yè) 質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件,logo,LENS 等無(wú)開(kāi)膠以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;c. 外觀檢查:殼體、lens 表面無(wú)明顯掉漆,無(wú)裂紋,破損,沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;d. 樣品內(nèi)存,時(shí)鐘無(wú)異常(內(nèi)存無(wú)丟失;時(shí)鐘無(wú)混亂,復(fù)位,超前,滯后等);e. RF 參數(shù)符合要求(參考整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范(TDMA 制式)); 溫度沖擊測(cè)試 測(cè)試目的:驗(yàn)證樣機(jī)高低溫沖擊下的材料性能,結(jié)構(gòu)配合,裝配、制成工藝等可靠性及傳導(dǎo)的射頻性能。 測(cè)試條件:低溫40℃177。2℃/1h,高溫+80℃177。2℃/1h;轉(zhuǎn)換時(shí)間=5min。12cycles 。 測(cè)試數(shù)量:8pcs(試驗(yàn)后 RF 測(cè)試 2pcs)。 測(cè)試設(shè)備:溫度沖擊箱,CMU200/CMD55,射頻參數(shù),穩(wěn)壓電源等。 測(cè)試前檢查項(xiàng)目: 手機(jī)進(jìn)行全面外觀和功能檢測(cè)及不同信道、不同功率等級(jí)下的射頻參數(shù)測(cè)試。 測(cè)試方法:a. 存入 5 個(gè)電話(huà),5 條短信息,設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間;手機(jī)里存放 MP3,MPEG4。b. 一半手機(jī)帶滿(mǎn)電電池,不插卡,設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài);一半手機(jī)不放電池,放入低溫箱內(nèi);手機(jī)間的距離大于等于 10cm。c. 樣機(jī)置于40℃低溫箱內(nèi)持續(xù) 1 小時(shí)后,在 5min 內(nèi)迅速移入+80℃高溫箱并持續(xù) 1 小時(shí)后,再在 5min內(nèi)迅速回到低溫箱。此為一個(gè)循環(huán)(一個(gè)循環(huán)用時(shí) 2 小時(shí)),共循環(huán) 12 次;d. 試驗(yàn)結(jié)束后將樣機(jī)從高溫箱中取出,在常溫下放置 1~2 小時(shí),然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查;e. 所有檢查完成后,使用穩(wěn)壓電源給待測(cè)手機(jī)供電,用延長(zhǎng)射頻線(xiàn)與 CMU200/CMD55 連接并進(jìn)行通話(huà),在電壓設(shè)置為 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測(cè)試(測(cè)試方法:參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測(cè)試規(guī)范);f. 對(duì)于翻蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài),一半樣品打開(kāi)到使
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