【正文】 0 V丟失。C (測試運(yùn)行時間 15分鐘)。 加熱棒失敗。F03 Temperature176。 校正溫度。 確認(rèn) (T_DIAL1, X633L/B16) → X632/A24, 電壓卡住。 確認(rèn) (T_DIAL1, X633L/B16) → X632/A24在穩(wěn)定的改變(改變 176。F05 Temperature正向去諧沒有高于3 176。 確認(rèn) (T_DIAL1, X633L/B16) → X632/A24, 改變電壓不足。F06 Temperature監(jiān)視傳感器指示一個常量值。F07 Temperature測試版本丟失(最大測試運(yùn)行時間是10分鐘)。F08 TemperatureCPU1在3秒鐘之內(nèi)傳送干粉狀態(tài)失敗。F09 Temperature干粉 NTC_BIB去諧沒高于1 176。 . LP633 上的 (NTC_BIB, X633R/C15) → ADW改變電壓不足。F10 Temperature干粉溫度顯示在測量范圍之外(15 176。C)。F95 Temperature系統(tǒng)錯誤。(三分鐘之內(nèi)變化 ＜40mmHg)圖解:錯誤信息描述F01 neg. Pressure在開始階段產(chǎn)生了一個大于450mmHg的負(fù)壓(最大測試運(yùn)行時間120秒)。 空氣分離泵開始運(yùn)行。經(jīng)過重復(fù)測量, 范圍從 –260 mmHg擴(kuò)大到490 mmHg。 超濾泵損壞。F03 neg. Pressure微分放大器的工作點(diǎn)(116位)不能被正確設(shè)置(最大測試運(yùn)行時間120秒)。 . LP632板上的DA轉(zhuǎn)換器 (IC11) 損壞。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29損壞。F04 neg. Pressure不能完成壓力測試(最大測試運(yùn)行時間120秒)。 . LP632板上的運(yùn)算放大器 (IC1/IC3) 損壞 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29損壞。 確認(rèn) (ACKN_ASP, X634L/B10) → X632/A19, 0 V丟失。F06 neg. Pressure負(fù)壓保持未能通過測試。40 mmHg(相關(guān)的10個平衡腔的開關(guān))。F07 neg. Pressure識別不出當(dāng)前增加的脈沖(最小 2x)。F95 neg. Pressure系統(tǒng)錯誤。 也就是V24, V24B是關(guān)閉的, V26是打開的。通過正向電子方式去諧測試TMP單元。在定義的時間段之內(nèi)監(jiān)視透析液壓力傳感器的實(shí)際值。圖解:錯誤信息描述F01 pos. PressureCPU1強(qiáng)制啟動程序未完成 (10秒)。F02 pos. Pressure不能通過水路系統(tǒng)中的V26電磁閥測量加載壓(PDial. 600 mmHg, 15 秒)。 電磁閥V43機(jī)械沒有關(guān)閉。V24, V24B和 V43 關(guān)閉。F03 pos. Pressure水路系統(tǒng)無法通過電磁閥V43將氣體除去。 電磁閥V26機(jī)械沒有關(guān)閉。 零點(diǎn)超出 –125 到 55 mmHg的范圍。V24, V24B和V26 關(guān)閉。F04 pos. Pressure微分放大器的第一個工作點(diǎn) (220 digits) 不能被設(shè)定。 . LP 632上的DA轉(zhuǎn)換器 (IC11) 損壞。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29損壞。 . LP 632上的運(yùn)算放大器 (IC2) 損壞。 去諧損壞 (P_DETADJ, X632/C20) → X633R/C22。F06 pos. Pressure在測試范圍內(nèi)的測試去諧改變量低于85 mmHg (60秒)。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29電壓的該變量不足。 V26泄漏。9 mmHg)。 運(yùn)算放大器IC1/IC3損壞。F08 pos. Pressure在測試范圍內(nèi)的測試去諧改變量超過400 mmHg (20秒)。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29電壓改變量過大。F09 pos. Pressure在測試范圍內(nèi)的測試去諧改變量低于350 mmHg (20秒)。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29電壓改變量不足。F10 pos. Pressure運(yùn)算放大器的第二工作點(diǎn) (116 位) 不能被正確地設(shè)定。 . LP 632上的運(yùn)算放大器 (IC1/IC3) 損壞。(零點(diǎn)在15秒之內(nèi)改變了177。 平衡腔閥V36或V38 (舊水閥) 泄漏。V43, V24B和V26關(guān)閉。F12 pos. Pressure不能通過水路系統(tǒng)中的V24和V24B測量加載壓(PDial. 600 mmHg, 15 秒)。在此測試序列中平衡腔切換到通路。 V24和V24B打開。(PDial. 不等于 –125 到 55 mmHg, 20 秒)。 V43既沒有被電子打開也沒有被機(jī)械打開。V24和V26關(guān)閉。F14 pos. Pressure在關(guān)閉電磁閥V43 (20秒) 之后零點(diǎn)改變。HDF選項(xiàng): PDial. 不等于 –125到60 mmHg。在此測試序列中平衡腔切換到通路。 V24B打開。30 mmHg (10 秒)。F16 pos. Pressure在開始階段, 壓力降到620 mmHg以下(測量容差: 177。 在水路系統(tǒng)中有重大泄漏。 加載壓過低。 除氣閥(V78)泄漏。30 mmHg, 測試運(yùn)行時間 120 秒)。 超濾泵損壞。(測試運(yùn)行時間120秒) 系統(tǒng)中的壓力變化過大。 . LP 632上的DA轉(zhuǎn)換器 (IC11) 損壞。F20 pos. Pressure未能通過正壓保持測試。80 mmHg/分鐘 的壓力降低。 超濾泵彈簧損壞。 除氣閥(V78)泄漏。F21 pos. Pressure透析液壓力不能被設(shè)定到460 mmHg和760 mmHg 177。 熱交換器損壞。F22 pos. Pressure在測試階段 (2秒) 空氣分離泵不運(yùn)行。 控制線 (AIR_SEP–, X634L/C22) → ASP/..., 0 V丟失。F23 pos. Pressure在測量階段水路系統(tǒng)中有壓力下降 (8秒)。 空氣分離泵泵部分泄漏。 確認(rèn) (P_DIAL, X633L/B6) → X632/A29電壓改變量過大。 確認(rèn) (V24, X637/C1) → X632/A4, 24 V丟失。 V24和V24B的控制信號顛倒。 如果跳過HDF濾器(濾芯): 夾緊HDF濾芯。 V24卡住 (機(jī)械打開)。 V26泄漏。 V24卡住 (機(jī)械打開)。 V189 (滯留物閥)泄漏。 空氣分離泵管路部分堵塞。 空氣分離泵沒有運(yùn)行(電子或機(jī)械)。F95 pos. Pressure系統(tǒng)錯誤。CPU2檢查超濾泵。檢查超濾泵計(jì)數(shù)器。CPU2檢測超濾泵2的水路和電路功能。檢查超濾泵計(jì)數(shù)器。由于過短的返回, 沒有保證正確的容量發(fā)送。F02 UFFunction超濾泵1的脈沖時間短于180 ms。 . LP 634上的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器 (IC42/R82/C47) 損壞。不可能達(dá)到最大泵率5000 ml/h。F04 UFFunction在測試期間超濾泵1沒有活動 (5秒)。 控制線 (UF_P1, X634L/ABC23) → X637/B23沒有低脈沖。 控制線 (UF_P_EN, X632/C28) → X634R/A22, 5 V丟失。F06 UFFunctionCPU1確認(rèn)超濾泵損壞。F07 UFFunction一沖程之后壓強(qiáng)的改變低于20 mmHg。 控制線 (UF_P1_CTL, X632/C27) → X634R/A24沒有低脈沖。 超濾壓力傳感器損壞。 . LP 632上的運(yùn)算放大器 (IC1/IC3)損壞。由于過短的返回, 沒有保證正確的容量發(fā)送。F12 UFFunction超濾泵2的脈沖時間短于180 ms。 . LP 634上的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器 (IC42/R65/C45) 損壞。不可能達(dá)到最大泵率5000 ml/h。F14 UFFunction在測試期間超濾泵2沒有活動 (4秒)。 控制線 (UF_P2, X634L/ABC24) → X637/B26沒有低脈沖。 控制線 (UF_P_EN, X632/C28) → X634R/A22, 5 V丟失。F16 UFFunctionCPU1確認(rèn)超濾泵損壞。F17 UFFunction一個超濾泵2的沖程之后壓強(qiáng)的改變低于20 mmHg。 控制線 (UF_P2_CTL, X632/B24) → X634R/C11沒有高脈沖。 超濾泵1或超濾泵2的沖程容積失調(diào)。Conductivity test 電導(dǎo)度測試通過 +5% 或 5% 電子去諧電導(dǎo)度測試警報范圍。 mS/10 秒)。 確認(rèn) (COND_SIG, X633L/B8) → X632/A22電壓超出測量范圍或不穩(wěn)定。 確認(rèn) (COND_SIG, X633L/B8) → X632/A22不足。F03 Conductivity mS (10 秒)。 去諧 (COND_DET, X632/A21) → X633L/B31不足。 電導(dǎo)度傳感器損壞。 運(yùn)行時間問題(軟件)。 . LP633上的 (COND_SIGNAL3, X633R/A12) → MP TP3, 電壓的改變量不足。F07 Conductivity干粉電導(dǎo)率顯示超出測量范圍 (46～84 mS/cm)。 電導(dǎo)率超出預(yù)計(jì)的去諧范圍是由錯誤的插入B液或溫度過低引起的。(當(dāng)電導(dǎo)率40mS/cm無補(bǔ)償) 去諧 (HOT_RINSE, X634R/C24 → X633R/A16) 不是12V。F95 Conductivity系統(tǒng)錯誤。圖解:錯誤信息描述F02 DiasafeCPU1不能停止平衡腔 (24秒)。 當(dāng)前提升的脈沖丟失 (CI, X634R/A23) → X633L/C31, 沒有5V脈沖。 當(dāng)前提升的脈沖丟失 (CI, X634R/A23) → X633L/C31, 沒有5V脈沖。 細(xì)菌過濾器閥門沒有打開, 控制線 (V_DSAFE, X632/B5) → X637/C16, 0 V丟失。 細(xì)菌過濾器膜 和/或 過濾器殼有重大泄漏。 V26電子或機(jī)械沒有關(guān)閉。 細(xì)菌過濾器被污染。 V112電子或機(jī)械沒有打開。已超出最大測試時間 (最大測試時間5分鐘)。 過濾器上的O型密封圈組有泄漏。F10 Diasafe測試中要達(dá)到的負(fù)壓在5分鐘的最大測試時間保持失敗。 mmHg/分)。 過濾器上的O型密封圈組有泄漏。 V26電子或機(jī)械沒有關(guān)閉。 流量問題。F95 Diasafe系統(tǒng)錯誤。 CPU2：DIP 開關(guān)組2, 開關(guān)1沒有設(shè)置為 ON。 從CPU1到CPU2經(jīng)由串行端口傳遞的信息丟失。F04 HDFFilterCPU1在20秒內(nèi)完成平衡腔轉(zhuǎn)換失敗 (30 ml液體沒有被移除)。 驗(yàn)證當(dāng)前的提升脈沖。 HDF 過濾器 卡住/堵塞。F07 HDFFilter在255 ml + 60 ml 的最大體積液體被移除后, 構(gòu)建預(yù)計(jì) 220mmHg 一直到 370 mmHg 的負(fù)壓失敗。 在過濾器上的O型密封圈組有重大泄漏。F08 HDFFilter在255 ml – 60 ml的最小液體被移除完成之前, 產(chǎn)生一個小于 220 mmHg的負(fù)壓。 在開始測試的時候Diasafe/HDF過濾器沒有被正確排氣。F09 HDFFilter不能設(shè)置壓力測量零點(diǎn)。 細(xì)菌過濾器膜 和/或 過濾器殼有泄漏。F10 HDFFilter測試中達(dá)到的負(fù)壓在10分鐘的最大測試時間內(nèi)保持失敗(改變量 177。 過濾器上的O型密封圈組有泄漏。 V26電子或機(jī)械沒有關(guān)閉。 流量問題。F21 HDFFilter在5分鐘之內(nèi)不能正確的給HDF過濾器 沖洗/排氣(測試之前)。 沒有電導(dǎo)率。 HDF泵不運(yùn)行(例如開放)。 管徑?jīng)]有設(shè)置為8 mm。 V43上的濾網(wǎng)堵塞。 流量問題。 電導(dǎo)率上限和下限超出讀數(shù)范圍。 HDF泵不運(yùn)行(例如開放)。 管徑?jīng)]有設(shè)置為8 mm。 V43上的濾網(wǎng)堵塞。Te