pcb設(shè)計(jì)規(guī)范——生產(chǎn)可測性要求(doc)-生產(chǎn)運(yùn)作-閱讀頁
2024-09-07 01:27本頁面
【正文】 行設(shè)計(jì)。測試點(diǎn)的大小間距按照上面的規(guī)定執(zhí)行。 避 免 使 用 推 薦 使 用 圖 7 共用電路器件 盡量選擇具有邊界掃描測試 BST（ Boundary Scan Test , BST）的 IC，并在使用中滿足以下要求： a） 如果單板上有兩個(gè)或兩個(gè)以上的邊界掃描芯片，必須形成一個(gè)單一的邊界掃描鏈。所有芯片的 TCK、 TMS、 TRST（若有的話）連在一起； b） 第一塊芯片的 TDO 連第二塊的 TDI，依次類推，直至最后一片； c） 如圖 8 所示 CTDI、 CTCK、 CTMS、 CTRST 網(wǎng)絡(luò)上均接有上拉或下拉電阻，避免引腳懸空，典 型電阻值取 1KΩ； d） 在如圖標(biāo)有 處，均須設(shè)置測試點(diǎn)； OE OE OE OE 5 圖 8 邊界掃描芯片測試點(diǎn) e） 在兩個(gè)有邊界掃描功能的芯片之間存在一些非邊界掃描芯片，如果這些非邊界掃描芯片的邏輯不復(fù)雜，（例如， 74 系列的中小規(guī)模邏輯芯片）那么這些與邊界掃描芯片相連的非邊界掃描芯片的引腳可以不加測試點(diǎn)。 5 功能測試方面的可測性設(shè)計(jì)要求 對于具有 CPU 系統(tǒng)的單板，在連接器的插針上引出通訊接口（如： 8031系統(tǒng)中可將串行口接出）。 連接器上的輸出插針應(yīng)具有足夠的驅(qū)動能力（扇出降額），以便驅(qū)動測試板。 單板設(shè)計(jì)應(yīng)盡量滿足帶電插拔要求。 單板版本升級時(shí)盡量不改變硬件接口。 單板軟件應(yīng)對所有能進(jìn)行自檢的芯片進(jìn)行自檢測試。 單板應(yīng)可以由外部設(shè)備通過通訊口按一定的通訊協(xié)議實(shí)現(xiàn)該單板的所有功能配置。
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