aspc應(yīng)用工具控制圖-在線瀏覽
2025-04-06 13:18本頁(yè)面
【正文】 a) P控制圖 不良率控制圖 b) Pn控制圖 不良品數(shù)控制圖 c) C控制圖 缺陷數(shù)控制圖 d) u控制圖 單位缺陷數(shù)控制圖 圖 RX ? 圖 ~ 圖 SR? 圖 SX ? 八、控制圖應(yīng)用條件 過(guò)程應(yīng)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)， 即工序處于受控狀態(tài)； 過(guò)程因素處于相對(duì)的穩(wěn)定狀態(tài)， 即測(cè)量?jī)x器、方法、手段等必須統(tǒng)一； μ177。 適用于成批生產(chǎn)的產(chǎn)品；單件小批量生產(chǎn)的 產(chǎn)品質(zhì)量分布不一定符合正態(tài)分布。 A、收集數(shù)據(jù) 選定工序 ——選定對(duì)象，并明確應(yīng)用目的。 確定子組大小 —— 在一個(gè)單一的過(guò)程流中確定樣本子組的大小，對(duì)計(jì)量型的控制 圖，通常一次測(cè)取 25個(gè)過(guò)程統(tǒng)計(jì)量。 （ 2） 控制圖異常判定準(zhǔn)則 ： ▲點(diǎn)子呈 “鏈狀”排列 ——在中心線一側(cè)連續(xù)出現(xiàn) 7點(diǎn)或多于 7點(diǎn)； ——點(diǎn)子在中心線一側(cè)多次出現(xiàn)（間斷鏈） a） 連續(xù) 11點(diǎn)中至少有 10點(diǎn)位于中心線一側(cè)； b） 連續(xù) 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)位于中心線一側(cè)； c） 連續(xù) 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)位于中心線一側(cè)； d） 連續(xù) 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)位于中心線一側(cè)； ▲ 點(diǎn)子呈 “趨勢(shì)”狀排列 ——點(diǎn)子連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降 ▲點(diǎn)子呈 “周期”狀排列 ——階梯狀周期變動(dòng) ——波動(dòng)形周期變動(dòng) ——大波中疊加小波的周期性變動(dòng)。 控制圖異常的處理 ?當(dāng)出現(xiàn)異常傾向時(shí)，應(yīng)采取預(yù)防措施，進(jìn)行原因分析，針對(duì)原因采取措施，消除異常波動(dòng)因素。 十、其它控制圖的應(yīng)用 （ 1） 圖 （中位數(shù) — 極差控制圖） RX ?~ 。n，23 的大小而變化其值的大小隨樣本界限系數(shù)是中位數(shù)控制圖的控制Amn 2 3 4 5 6 7 m3A2 （ 2） X—RS圖（單值 — 移動(dòng)極差控制圖） 該圖常適用于批量小、加工時(shí)間長(zhǎng)、測(cè)量費(fèi)用高（例如：破壞性試驗(yàn)）、或用于在任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)（如：化學(xué)溶液的PH值）。 RX? SSREXLCLRX22EXUCLXCL ?????圖SSSRDLCLRDUCLR34SRCL ???圖N 2 3 4 5 6 7 E2 （ 3） 圖 （均值 —標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖） 樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S是過(guò)程變異更有效的指標(biāo)，尤其是對(duì)樣本容量較大的情況。 SX?? ?21122iS 1XS：???????????????????? ??nxnxnXniinii或每個(gè)子組的標(biāo)準(zhǔn)差 SAXLCLSAXUCLX33XCL ?????圖SBLCLSS34BUCLSCL ???圖n A3 B4 B3 C4 2 3 4 5 6 `.879 7 系數(shù) （ 4） P圖（不合格品率控制圖） P控制圖 ，就是用不合格品率 P進(jìn)行工序控制的控制圖。 子組容量 ——用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖中一般要求較大的子組容量（ 例如 50到 200或更多 ），以便檢驗(yàn)出性能的一般變化。 子組的數(shù)量 ，一般情況下，也應(yīng) 包括 25或更多的 子組，以便很好地檢驗(yàn)過(guò)程的穩(wěn)定性，并且如果過(guò)程穩(wěn)定，對(duì)過(guò)程性能也可產(chǎn)生可靠的估計(jì)。 當(dāng)滿足下列情況時(shí)可選用 Pn圖： a） 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告； b） 各階段 子組的樣本容量相同 。 計(jì)算過(guò)程不合格品數(shù)均值及控制界限 ： ? ????kiinn Pkp11? ?? ?PPPLCLPPPUCLPCLnnnnn???????1313? ?knPPkiin??? 1 （ 6） C圖 （缺陷數(shù)控制圖） 或稱 不合格數(shù)控制圖 C圖用來(lái)測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（或缺陷）的 數(shù)量（與描繪在 Pn圖上的不合格品數(shù)量不同）。 C圖主要用于以下兩類檢驗(yàn)： a） 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 （例如毎匹維尼龍 上的瑕疵、玻璃上的氣泡、鑄件表面砂眼 氣孔、 噴漆表面?zhèn)? 色斑或電線上絕緣層薄的點(diǎn)等）， 以及 可以用不合格的平均比率表示的地方 （如毎 100m2維尼龍上的瑕疵）； b） 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中 可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因 造成的不合格 （例如：在一個(gè)修理部記錄毎輛車(chē) 或元件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格）。 計(jì)算過(guò)程不合格數(shù)均值及控制界限： kCCk
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