【正文】 收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會出現(xiàn)。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機(jī)油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機(jī)器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A2R= LCL= A2R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時(shí)間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機(jī)器或測量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號時(shí)，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時(shí)間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時(shí)間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR 1計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X）和極差 R 對每個(gè)子組計(jì)算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 注： 對于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 4 5 21 計(jì)算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 13 計(jì)算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè)“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 ? 各控制限畫成虛線。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 311 超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應(yīng)分析 。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸 到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間 。 b 一般情況，各點(diǎn)與 R 的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 c2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 注： 如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 A2R 。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 341 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間。 b 一般情況 ， 各點(diǎn)與 X的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。方法如下： b 1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計(jì)算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計(jì)算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LCL LCL UCL UCL