spc統(tǒng)計過程控制詳述-在線瀏覽
2025-03-24 05:53本頁面
【正文】 根據(jù) 3σ 原理，有 973)3T3(P TTTT ?????????控制上限（記為 UCL） 為 μT +3σT 控制下限（記為 LCL） 為 μT 3σT 控制中心線（記為 CL） 為 μT 4. 構(gòu) 造 將這三條水平線畫在一張坐標(biāo)紙上 ,其橫軸為時間或樣本序號，縱軸為 T 的觀察值這就形成了一張控制圖。這些上、下控制界限就被用來判斷生產(chǎn)過程有無異常。 CL UCL LCL 序號 x 1 2 3 4 5 6 圖 控制圖的示意圖 x有時還把控制界限內(nèi)分成幾個區(qū)域： μT +2 σT 與 μT +3 σT之間稱為 A上 區(qū) μT +σT 與 μT +2 σT之間稱為 B上 區(qū) μT σT 與 μT + σT之間稱為 C區(qū) μT 2 σT 與 μT σT之間稱為 B下 區(qū) μT 3 σT 與 μT 2σT之間稱為 A下 區(qū) 稱 μT 2σT 與 μT +2σT為警戒限，它表示過程失控即將發(fā)生。 μT 常用 作估計， 記 σT的估計為 ， 則中心線及上、下控制界線分別為： T?? .3TLCL,3TUCL,TCLTT????????? 控制圖實際上是生產(chǎn)過程質(zhì)量的一種記錄圖形，它提供了判斷過 程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)的一種方法。 5. 建立控制圖前期的準(zhǔn)備工作 （ 1）選擇質(zhì)量特性 （ 2）分析生產(chǎn)過程，確定控制點 （ 3）合理子組 (樣本 )的選擇：一般以時間劃分 要求：組內(nèi)變異應(yīng)由隨機原因引起 組間差異可能有異常原因 為使組內(nèi)差異僅由隨機原因，通常是每隔一定時間抽取連續(xù)生產(chǎn)的 n個產(chǎn)品測定其特性值。 （一）均值 極差控制圖（ R圖） 均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)。 兩張圖一起用，稱為均值 極差控制圖。 對 i=1,2, …,k 有： ， Ri ， 再計算它們的平均值： ix???k1iixk1x ???k1iiRk1R用極差控制圖時要求 n10 由于 因此均值 極差控制圖的中心線分別是 ??)x(E ??)x(E x? ?? ?? 2d)R( ?? 2d)R( 2d/R? ?? n/x( ??? ??? n)(xR上下控制界限分別是 RAx)nd/(R3xn/?3x 22 ?????? ??????????RDRDR)d/31(d/R3R342n2n控制線如下： CL UCL LCL x 圖 R圖 RD RAxRD RAxR x3242??有關(guān)數(shù)值表 p129 P135 例 1 某種金屬零件的長度是一個重要的質(zhì)量特性，在生產(chǎn)現(xiàn)場，每隔一小時測量五個產(chǎn)品的長度，下表給出的是與一個特定長度之差，試作均值 極差控制圖。 有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)差的控制圖（極差）揭示了組內(nèi)的異常波動，是考察過程波動（變異）大小的指示器，是過程一致性或均勻性的一個度量。 當(dāng) R圖不能保持在統(tǒng)計控制狀態(tài)或水平升高時，表示有異常因素在起作用，并且 R圖失控還會影響到均值的控制圖。 當(dāng) R圖保持在統(tǒng)計控制狀態(tài)時，再進一步考察均值的控制圖。 （ 2）首先計算 k個樣本極差的均值 ,記為 ，這便是 R控制圖的中心線。 （ 3）作 R圖，將各樣本點與控制限進行比較，檢查數(shù)據(jù)點有無失控或異常模式。 R （ 4）剔除異常的子組，重新計算 R圖 CL，UCL， LCU， 再次確認(rèn)所有點受控。 （ 5）當(dāng)異常的子組剔除后，用留下的子組數(shù)據(jù)，計算 和 ，并計算它們的上下控制界限。也可能要經(jīng)過反復(fù)的“識別 糾正 重新計算”這一過程。 一旦發(fā)現(xiàn)失控或出現(xiàn)異常模式的信號時，應(yīng)該及時分析原因，并采取行動。 3. 異常原因的識別 常見的異常情況與模式有如下八種： （ 1）一點超出控制界限 （ 2）九點在中心線的同側(cè) （ 3）六點呈上升或下降趨勢 （ 4） 14點交替上升下降 （ 5）三點中有兩點處于 A上 或 A下 區(qū) （ 6）五點中有四點在 C區(qū)之外 （ 7） 15點在中心線附近的 C區(qū)內(nèi) （ 8）連續(xù) 8點在中心線兩側(cè)而無一點在 C區(qū) （ 1） （ 2） （ 4） （ 6） （ 8） （ 3） （ 5） （ 7） 4. 過程能力 當(dāng)均值與標(biāo)準(zhǔn)差兩張控制圖都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時，還需要分析該過程是否滿足規(guī)范的要求。 過程能力指數(shù)有多種： 有短期與長期之分； 有考慮過程中心與規(guī)范中心是否一致之分； 規(guī)范有單側(cè)與雙側(cè)之分。 所以將 Cp看成是潛在的過程能力指數(shù)。通常要求它大于 。 ?即便是最佳的過程隨著時間的推移也會存在波動； ?通常，長期過程波動是短期過程能力 ?的修正值； ?一能力為 6 ?的短期過程，其長期能力為 ? Prediction 長期過程能力與短期過程能力 Prediction Shift ST??Prediction Drift LT??注意： 從某種意義上講，各種過程能力指數(shù)是將“顧客的呼聲”與“過程的呼聲”進行比較，努力使兩者一致是我們的努力方向。若規(guī)范限不合適，或者不是基于顧客的要求而產(chǎn)生的，那么努力使過程符合規(guī)范將會浪費時間和精
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