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2025-03-23 01:18本頁面
【正文】 戴明質(zhì)量獎(jiǎng)。 數(shù)據(jù)的類型數(shù)據(jù)可以分成兩大類型：? 離散型數(shù)據(jù) (Discrete Data)不能被合理細(xì)分發(fā)生／沒發(fā)生好板／壞板? 連續(xù)型數(shù)據(jù) （ Continuous data)衡量尺度可以根據(jù)精確度的要求細(xì)分成更精確，更小的分辨率。 過程數(shù)據(jù)可以從流程中收集而得到，流程是將各項(xiàng)輸入資源 (人，機(jī)，料，法，環(huán) )按一定要求組合起來，并將其轉(zhuǎn)化為輸出的活動(dòng)。 波動(dòng)即使從同一個(gè)過程出來的產(chǎn)品也是不一樣，它們的差異通過其特征值的波動(dòng)表現(xiàn)出來。SPC的理論基礎(chǔ)9167。SPC的理論基礎(chǔ)10SPC的理論基礎(chǔ)過程分布規(guī)律隨時(shí)間的變化情況11SPC的理論基礎(chǔ)過程中存在特殊原因，應(yīng)采取局部措施識(shí)別、消除特殊原因，使過程受控12SPC的理論基礎(chǔ)過程受控，即過程中僅存在普通原因，但不合格品率太高，往往需要對(duì)系統(tǒng)采取措施來改進(jìn)過程13167。 正常波動(dòng) 異常波動(dòng)合理子組內(nèi)的波動(dòng)為正常波動(dòng)合理子組間的波動(dòng)為異常波動(dòng)子組 A子組 BTime TimeSPC的理論基礎(chǔ)14167。在外型加工工序中 , 當(dāng)收集到足夠的同型號(hào)的板時(shí)，我們把這些板的長度匯總在一起，會(huì)發(fā)現(xiàn)大部分板的長度在某個(gè)值附近。 正態(tài)分布 (Normal Distribution)SPC的理論基礎(chǔ)當(dāng)流程只存在共同原因時(shí)，大部分的流程輸出是呈正態(tài)分布。N離散程度一樣，位置不一樣位置一樣，離散程度不一樣16167。標(biāo)準(zhǔn)得分定義為數(shù)據(jù)離平均值有幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差距離。 正態(tài)分布的重要性質(zhì)由于正態(tài)分布是概率分布，觀察值出現(xiàn)在某個(gè)區(qū)域的可以通過計(jì)算得來。3s區(qū)域外SPC的理論基礎(chǔ)18%%%m m+s m+2s m+3smsm2sm3s167。3s限的概率很低，如果發(fā)現(xiàn)流程輸出超出此范圍即暗示可能存在特殊原因。 SPC 控制圖 (Control chart)的構(gòu)成UCL 上控制限CL 中心線LCL 下控制限控制限測(cè)量值刻度 樣本次序樣本連線SPC的理論基礎(chǔ)20167。 所以相對(duì)應(yīng)的有兩類控制圖，一類監(jiān)控分布位置的變化，另一類監(jiān)控分布離散程度的變化。 Defective—缺陷產(chǎn)品不滿足質(zhì)量要求的整件產(chǎn)品，不考慮這件產(chǎn)品上到底有多少缺陷。 Defect—缺陷不滿足某一個(gè)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的缺陷。 167。 常用離散型控制圖的分類和使用不合格品率控制圖P Chart記件控制圖Defective記點(diǎn)控制圖Defect不合格品數(shù)控制圖nP Chart要求恒定樣本量單位產(chǎn)品缺陷數(shù)控制圖u Chart缺陷數(shù)控制圖C Chart要求恒定樣本量控制圖的種類看圖 看圖 看圖 看圖23為了選擇合適的控制 圖 表來監(jiān)控 過 程，首先要決定關(guān)鍵 過 程變量(X’s)是連續(xù)的還是離散的 . 監(jiān)控連續(xù) X‘s的變量圖表 監(jiān)察離散 X39。 流程能力 :Cp 和 Cpk流程能力 Cp定義為規(guī)范范圍和 177。3s范圍越窄就越能滿足規(guī)范要求 .流程輸出的 177。 mUSLLSLCp1USLLSL６ sCp= m USLLSLCp=1m USLLSLCp1當(dāng)采用 Cp時(shí)，我們假定規(guī)范中心和流程中心重合，即 (USLLSL)/2=m25167。mLSL3sCpL=單側(cè)下限流程能力指數(shù)：USLm3sCpU=單側(cè)上限流程能力指數(shù)：Cpk=Min(CpL,CpU)流程衡量指標(biāo) USLLSL目標(biāo)m流程平均值和目標(biāo)值偏離26167。27167。Pp,流程中心 m與規(guī)范中心重合 Ppk,中心值存在偏移 U
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