【正文】 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22樣本代碼樣本大小允收水準(zhǔn)（A Q L ） （普通）外觀 電性 從左向右 ,要求愈來愈嚴(yán) ! 14 MILSTD105E之轉(zhuǎn)換程序 正常檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí)：當(dāng)實(shí)行正常檢驗(yàn)時(shí) ， 如原來檢驗(yàn)之連續(xù) 4或 5批中有 2批被拒收 ， 即可改用加嚴(yán)檢驗(yàn) 。 ? 正常檢驗(yàn)改用減量檢驗(yàn)時(shí)：正常檢驗(yàn)之前 10批 ， 在正常檢驗(yàn)時(shí)均已被允收 ，而且這 10批中其不良品 （ 或缺點(diǎn) ） 之總數(shù) ， 等於或小於抽樣表所列之?dāng)?shù)目者 。 ? 檢驗(yàn)的終止：在原來加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí) ， 如果沒有允收的連續(xù)批數(shù) ， 累積到 5批 ，則本標(biāo)準(zhǔn)之允收程序即告終止 。 例 已知 N=150， 允收水準(zhǔn) AQL= ， 一般檢驗(yàn)水準(zhǔn) Ⅱ 。 查附表，得代字 F。 適用範(fàn)圍 本標(biāo)準(zhǔn)適用於公司內(nèi)所有物料 、 半成品 、 成品檢驗(yàn) 。 當(dāng)客戶未作特別 要求時(shí) ， 本標(biāo)準(zhǔn)即作為公司之通用 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行 。 擁有龐大的管理資料庫(kù) 17 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 定義 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 凡是有危害制品使用者或攜帶者的生命或安全之缺點(diǎn) 。 次要缺點(diǎn) : 不影響制品的使用目的之缺點(diǎn) ， 如 : 視覺上存在瑕玼 。 【 不合格品管制作業(yè)程序 】 QPQT03。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 權(quán)責(zé)單位及職責(zé) 品質(zhì)單位制定本標(biāo)準(zhǔn) 。 文管單位進(jìn)行編號(hào) 、 受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 19 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 作業(yè)內(nèi)容 作業(yè)內(nèi)容 進(jìn)料檢驗(yàn)及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡAQL %單次抽樣計(jì)劃之 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ? ：采用 MILSTD105E LEVEL S3 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ． ：采用 10 pcs /批進(jìn)行抽樣檢驗(yàn) ， Ac=0． 20 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 製程檢驗(yàn)及判定 ： 100%全檢 Ac=0 Re=1 執(zhí)行． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo) 準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． ：依【成品測(cè)試項(xiàng)目及抽樣標(biāo)準(zhǔn)】 WIEA238 進(jìn)行抽樣檢驗(yàn) , Ac=0 Re=1 進(jìn)行判定． 出貨檢驗(yàn)及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡ Ac=0 Re=1 單次抽樣 174。 檢驗(yàn)記錄填 檢驗(yàn)人員依照相關(guān)文件進(jìn)行外觀、尺寸、電性、破壞性試驗(yàn) 等檢 驗(yàn)或進(jìn)行實(shí)際裝配後，須將檢驗(yàn)結(jié)果填寫在相應(yīng)表單上 (參閱【檢驗(yàn)與測(cè)試作業(yè)程序】 QPQT01)。 檢驗(yàn)記錄管理 檢驗(yàn)記錄須作好標(biāo)識(shí)、儲(chǔ)存、保護(hù)，并在超過保存期限進(jìn)行處理 ,檢驗(yàn)記錄之保存期限參照『品質(zhì)記錄總覽表』。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)或附雜質(zhì)； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個(gè) , 非兩端面有崩口。 24 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) RH磁芯 ： 、物理性能不合格； ； 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴(yán)重不良。 ： ﹑ 髒污等外觀不良。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良、表面沙孔或附雜質(zhì)； 未塗裝品外表面崩口尺寸 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T30至 T50規(guī)格超 過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 未塗裝品內(nèi)表面崩口尺寸 :T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 26 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ； 1個(gè)； 、裝配之表面脫漆、毛刺等塗裝不良； : T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； ； 1個(gè)； 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 、針腳基部嚴(yán)重彎曲等； ，或 ψ6( 或以下的 )有孔徑、深度超過 ，或 ψ6 以上的有孔徑、深度超過 ； ； 。 ,掉漆 。 (膠高度大於本身引腳線徑 ). 次要缺點(diǎn) : ,有色斑 ,引腳彎曲等外觀不良。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 . SD等鍍銀品 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形等嚴(yán)重不良； 主要缺點(diǎn) : 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì)； : 外表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個(gè)； 31 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) (產(chǎn)品焊錫點(diǎn)或面離開水平面的最大距離大於 )； 1/4； .. : 超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超越其所在位置厚度之 1/2； .. ﹑ 磨損和發(fā)黑等超過其所在面凸處接觸面積的 10%； .. 95%可靠上錫。 SC、 ST磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； 32 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ； 、裂縫、變形、生銹、接觸面帶刺、涂裝脫落等嚴(yán)重不良。 ； 1個(gè)； : 外表面 尺寸超過 , 內(nèi)表面 尺寸超過 。 ； ( )冒油、起泡等。 TR磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴(yán)重不良。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 髒污等外觀不良。縮水處超過三個(gè) 。掛線柱缺損等 。 SMD BASE可焊性檢測(cè)依 WIQT046. 次要缺點(diǎn) 。 : 。 : 、四周切割不平 。 漆包線 (圓形 ) 嚴(yán)重缺點(diǎn) :【針孔測(cè)試】 WIQT017 ﹑ 【 耐壓測(cè)試】 WIQT018 、 【 卷繞試驗(yàn)】 WIQT01【 可焊性檢測(cè)】 WIQT016等不合格； 。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 黑點(diǎn) ﹑ 斑痕等有色斑痕 。 (扁平 ) : : 。 。 ,髒污 ,有斑痕 . : 38 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 。 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 ﹑ 顏色等不符合要求。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 40 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ﹑ 材質(zhì)不合格； ； ﹑ 變形 ﹑ 氧化發(fā)黑 生銹 ﹑ 鍍層脫落或露底色等。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有灰塵或污物等外觀不良。 主要缺點(diǎn) 41 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 、破損、皺折等； 絲印斷筆、不清晰、潮濕等。 麥頭、標(biāo)簽、貼紙 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 材質(zhì)、規(guī)格尺寸。 次要缺點(diǎn) : 絲印斷筆、不清晰、異物灰塵污物附著。 42 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 主要缺點(diǎn) : 包裝損壞或密封不良好。 焊料 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 型號(hào)不符。 次要缺點(diǎn) : 表面異物、殘?jiān)街? 繞線方向錯(cuò) 。 產(chǎn)品進(jìn)出引線相碰 (臥式產(chǎn)品漆包膜完整無(wú)缺除外 ),相位錯(cuò) 。 鐵芯掉漆 1處 。 鐵芯凹痕深度超過 ,或凹痕個(gè)數(shù)超過 1處 。 44 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 線傷、爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 。 ,出現(xiàn)膠少 `膠多 ,膠不干現(xiàn)象 。 ,線圈未貼平底座 ,歪斜超過底座的尺寸範(fàn)圍 。 錫位與承認(rèn)書要求不符 。 引腳漆包膜部份間隙有錫 。 AP臥式產(chǎn)品插入模具後出現(xiàn)一邊起翹 . 45 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 次要缺點(diǎn) 引腳不平行 (插入量具後 ,量具面與磁芯面不貼 )。 線圈與磁芯間隙超過一根本身線 。 多圈產(chǎn)品外圈交叉或引腳處交叉或引出線有壓痕現(xiàn)象 。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 ~ ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/3或 以內(nèi) 。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 以下 ,則引腳長(zhǎng)度差不需作管制 。 繞腳圈數(shù)不符 : 以下線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 2TS。 以上線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 1TS。 套管過長(zhǎng)或過短 ,明顯歪斜 、 偏離 、 毛邊或收縮不緊 。 包膠帶圈數(shù)不正確 ， 接口鬆脫 ， 毛邊 。 立式多線並繞產(chǎn)品 ,引腳從外磁芯面至內(nèi)徑方向 2/3處內(nèi)有開裂現(xiàn)象 。 繞線分布不良 ,引出線錯(cuò)位 (兩引腳在同一平面上的投影須有重疊部分 )。 DR、 DRU系列 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 47 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 電氣、物理性能不符要求 。斷線 。 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 崩口 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 崩口深度 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 ； 總崩口個(gè)數(shù)超過 2個(gè) 。 漏焊、冷焊、起結(jié) 。 裝配不良 (如 2DRUC的產(chǎn)品 ,組裝後會(huì)出現(xiàn)線圈與基座鬆脫 )。 2mm∮≦3mm CORE 之引腳拉力 。 ∮ 6mm 以上 CORE之引腳拉力 . 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認(rèn)書要求 。 產(chǎn)品錫珠或錫渣附著 。氣孔處可看見鐵芯本體 。 ~ 線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 。 49 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) (產(chǎn)品 SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí) ) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 以上 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在