研發(fā)流程中的產(chǎn)品測(cè)試介紹-在線瀏覽
2025-02-19 12:47本頁面
【正文】 塊內(nèi)部是不透明的。 ? 黑盒測(cè)試： 對(duì)內(nèi)部透明，僅從使用上來檢查功能上是否有錯(cuò)誤。 ? 白盒測(cè)試是從下到上、從微觀到宏觀的逐步驗(yàn)證過程，一般涉及單板 /功能模塊內(nèi)部性能功能及單元間接口的測(cè)試。 黑盒與白盒 ? 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是在對(duì)產(chǎn)品應(yīng)具功能進(jìn)行抽象的基礎(chǔ)上，將程序劃分成功能單元，然后對(duì)每個(gè)功能單元設(shè)計(jì)測(cè)試用例進(jìn)行測(cè)試。 ? 缺點(diǎn)： 黑盒測(cè)試用例的設(shè)計(jì)不可能做到完全覆蓋，因此難以完全觸發(fā)產(chǎn)品內(nèi)部所有執(zhí)行流程 /路徑，也就難以完全發(fā)現(xiàn)深藏在產(chǎn)品內(nèi)部單元 /模塊及接口的設(shè)計(jì)缺限，需要有白盒測(cè)試進(jìn)行補(bǔ)充。 ? 優(yōu)點(diǎn)： 白盒法測(cè)試用例是圍繞著產(chǎn)品設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)角度出發(fā)，通過對(duì)其內(nèi)部信號(hào)特征、接口功能性能的覆蓋性檢查來保證設(shè)計(jì)的正確性。 ?不能查出詳細(xì)設(shè)計(jì)本身所存在的問題，即錯(cuò)誤的產(chǎn)品設(shè)計(jì)。 灰盒測(cè)試 ? 灰盒測(cè)試介于黑盒與白盒之間，關(guān)注輸出對(duì)于輸入的正確性，同時(shí)也關(guān)注內(nèi)部表現(xiàn)，但這種關(guān)注不象白盒那樣詳細(xì)、完整，只是通過一些表征性的現(xiàn)象、事件、標(biāo)志來判斷內(nèi)部的運(yùn)行狀態(tài)。 ? 灰盒法在用例設(shè)計(jì)時(shí)基于對(duì)模塊內(nèi)部處理的了解，測(cè)試設(shè)計(jì)可以有針對(duì)性的進(jìn)行，測(cè)試過程評(píng)估也是白盒法。 ? 模糊測(cè)試最為形象的說法是：測(cè)試過程要做的就是站在后面向目標(biāo)投擲石頭，等待玻璃被打破的聲音。 ? 若我們對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部有所了解，就可以讓石頭每次的飛行路線更直接并且更真實(shí)。 測(cè)試方法的選擇 ? 有一種觀點(diǎn)認(rèn)為： ? 在單元測(cè)試階段采用白盒法； ? 在集成測(cè)試階段采用灰盒法； ? 在系統(tǒng)測(cè)試階段采用黑盒法。 ? 單元測(cè)試： 也稱模塊測(cè)試。單元測(cè)試的依據(jù)是詳細(xì)設(shè)計(jì)描述，對(duì)模塊內(nèi)所有表達(dá)功能 /性能的節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)測(cè)試用例，以便發(fā)現(xiàn)模塊內(nèi)部的錯(cuò)誤。 測(cè)試的分類 ? 集成測(cè)試： 又稱聯(lián)合測(cè)試也稱組裝測(cè)試，它是對(duì)由各模塊組裝而成的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，主要檢查模塊間的接口和通信。系統(tǒng)測(cè)試又可細(xì)分為功能測(cè)試、容量測(cè)試、壓力測(cè)試、使用性測(cè)試、安全性測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試、恢復(fù)測(cè)試、強(qiáng)度測(cè)試、文檔測(cè)試以及工序測(cè)試。 測(cè)試覆蓋范圍 ? 正確性測(cè)試： 測(cè)試用例中的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)首先保證要至少覆蓋需求規(guī)格說明書中的各項(xiàng)功能。 ? 容錯(cuò)性測(cè)試： 測(cè)試系統(tǒng) /產(chǎn)品的功能單元、接口間出現(xiàn)異常的情況下系統(tǒng)的保護(hù)性處理，以及異常結(jié)束后系統(tǒng)功能性能的恢復(fù)處理。 ? 壓力測(cè)試： 測(cè)試在大信息量處理情況下的系統(tǒng) /產(chǎn)品正常工作的能力。 軟件測(cè)試與硬件測(cè)試 ? 軟件測(cè)試： 軟件不涉及制造加工，因此軟件測(cè)試的目的僅僅是驗(yàn)證設(shè)計(jì)的正確性。 軟件測(cè)試與硬件測(cè)試 ? 當(dāng)我們只考慮驗(yàn)證設(shè)計(jì)正確性的話： ? 軟件測(cè)試： 發(fā)現(xiàn)軟件代碼語法錯(cuò)誤和邏輯錯(cuò)誤，衡量軟件設(shè)計(jì)正確性的標(biāo)準(zhǔn)是：軟件在某種輸入條件下是否按正確時(shí)序完成對(duì)硬件的操作（如寫入 /讀出寄存器數(shù)據(jù)）。 測(cè)試的實(shí)施 測(cè)試實(shí)施 ? 制定測(cè)試策略。 ? 實(shí)施測(cè)試工作的過程為： ? 執(zhí)行測(cè)試用例。 ? 回歸測(cè)試。 ? 進(jìn)度約束下的人力資源角色和職責(zé)。內(nèi)容主要包括： ? 某測(cè)試階段所使用的測(cè)試方法和工具。 ? 測(cè)試完成和測(cè)試成功所采用的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。 ? 測(cè)試策略明確了所有測(cè)試階段、測(cè)試技術(shù)和項(xiàng)目所使用的測(cè)試工具和測(cè)試目標(biāo)，用以指導(dǎo)后續(xù)測(cè)試工作得有效實(shí)施。 ? 測(cè)試用例指對(duì)特定的功能單元 /模塊、系統(tǒng) /產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試任務(wù)的描述，體現(xiàn)測(cè)試方案、方法、技術(shù)和策略。 測(cè)試用例－要素 ? 用例編號(hào)： 便于測(cè)試用例的管理及測(cè)試過程的跟蹤。 ? 重要級(jí)別： 定義測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)別。 測(cè)試用例－要素 ? 操作步驟： 對(duì)于復(fù)雜測(cè)試用例，操作時(shí)需要分幾個(gè)步驟完成，這部分內(nèi)容在操作步驟中詳細(xì)列出。 ? 基本事件： 描述該測(cè)試用例的基本操作流程，指每個(gè)流程都“正?！边\(yùn)作時(shí)所發(fā)生的事情。 測(cè)試用例－要素 ? 備選事件： 表示這種行為或流程是可選的或備選的，并不是總要執(zhí)行。 ? 正面測(cè)試： 用于驗(yàn)證被測(cè)單元能夠執(zhí)行應(yīng)該完成的工作。 測(cè)試用例設(shè)計(jì)－白盒法 ? 白盒測(cè)試是窮舉類測(cè)試，主要強(qiáng)調(diào)的是覆蓋率，即測(cè)試用例要覆蓋單元內(nèi)部所有處理流程。 ? 受到進(jìn)度和資源的約束，不可能達(dá)到完全覆蓋率，折衷辦法就是選取關(guān)鍵重要的部分進(jìn)行測(cè)試用例的設(shè)計(jì)。 ? 判定覆蓋 ：檢查到模塊中每個(gè)分支 /信號(hào)流執(zhí)行情況。 ? 判定 /條件覆蓋 ：選擇足夠的測(cè)試用例，使得判定中每個(gè)條件取到各種可能的值，并且每個(gè)判定取到各種可能的結(jié)果。 覆蓋率由低到高 ? 路徑覆蓋 ：執(zhí)行足夠的測(cè)試用例，使得每條路徑至少被執(zhí)行一次。 ? 對(duì)測(cè)試缺陷進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，白盒法發(fā)現(xiàn)的缺陷要達(dá)到總?cè)毕輸?shù)的 50％以上。 ? 等價(jià)分類法 ? 邊緣值分析法 ? 因果圖法 ? 錯(cuò)誤推測(cè)法 測(cè)試用例設(shè)計(jì)－黑盒法 ? 等價(jià)分類法 ：在輸入數(shù)據(jù)中選擇一組子集，每個(gè)子集選擇一個(gè)具有“代表性”的測(cè)試用例，使這個(gè)測(cè)試用例可以代表一大類的有同樣共性的其他測(cè)試用例，這就形成了一個(gè)等價(jià)類。 ? 等價(jià)分類法分為二步： 1. 根據(jù)功能說明中的輸入條件劃分等價(jià)類； 2. 按
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