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材料現(xiàn)代分析與測(cè)試技術(shù)第一章x射線衍射分析-在線瀏覽

2025-02-23 03:08本頁(yè)面
  

【正文】 譜(白色 X射線)、標(biāo)識(shí) — 布拉格發(fā)現(xiàn) ① 標(biāo)識(shí)射線產(chǎn)生: a、玻爾原子模型; 核外電子分布在不同殼層上: K、 L、 M、 N 能量為: 2?????? ??? ?vzRhcE n b、標(biāo)識(shí) X射線 譜 當(dāng)管電壓超達(dá)一值時(shí) ? ?kV ,則電子的動(dòng)能就足以將陽(yáng)極靶中物質(zhì)原子中 K層電子撞擊出來(lái),于是在 K層中形成電子空穴 ? ?kV — K層激發(fā)電壓 L、 M、 N 層電壓躍入的空位,釋放能量,其頻率為: ???????? ??????? ???? ??222122 11121 nnvzR hcEEhv nnnn ( 110) 對(duì) K層: n= L層 : n=2 、 M層: n= N層 n=4 由( 110)式可分別計(jì)算并確定的 ? 同樣當(dāng) L、 M電子被激發(fā)時(shí) ,就會(huì)產(chǎn)生 L、 M系標(biāo)識(shí) X射線。 112) ? ?nVVBiI KK ?? ( 112) ④ 應(yīng)用 : X射線衍射分析 X射線光譜分析 — 熒光 X射線光譜分析 ⑤ 衍射分析中只使用 ?k X射線的吸收 當(dāng) X射線穿過(guò)物體時(shí),由于散射,光電效應(yīng)等影響、強(qiáng)度 減弱 — 稱(chēng)為 X射線的吸收。 ② 濾波片材料的原子序數(shù)一般比陽(yáng)極靶材料原子序數(shù)小 1或 2。 電子在 X射線電場(chǎng)作用下,產(chǎn)生強(qiáng)迫振動(dòng),成為新的電磁波源。 可相互干涉,形成衍射。即改變方向,又改變波長(zhǎng)。 伴隨反沖電子 — 康普頓效應(yīng)。 伴隨發(fā)生: 熒光效應(yīng) 和 俄歇效應(yīng) ⑴ .熒光效應(yīng) (熒光 X射線) 外層電子填補(bǔ)空位將多余能量 ΔE 輻射 次級(jí)特征 X 射線 ,由 X 射線激發(fā)出的 X射線稱(chēng)為 熒光 X射線。 五、 X 射線的吸收及其應(yīng)用 當(dāng) X 射線穿過(guò)物體時(shí),受到散射、光電效應(yīng)等影響,強(qiáng)度將會(huì)減弱,這種現(xiàn)象稱(chēng)為 X射線的吸收。 2. X射線濾波片 10 xIIe???1 m? ? ???原理:利用吸收限兩邊吸收系數(shù)相差懸殊 效果:獲得單色 X射線( Kα 線) 做法:選取適當(dāng)材料,其 K吸收限正好位于所用靶材的 Kα 與 Kβ 線之間 原則:濾 波片原子序數(shù)比 X射線管靶材 小 1 或 2 第二節(jié) X射線衍射的幾何條件 1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體對(duì) X射線現(xiàn)象: X— 電磁波、 X— 研究晶體 三點(diǎn)假設(shè): 射線、衍射線為平面波 。 (體積 —— ,散射由原子中心點(diǎn)發(fā)出。1139。1 c o sc o sc o sc o sc o s ???????????? aORORPROQ? 衍射條件: ?? H? 即: ? ? ?Ha ???? 39。 ??? 確定,則: ?aH???? 39。339。1 .. ??? 衍射方向與三晶軸交角: 32.1 .. ??? 若要產(chǎn)生衍射,必須滿(mǎn)足方程組: ? ? ?Ha ???? 39。22 c o sc o s ?Lc ???? )c os(c os 39。339。1 .. ??? ),才能滿(mǎn)足方程。39。 (晶面)和布拉格方程: ????s in2s in39。39。39。 ② 衍射級(jí)數(shù): ???n ?? 整數(shù) 但:因?yàn)?12sin ?? dn?? 所以 : ?dn 2? 所以:當(dāng) ? 和衍射面選定后, ? 、 d 確定, n 也就確定,即,一組晶面只能在有限幾個(gè) 方向 “ 反射 X射線 ” 。 表示有公約數(shù),應(yīng)用衍射指數(shù),就可以省略 n了 2dsinθ=λ ③ 衍射分析用的 X射線 λ 應(yīng)與晶體的晶格常數(shù)相差不多 Sinθ=λ/2d≤1 d太大不可能,(受晶面間距限制) 只能是 : λ≤2d 故: λ 與 d相近 三、 倒易空間與衍射條件(厄瓦爾德圖解) (一) 倒易空間與衍射條件 晶體點(diǎn)陣中 A 為任意原子 OA=la+mb+nc 設(shè)有 一束波長(zhǎng)為 λ 的 X 射線,以單位矢量 S0方向照射在晶體上,經(jīng)過(guò) OA的散射波的光程差: )( 00, SSAOSAOSAOAO mn ????????? ????????? 相位差為 AOSS ??? ???? )(22 0?????? 根據(jù)光學(xué)原理,兩個(gè)波干涉加強(qiáng)的條件為相位差等于 2? 的整數(shù)倍 即: )2,1,0()( 0 ??? ???? ?? SSAO 式中 )( 0?SS?? 是倒易點(diǎn)陣中的一個(gè)矢量 )( 0?SS?? = )( ???? ??? cLbKaHR HK L ???? ① )( 0?SS?? ⊥ ( HKL) ② )( 0?SS?? =2sinθ/λ=λ/λd HKL=1/dHKL 根據(jù)倒點(diǎn)陣性質(zhì): )( 0?SS?? = ?HKLR? 令: ?SK ??? ?00 SK?? ? 于是: R HKLKK *0 ?? ?? — 衍射條件波矢量方程 — 倒易空間衍射條件方程 物理意義:當(dāng)衍射波矢與入射波矢相差一個(gè)倒格矢時(shí),衍射產(chǎn)生 (二) 厄瓦爾德圖解 四、 X 射線衍射方法 根據(jù)布拉格定律,要產(chǎn)生衍射,必須使 θ 、 λ 及 d滿(mǎn)足布拉格方程: ?? ?sin2d 對(duì)被測(cè)晶體來(lái)說(shuō), d已確定,只有改變 θ 、 λ 獲得滿(mǎn)足布拉格條件的機(jī)會(huì),由此可得幾種不同的衍射研究方法,見(jiàn)下表。 — 電子質(zhì)量和電荷。 λ — 入射 X射線的波長(zhǎng)。 以后幾項(xiàng)是與晶體試樣的結(jié)構(gòu)和實(shí)驗(yàn)條件有關(guān)的因子。 V0— 晶胞體積。 P— 多重性因數(shù)。 θ 為布拉格角。 ?21— 吸收因數(shù), μ 為試樣的線吸收系數(shù)。 后三項(xiàng):試樣結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)條件有關(guān)的因素。 從( 160)式約去常數(shù),則得相對(duì)強(qiáng)度表達(dá)式: MePI F 22 22 c oss i n 2c os1 ??????? ?
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