【摘要】在18900倍下對(duì)PVC糊樹(shù)脂近行觀測(cè)應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測(cè)碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬(wàn)倍,幾乎覆蓋
2025-06-29 18:43
【摘要】附:掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析(SEM,黃銅管金相樣品二次電子象)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅基體)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕)AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積
2025-02-03 05:38
【摘要】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針(ElectronProbeMicroanalysis-EPMA)的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種高效率分析儀器。其原理是:用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(zhǎng)(或能量)可知元素種類;分析特征
2025-06-17 01:47
【摘要】光學(xué)顯微分析雙目立體顯微鏡:將被觀察的物體放大,形成正立的有立體感的像,工作距離長(zhǎng),較大的視場(chǎng)。常用于檢驗(yàn)、裝配和修理細(xì)小的精密零件以及電子線路的焊接等工作.1、各種各樣的顯微鏡金相顯微鏡:用以觀察金屬磨片等非透明物體試樣不透明,照明光
2025-02-22 02:38
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-03-04 04:31
【摘要】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點(diǎn)】定量分析的基本原理?電子探針X射線顯微分析(簡(jiǎn)稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicro
2025-06-18 18:10
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-03-04 07:00
【摘要】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點(diǎn):分析測(cè)試中心(校醫(yī)院斜對(duì)面)205答疑人:王超電話:13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過(guò)聚焦的高能電子照射樣
2025-06-18 18:11
【摘要】1原子力顯微鏡2?1982年,IBM實(shí)驗(yàn)室發(fā)明了掃描隧道顯微鏡(STM)。此二人因此榮獲1986年之諾貝爾獎(jiǎng)。?1986年,利用當(dāng)時(shí)的STM技術(shù),與StanfordUniversity合作者開(kāi)發(fā)出能探測(cè)探針與式樣間范德華力的原子力顯微鏡(AFM)。原子力顯微鏡的工作原理3原子力顯微
2025-04-10 10:19
【摘要】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系,然而,就當(dāng)初研制的目的來(lái)說(shuō)卻是完全不同的。第一臺(tái)商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-06-29 18:58
【摘要】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測(cè)試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點(diǎn)和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-03-04 06:53
【摘要】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應(yīng)用及其它功能簡(jiǎn)介2顯微鏡的發(fā)展17世紀(jì)中期制做的復(fù)式顯微鏡19世紀(jì)中期的顯微鏡20世紀(jì)初期的顯微鏡帶自動(dòng)照相機(jī)的光學(xué)顯微鏡裝有場(chǎng)發(fā)射
2025-02-21 21:08
【摘要】第三節(jié)透射電子顯微分析一、透射電子顯微鏡透射電鏡主要由光學(xué)成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)三部分組成。(1)光學(xué)成像系統(tǒng)?照明部分是產(chǎn)生具有一定能量、足夠亮度和適當(dāng)小孔徑角的穩(wěn)定電子束的裝置,包括:電子槍聚光鏡(2)成像放大系統(tǒng)–物鏡–中間鏡–投影鏡(3)
2025-06-15 00:21
【摘要】掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析1.掃描電子顯微鏡的工作原理及特點(diǎn)掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5~35keV的電子,以其交叉斑作為電子源,經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束
2025-02-03 05:37