【正文】 ? EMC? OTA? 安規(guī)測試Copyright 169。Copyright 169。Copyright 169。– 設(shè)計測試裝備。測試設(shè)計概念的范圍很廣，大致可以分為以下幾類：– 設(shè)計測試平臺，用此測試平臺能進(jìn)行通用項目的測試，或是進(jìn)行能用此測試平臺作一類測試。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備測試需求的來源（續(xù)）? 應(yīng)用環(huán)境應(yīng)用環(huán)境一般可從以下幾個方面考慮：高溫、低溫、高低溫交變、鹽霧、濕熱、防塵、接地、電源、震動、沖擊、存儲、運(yùn)輸電磁兼容性Copyright 169。性能測試的異常條件主要是指邊界條件、環(huán)境異常條件及故障相關(guān)性。? 可靠性? 指標(biāo)性能需求指標(biāo)包括基帶指標(biāo)、 RF指標(biāo)、可靠性指標(biāo)和指標(biāo)容差。因此我們的測試是針對產(chǎn)品規(guī)格的測試。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備測試計劃的內(nèi)容測試計劃一般應(yīng)該包含一下的內(nèi)容：– 測試對象，明確版本，范圍，任務(wù)劃分– 角色和職責(zé)– 測試和不被測試的特性原因– 測試通過與否的標(biāo)準(zhǔn)– 測試任務(wù)安排– 測試結(jié)束的交付件– 工作量評估Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備制定測試計劃描述該測試計劃所應(yīng)達(dá)到的目標(biāo)如下（可依據(jù)項目的實(shí)際要求做適當(dāng)調(diào)整）：所有測試需求都已被標(biāo)識出來；測試的工作量已被正確估計并合理地分配了人力、物力資源； 測試的進(jìn)度安排是基于工作量估計的、適用的； 測試啟動、停止的準(zhǔn)則已被標(biāo)識； 測試輸出的工作產(chǎn)品是已標(biāo)識的、受控的和適用的。– 嚴(yán)酷度的定義是 FMEA的前提和基礎(chǔ)，有了共識的嚴(yán)酷度才可以保證 FMEA的順利開展和問題的落實(shí)。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備嚴(yán)酷度– 在某些系統(tǒng)中，最終影響的嚴(yán)重程度等級又稱為嚴(yán)酷度（有時也稱為嚴(yán)重度，系指故障模式所產(chǎn)生后果的嚴(yán)重程度）類別。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備? FMEA的意義（續(xù)）– 能為進(jìn)一步定量分析提供基礎(chǔ)；– 能為進(jìn)一步更改產(chǎn)品設(shè)計提供資料；– 能為產(chǎn)品可測試方案提供基礎(chǔ)材料；– 能為技術(shù)支援人員提供維修指南；– 為基于故障模式的測試提供依據(jù)。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備正規(guī)審查的流程– 審查專家的確定– 評審專家預(yù)審– 審查問題反饋整理– 評審會議召開– 審查問題確認(rèn)，解決– 評審問題跟蹤C(jī)opyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.課程大綱? 硬件測試概述? 測試前準(zhǔn)備? 硬件測試的種類與操作? 硬件測試參考的通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)? 測試規(guī)范制定? 測試人員的培養(yǎng)Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試概述硬件測試對公司形象和公司發(fā)展的重要性– 硬件測試是評估產(chǎn)品質(zhì)量的重要方法– 產(chǎn)品質(zhì)量是公司的信譽(yù)和品牌象征– 公司的信譽(yù)和質(zhì)量決定了公司的發(fā)展前景Copyright 169。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試概述 目前業(yè)界硬件測試的開展?fàn)顩r隨著質(zhì)量的進(jìn)一步要求，硬件測試工作在產(chǎn)品研發(fā)階段的投入比例已經(jīng)向測試傾斜，許多知名的國際企業(yè)，硬件測試人員的數(shù)量要遠(yuǎn)大于開發(fā)人員。沒有發(fā)現(xiàn)錯誤的測試也是有價值的，完整的測試是評定測試質(zhì)量的一種方法。通過分析錯誤產(chǎn)生的原因和錯誤的分布特征，可以幫助項目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前設(shè)計過程的缺陷，以便改進(jìn)。Copyright 169。測試就是要排除每一處故障和每一處隱患，從而構(gòu)建一個零缺陷的產(chǎn)品。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試概述硬件測試的目標(biāo) —— 產(chǎn)品的零缺陷關(guān)注點(diǎn)：產(chǎn)品規(guī)格功能的實(shí)現(xiàn)，性能指標(biāo)，可靠性，可測試性，易用性等。– 如果測試目的是為了給最終用戶提供具有一定可信度的質(zhì)量評價，那么測試就應(yīng)該直接針對在實(shí)際應(yīng)用中會經(jīng)常用到的商業(yè)假設(shè)。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試技術(shù)目錄1. 硬件測試概述2. 測試前準(zhǔn)備3. 手機(jī)硬件測試的內(nèi)容4. 硬件測試參考的通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)5. 測試規(guī)范制定6. 測試人員的培養(yǎng)硬件測試概述硬件測試的概念– 測試是為了發(fā)現(xiàn)錯誤而執(zhí)行操作的過程– 測試是為了證明設(shè)計有錯，而不是證明設(shè)計無錯誤– 一個好的測試用例是在于它能發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯誤– 一個成功的測試是發(fā)現(xiàn)了 “ 至今未發(fā)現(xiàn)的錯誤 ” 的測試硬件測試的目的– 測試的目的決定了如何去組織測試。手機(jī) 硬件測試技術(shù)Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.Copyright 169。如果測試的目的是為了盡可能多地找出錯誤，那么測試就應(yīng)該直接針對設(shè)計比較復(fù)雜的部分或是以前出錯比較多的位置。– 綜合評估，決定產(chǎn)品的測試方向！Copyright 169。實(shí)現(xiàn)的保障：產(chǎn)品的零缺陷構(gòu)筑于最底層的設(shè)計，源于每一個函數(shù)、每一行代碼、每一部分單元電路及每一個電信號。MTBF不是計算出來的，而是設(shè)計出來的。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試的意義測試并不僅僅是為了要找出錯誤。同時，這種分析也能幫助我們設(shè)計出有針對性地檢測方法，改善測試的有效性。Copyright 169。而且對于硬件測試人員的技術(shù)水平要求也要大于開發(fā)人員。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 硬件測試在企業(yè)價值鏈中的地位– —— 采購 —— 研發(fā) —— 測試 —— 生產(chǎn) —— 銷售 ——– 測試是每項成功產(chǎn)品的必經(jīng)環(huán)節(jié)Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.硬件測試概述硬件測試的一般流程和各階段點(diǎn)的輸出文件Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備設(shè)計檢查? 硬件設(shè)計審查? 原理圖審查? PCB審查? 發(fā)現(xiàn)硬件設(shè)計原理缺陷? 發(fā)現(xiàn)成本浪費(fèi)問題? 發(fā)現(xiàn)降額不規(guī)范設(shè)計? 發(fā)現(xiàn)布局和布線的缺陷? 發(fā)現(xiàn) EMC等專項設(shè)計缺陷Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備 FMEA（故障模式影響分析）分析系統(tǒng)中每一產(chǎn)品所有可能產(chǎn)生的故障模式及其對系統(tǒng)造成的所有可能影響，并按每一個故障模式的嚴(yán)重程度、檢測難易程度以及發(fā)生頻度予以分類的一種歸納分析方法。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備– 能幫助設(shè)計者和決策者從各種方案中選擇滿足可靠性要求的最佳方案；– 保證所有元器件的各種故障模式及影響都經(jīng)過周密考慮；– 能找出對系統(tǒng)故障有重大影響的元器件和故障模式，并分析其影響程度；– 有助于在設(shè)計評審中對有關(guān)措施（如冗余措施）、檢測設(shè)備等作客觀的評價；Copyright 169。Copyright 169。– 嚴(yán)重程度等級（嚴(yán)酷度類別）定義應(yīng)考慮到故障所造成的最壞的潛在后果來確定。Copyright 169。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試前準(zhǔn)備確認(rèn)測試需求的來源一切測試的需求都來自于產(chǎn)品設(shè)計的規(guī)格，規(guī)格來自于用戶的需求。具體可以從以下幾方面進(jìn)行考慮：? 產(chǎn)品設(shè)計功能根據(jù)功能的實(shí)現(xiàn)，分別對實(shí)現(xiàn)該功能的各個環(huán)節(jié)進(jìn)行測試，從硬件、軟件、用戶界面，只有各個環(huán)節(jié)都暢通無阻，才能保證該功能的正常實(shí)現(xiàn)。指標(biāo)一般都有相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)可查。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試設(shè)計 測試并不是簡單意義上的一些測試操作，在測試前需要有詳細(xì)的設(shè)計，周密的策劃，測試是一項高難度的工作。– 設(shè)計測試工具，設(shè)計測試軟件。– 設(shè)計測試用例，測試方法。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.測試設(shè)計的好處? 良好的測試設(shè)計和有效測試工具可減少重復(fù)低效的勞動? 有效地開發(fā)利用測試工具可使測試更深入、更全面? 有些復(fù)雜的測試只能依靠測試工具進(jìn)行自動測試? 在測試中經(jīng)常進(jìn)行測試設(shè)計是提升技術(shù)水平的有效手段? 我們在做測試工作時，不能因循守舊，需要時刻考慮如何改進(jìn)我們的測試效果，提高我們的測試效率，在測試點(diǎn)上進(jìn)行深入研究，開發(fā)測試工具，最終使我們的所有點(diǎn)的測試達(dá)到自動化。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.培訓(xùn)大綱? 硬件測試概述? 測試前準(zhǔn)備? 手機(jī)硬件測試的內(nèi)容與測試方法? 硬件測試參考的通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)? 測試規(guī)范制定? 測試人員的培養(yǎng)Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.功能測試1. 功能測試– 產(chǎn)品設(shè)計定義中的功能效果的確認(rèn)。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All righ