【正文】 ights reserved.OTA? 目的：驗證無線設備和網(wǎng)絡的連接能力以及終端使用者對輻射和接收性能的影響 .指標衡量了與基站之間的實際連接情況。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.OTAOTA 天線性能 (OTA)測試簡介? 天線性能 (OTA)測試對終端質(zhì)量評估的意義? 天線性能 (OTA)認證及入網(wǎng)要求? 天線性能 (OTA)實例分析Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.音頻 測試測試項目 單位 標準值 備注接收靈敏度 /頻率特性 在上下包絡線內(nèi)側(cè)音掩蔽評定值（ STMR） 18177。 3接收響度評定值（ RLR）Min dB ≤18Normal dB 2 177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.音頻 測試音頻 測試1. 發(fā)送響度評定值（ SLR）2. 接收響度評定值（ RLR）3. 空閑信道噪聲4. 發(fā)送靈敏度 /頻率特性5. 接收靈敏度 /頻率特性6. 側(cè)音掩蔽評定值（ STMR）7. 收聽者側(cè)音評定值（ LSTR）8. 穩(wěn)定度損耗9. 聲學回聲控制10. 發(fā)送失真11. 接收失真12. 帶外信號13. 環(huán)境噪聲抑制 Copyright 169。如果有一臺主被叫功能喪失或有一項主要射頻指標不合格，即可判定測試不合格。252。4KV， 177。 接觸放電換上接觸槍頭，將靜電類型開關調(diào)到 CONTACT，分別調(diào)節(jié)電壓到 177。10KV，沿被測機縫隙放電；每點放電 10次，每次間隔 1秒。4KV， 177。 開機狀態(tài)，空氣放電將靜電發(fā)生裝置放于參考接地板中央，靜電槍接地線與參考接地板夾緊，將靜電類型開關調(diào)到 AIR，分別調(diào)節(jié)電壓177。參考標準：國家標準 GB/試驗環(huán) 境：靜電發(fā)生器、待測手機開機、插入測試卡、充電中撥打電話 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.EMC電磁兼容性EMC電磁兼容性? 電力線感應測試? 電力線接觸測試Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.EMC電磁兼容性 EMC電磁兼容性 YD/1032_EMI_2023? 電磁騷擾測試? 輻射騷擾測試（ RE） 輻射雜散 RSE ? 傳導騷擾測試（ CE）? 諧波電流騷擾測試（ Harmonic）? 電壓波動與閃爍測試（ Fluctuctions and flicker）Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.環(huán)境試驗方法環(huán)境試驗方法移動通信手持機的環(huán)境試驗順序建議按下列順序進行 :? a)低溫試驗? b)高溫試驗? c)溫度沖擊試驗? d)沖擊試驗? e)碰撞試驗? f)振動試驗? g)恒定濕熱試驗鹽霧試驗與砂塵試驗可單獨分別進行。 按鍵壽命移動通信手持機上獨立的開關機鍵及側(cè)鍵壽命應達到 5萬次，其余按鍵的壽命都應達到使用 10萬次，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。Copyright 169。顯示屏可見面積不小于機殼正面表面積 40％或 25cm 2 的移動通信手持機應能夠在從高度為 ( 177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.機械應力試驗自由跌落移動通信手持機在關機狀態(tài)下應能夠從高度為 ( 177。對折疊、滑動及旋轉(zhuǎn)結(jié)構的手持機，應在其合蓋狀態(tài)下進行試驗。擠壓移動通信手持機開機狀態(tài)下承受 (250 177。 )J 的彈簧錘的撞擊而不能有裂紋或損壞，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.環(huán)境試驗? 砂塵移動通信手持機在關機狀態(tài)下在能通過篩孔為 75μm、金屬絲直徑為 50μm的方孔篩的干燥滑石粉、試驗箱（室）內(nèi)（工作室和管通道）灰塵量為 2kg/m3的粉塵中放置 8小時后， 液晶屏表面不允許有粉 塵，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。 2)℃ ,相對濕度為 90％～ 95％。噴霧條件為溫度為 (15～ 35)℃ ，濃度為 ( 177。鹽霧移動通信手持機在關機狀態(tài)下經(jīng)受如下嚴酷等級的交變鹽霧試驗后功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.環(huán)境試驗濕熱? 移動通信手持機在關機狀態(tài)下經(jīng)過 (40 177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.環(huán)境試驗? 振動移動通信手持機經(jīng)受如下頻率 /幅度的隨機振動試驗后應功能正常，射頻性能應符合相關標準的要求。? 碰撞移動通信手持機在關機狀態(tài)下經(jīng)受峰值加速度 250m/s 2 脈沖持續(xù)時間 6ms碰撞 3000次后，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。 3)℃ 的溫度沖擊后，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.環(huán)境試驗? 溫度沖擊移動通信手持機在關機狀態(tài)下經(jīng)受 (30 177。 3)℃ 高溫試驗 2小時后，射頻性能應符合相關標準的要求。 3)℃ 高溫存儲 16小時后，在正常大氣壓條件下恢復后，射頻性能、功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。Copyright 169。低溫工作：移動通信手持機在開機狀態(tài)下經(jīng) (－ 10 177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.可靠性測試 低溫 可靠性測試? 環(huán)境試驗 低溫 低溫存儲：移動通信手持機在關機狀態(tài)下經(jīng) (－ 40 177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.Reference sensitivity 參考靈敏度 測試方法? 測試方法：1. 模擬基站調(diào)整有用信號電平 ，使 MS的 RF 接頭處輸入電平為參考靈敏度電平 ，2. 模擬基站將發(fā)給 MS的信號數(shù)據(jù)與經(jīng)過 MS接收機解調(diào)和解碼以后環(huán)回后的數(shù)據(jù)進行比較，檢查擦除指示；3. 模擬基站通過檢查 II類連續(xù)比特最小樣本數(shù)序列，判定 II類比特殘余比特差錯事件的數(shù)目，這些比特取自 BFI 置 0的幀。標準要求：GSM900 的 2級和 3級 MS 104dBm GSM900 的 4級和 5級 MS 102dBm GSM1800 的 MS 102dBm Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.調(diào)制譜 開關譜Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.Output RF spectrum 輸出 RF頻譜標準要求Copyright 169。Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.Burst timingCopyright 169。Copyright 169。? 測試方法– MS 通過 RF 電纜與測試設備相連。? 突發(fā)脈沖定時是指 MS 接收和發(fā)送之間的時間間隙。Copyright 169。標準要求： 載波頻率誤差應小于 1*107；； RMS 相位誤差都不應超過 5o ,3. 每一個突發(fā)脈沖的有用部份的相位最大峰值誤差都不應超過20o Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.射頻指標測試項目? GSM900 RECEIVER (14) – Frame Erasure Ratio (FER)– Residual Bit Error Ratio (RBER) – Bit Error Ratio (BER) Reference sensitivity () – Reference sensitivity TCH/FS () – Usable receiver input level range ()Copyright 169。一般情況下 RF Test需要在 High、 Low、 Middle 信道上進行 RF Test.Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.射頻指標測試3. 射頻測試測試儀 器： CMU200/ Agilent 8960， PC， DC電 源，萬用表， 測試 卡， Link Cable， 數(shù)據(jù) 線 注：測試方法可結(jié)合參考 Agilent8960/CMU200操作手冊。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.電流測試環(huán)境Copyright 169。? 基站模擬器和移動臺的設置如下表所示：Copyright 169。Copyright 169。電流測試項目： – Talk Mode– Standby Mode– Feature Functionality– Camera Functionality– Video Functionality– Audio Functionality– Power On/Off Functionality 電流測試表格Copyright 169。 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.手機硬件測試的種類與測試方法手機硬件測試項目：? 功能測試? 電流測試? 射頻測試? 可靠性測試? 音頻? ESD