【正文】 為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： XXX機器編號： XXX部門： XXX日期： XXX工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5/2h零件號： XXX零件名稱： XXX* 樣本容量小于7 時，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖A 2 步驟： 最早的4 個分組6 8. 6 5. 7 0. 6 5. 6 5. 8 53 . 5 0. 7 0. 2 0. 7 5 . 7 5. 8 5. 7 5. 8 5. 6 53 . 8 5. 7 7. 2 0. 8 0. 8 0. 7 0. 7 53 . 8 0. 6 0. 7 0. 7 0. 7 5. 6 53 . 4 0. 7 6 . 6 8. 1 0 . 1 5A 3 步驟： 對于第一個子組 和= . 6 5 + . 7 0 + . 6 5 + . 6 5 + . 8 5 = 3 . 5 0 均值X = 3 . 5 0 / 5 = . 7 0 極差R = . 8 5 . 6 5 = . 2 027 A4選擇控制圖的刻度 兩個控制圖的縱坐標分別用于 Xbar和 R的測量值。 最小值最大值 XXRnXXXX n?+++? ?2126 12345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。 對每個子組，計算： 式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個測量值。同時還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（ Xbar）、極差（ R）以及日期 /時間或其他識別子組的代碼的空間。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點應(yīng)縱向?qū)R。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： XXX機器編號： XXX部門： XXX日期： XXX工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5/2h零件號： XXX零件名稱： XXX* 樣本容量小于7 時，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖開始 A 1 步驟24 A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) XbarR 圖通常是將 Xbar圖畫在 R圖之上方，下面再接一個數(shù)據(jù)欄。 c. 子組數(shù)的大小 一般 100個單值讀數(shù)， 25個子組 23 12345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。 x x x x ? ? 3 3 + x x x ? ? 3 3 + 中心線 上控制限 UCL 下控制限 LCL 個別值的正態(tài)分布 平均值的正態(tài)分布 控制圖的正態(tài)分布 C 18 產(chǎn)品質(zhì)量波動及其統(tǒng)計描述 連續(xù) 離散 計量值 計數(shù)值 計件值 產(chǎn)品質(zhì)量特性 定性 定量 計數(shù)值 19 常規(guī)休哈特控制圖 數(shù)據(jù)特征 分布 控制圖 簡記 計量值 正態(tài)分布 均值 —極差控制圖 XR 均值 —標準差控制圖 XS 中位值 —極差控制圖 XR 單值 —移動極差控制圖 XMR 計 數(shù) 值 計件值 二項分布 泊松分布 不合格品率控制圖 p 不合格品數(shù)控制圖 np 計點值 單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 u 不合格數(shù)控制圖 c 20 控制圖建立的五個步驟 B收集數(shù)據(jù) C計算控制限 D過程控制解釋 E過程能力解釋 A確定項目 21 XbarR圖 Ａ階段收集數(shù)據(jù) A2選擇子組大小 、 頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A3建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) A4計算每個子組的均值和極差 R A5選擇控制圖的刻度 A6將均值和極差畫到控制圖上 A1確定項目 、 明確分析的目的 22 A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) a. 子組大小 ? 使各樣本之間出現(xiàn)變差的機會小 ? 在過程的初期研究中，子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個單一的過程流。就是一張典型的控制圖 — 單值控制圖。 ? 休哈特正是據(jù)此發(fā)明了控制圖。 16 控制圖原理 3?原則 ? 不論 ?與 ?取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為 3 ? ，則產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在范圍內(nèi)的為%。 ? 1924年， 美國休哈特 ()博士 提出將 3?原理運用于生產(chǎn)過程當中， 首創(chuàng)過程控制理論并發(fā)表了控制圖法，形成 SPC的基礎(chǔ)。 15 SPC基礎(chǔ) ? 大規(guī)模生產(chǎn)的出現(xiàn)產(chǎn)生一個突出問題 — 如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量。 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ,為過程分析提供依據(jù) 。 ? 有利于過程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測地保持下去 。 目標值線 如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定。 7 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個分布 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 8 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之四 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? 局部措施 ? 消除變差的特殊原因 —— 局部措施 (屬于糾正和預(yù)防措施 ) ? 統(tǒng)一刀具 、 穩(wěn)定情緒 、 統(tǒng)一材料 、 修復(fù)設(shè)備 （ 操作者可以解決 ， 解決 15％ 問題 ） ? 系統(tǒng)措施 ? 減少變差的普通原因 —— 采用系統(tǒng)的方法 (屬于持續(xù)改進 ) ? 人員培訓(xùn) 、 工藝改進 、 提高設(shè)備精度 （管理層解決，解決８５％問題） 9 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之五 過程控制和過程能力 簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除過程的特殊原因，使過程處于受控狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，這樣就可評定滿足顧客期望的能力。 6 普通原因和特殊原因變差的分析 ? 當過程僅存在變差的普通原因時 ， 過程處于受控狀態(tài) ， 這個過程處于穩(wěn)定過程 ， 產(chǎn)品特性服從正態(tài)分布 。 如：刀具不一致 、模具不一致 ， 材料不一致 ， 設(shè)備故障 ， 人員情緒等 。 如操作技能 、 設(shè)備精度 、 工藝方法 、 環(huán)境條件 。1 汽車行業(yè)質(zhì)量體系系列培訓(xùn)教材 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control 2 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 1. 預(yù)防與檢測 2. 過程控制系統(tǒng) 3. 變差：普通原因及特殊原因 4. 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 5. 過程控制和過程能力 6. 過程改進循環(huán)及過程控制 7. 控制圖：過程控制工具 8. 控制圖的益處 3 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之一 預(yù)防與檢測 ? 過程控制的需要 ? 檢測 — 容忍浪費 ? 預(yù)防 — 避免浪費 4 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之二 過程控制系統(tǒng) 我們工作 的方式 資源的融合 產(chǎn)品 或 服務(wù) 顧客 識別不斷變化 的需求和期望 顧客的聲音 人 ? 設(shè)備 ? 材料 ? 方法 ? 環(huán)境 ? ? 輸入 ? 過程 /系統(tǒng) ? 輸出 過程的聲音 統(tǒng)計方法 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 5 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之三 變差的普通原因及特殊原因 ? 變差： 一個數(shù)據(jù)組對于目標值有不同的差異 。 ? 變差的普通原因： 指的是造成隨著時間的推移具有 穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布作用在過程 的許多變差的原因 ， 即常規(guī)的 、 連續(xù)的 、 不可避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因 。 ? 變差的特殊原因： 指的是造成 不是始終作用于過程的變差的原因 ，當原因出現(xiàn)時 ， 將造成過程的分布的改變 ， 即特殊的 ， 偶然的 ， 斷續(xù)的 ， 可以避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因 。 特點：不是始終作用在每一個零件上 ， 隨著時間的推移分布改變 。 ? 當過程存在變差的特殊原因時，這時輸出的產(chǎn)品特性不穩(wěn)定，過程處于非受控狀態(tài)或不穩(wěn)定狀態(tài) 。 滿足要求 受控 不受控