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msa測量系統(tǒng)分析介紹-展示頁

2025-07-04 22:00本頁面
  

【正文】 值:9790420 Key 高規(guī)格:177。 標準偏差(Standard Deviation) %GRR= 計量值數(shù)據(jù)的量測系統(tǒng)分析【例71】分析法是以全距來估計各項因素的標準偏差,茲以下面的表格來說明。 變異數(shù)分析法(ANOVA)l 以%GRR的計算法分成:178。l 以變異的估計法分成:178。l 將數(shù)據(jù)登錄于適當?shù)挠嬎銠C軟件,業(yè)界流通許多Excel檔案,可以直接輸入就可計算出%GRR的結(jié)果,分析功能最完整的要屬MINITAB。再由第二位檢驗員以同樣的方式進行并登錄至記錄表,同樣由第三位檢驗員登錄至記錄表。l 開始量測之前先將儀器設(shè)備校正之。3. 計劃實施l 識別組成的檢驗人員,若樣品的量測位置有兩個以上,則在每個樣品上標記同一量測位置。l 選取實驗樣品,個數(shù)k=5~10個,當儀器設(shè)備的能力未知時k=10個,當儀器設(shè)備以前的能力曾合格時k=5個。l 選定平常使用該儀器設(shè)備的檢驗員,人數(shù)m=2~3人,當儀器設(shè)備的能力未知時m=3人,當儀器設(shè)備以前的能力曾合格者時m=2人。R)計量值數(shù)據(jù)的量測系統(tǒng)分析,其流程如【圖77】。為了使問題單純化,我們將量測系統(tǒng)變異只考慮再現(xiàn)性及再生性的變異,而且假設(shè)儀器設(shè)備與人員的使用是獨立的,即,σRamp?!緢D74】 量測系統(tǒng)再生性l 穩(wěn)定性(Stability):一儀器設(shè)備依時間的不同,隨環(huán)境的改變、電力的變動或儀器設(shè)備的老化造成的變異,如【圖75】所示?!緢D73】 量測系統(tǒng)再現(xiàn)性l 再生性(Reproducibility):不同人員使用同一儀器設(shè)備,重復(fù)量測同一樣品的同一特性,所得數(shù)據(jù)的變異,如【圖74】所示。 樣品l 再現(xiàn)性(Repeatability):同一人員使用同一儀器設(shè)備,重復(fù)量測同一樣品的同一特性,所得數(shù)據(jù)的變異,如【圖73】所示。 量測人員的個人誤差178?!緢D72】 量測系統(tǒng)誤差一般引起量測系統(tǒng)誤差的原因包括如下:178。若能降低量測系統(tǒng)引起的變異,可以使觀測數(shù)據(jù)的總變異減小,如【圖72】所示。實際量測產(chǎn)品或制程數(shù)據(jù),其觀測得的數(shù)據(jù)受到很多原因影響,假設(shè)各原因是相互獨立的,可以由變異表示之,如下式。l 量測系統(tǒng)準確性(Accuracy):同一人員使用同一儀器設(shè)備,重復(fù)量測同一樣品的同一特性,所得數(shù)據(jù)的平均數(shù)與真值的差,如【圖71】所示。以下介紹幾個專有名詞。絕大部份的數(shù)據(jù)都需經(jīng)由量測系統(tǒng)而得,若量測系統(tǒng)中的設(shè)備及人員的誤差很大,則直接影響制程觀測數(shù)據(jù)的誤差,以誤差大的制程觀測數(shù)據(jù)作為制程問題對策的依據(jù),其付出的代價是很難衡量的。儀器設(shè)備系統(tǒng)分析(MSA)以簡單的實驗及統(tǒng)計分析就能衡量儀器系統(tǒng)的變異,并分離儀器設(shè)備及檢驗人員的變異,以此為儀器設(shè)備系統(tǒng)管理的依據(jù)。業(yè)界除了對儀器設(shè)備進行有效的管理之外,對于制程管制系統(tǒng)中使用的量測系統(tǒng)進行研究是很重要的。第七篇 量測系統(tǒng)分析(Measurement System Analysis) 量測系統(tǒng)分析 183 計量值量測系統(tǒng)分析 187 計數(shù)值量測系統(tǒng)分析 204SPC是對任何場所依計劃收集的數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)進行簡單的統(tǒng)計分析,以分析制程是否穩(wěn)定,而據(jù)以采取對策。然而絕大部份的數(shù)據(jù)都需經(jīng)由量測系統(tǒng)而得,若量測系統(tǒng)中的設(shè)備及人員的誤差很大,則直接影響制程觀測數(shù)據(jù)的誤差,以誤差大的制程觀測數(shù)據(jù)作為制程問題對策的依據(jù),其付出的代價是很難衡量的。計量值由儀器設(shè)備直接或經(jīng)由人員檢驗讀取量測結(jié)果;計數(shù)值由儀器設(shè)備自動判定或由人員目視判定OK/NG或GO/NOGO,兩者皆受儀器設(shè)備本身或檢驗人員的影響。SPC是對任何場所依計劃收集的數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)進行簡單的統(tǒng)計分析,以分析制程是否穩(wěn)定,而據(jù)以采取對策。業(yè)界除了對儀器設(shè)備進行有效的管理之外,對于制程管制系統(tǒng)中使用的量測系統(tǒng),分析其準確性(Accuracy)、穩(wěn)定性(Stability)、再現(xiàn)性(Repeatability)及再生性(Reproducibility)的研究是很重要的。l 量測系統(tǒng):包含儀器設(shè)備(Gauge)、使用人員、方法、樣品及環(huán)境?!緢D71】量測系統(tǒng)準確性l 量測系統(tǒng)精密度(Precision):總合影響量測系統(tǒng)的再現(xiàn)性、再生性及其他因素引起的變異。:觀測數(shù)據(jù)的總變異,:第i個原因的變異,i=1,2,...,k一般影響制程觀測數(shù)據(jù)的原因不是很容易確認及解釋,但是我們可以用實驗來確認因量測系統(tǒng)引起的變異及產(chǎn)品或制程本身的變異,如下式。因此,如何衡量量測系統(tǒng)的誤差而且保證其誤差在一定的程度下,是量測系統(tǒng)分析的主要目的。 儀器設(shè)備本身178。 環(huán)境178。儀器設(shè)備本身的變異,或稱Equipment Variation,一般以標準偏差表示或。不同人員之間的差異,或稱Appraisers Variation, 一般以標準偏差表示或?!緢D75】 量測系統(tǒng)穩(wěn)定性準確性可依儀器的校驗計劃來調(diào)整其偏差,再現(xiàn)性及再生性一般影響較大,容易造成產(chǎn)品的誤驗,如【圖76】所示,而且在現(xiàn)場就可進行分析。R:量測系統(tǒng)誤差σEV:儀器設(shè)備誤差σAV:檢驗人員的誤差 【圖76】 量測系統(tǒng)變異造成觀測值變異增大 計量值數(shù)據(jù)的量測系統(tǒng)分析 (Variable Ramp。首先應(yīng)訂定一份研究計劃,其計劃的目的及內(nèi)容,建議如下:【圖77】 計量值數(shù)據(jù)的量測系統(tǒng)分析流程圖1. 計劃目的= 儀器設(shè)備是否需要校驗?= 儀器設(shè)備是否可供使用?= 儀器設(shè)備是否有人為因素造成?= 儀器設(shè)備是否需要修正校驗周期及頻率?2. 計劃內(nèi)容l 組成項目小組。l 決定重復(fù)次數(shù)n=2~3次,當儀器設(shè)備的能力未知時n=3次,當儀器設(shè)備以前的能力曾合格時n=2次。l 儀器設(shè)備的最小刻度讀數(shù):至少為公差范圍的十分之一,㎜,㎜。l 將每個樣品加以編號以識別之。l 由第一位檢驗員以隨機的次序量測各樣品一次并登錄至量測系統(tǒng)%GRR記錄表,如【表71】。l 重復(fù)前一檢驗直到重復(fù)次數(shù)完成,檢驗進行中檢驗員不要相互參考量測結(jié)果,也不得參考前一次的結(jié)果。4. 計算%GRR一般在業(yè)界流通的方法大概有幾種,以下詳細說明其中的道理。 分析法178。 變異數(shù)分量(Variance Component) %GRR=178。Gauge Ramp。執(zhí)行者:檢驗員:A:Yangzhuo B:HaoJianC:FuMeihong檢驗員重復(fù)次數(shù)零件編號平均數(shù)12345678910檢驗員A1 2 平均數(shù)全距檢驗員B1 2 平均數(shù)全距檢驗員C1 2 平均數(shù)全距
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