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2025-07-04 19:45本頁面
【正文】 – 折射率測量：N（光譜）產(chǎn)品線使用/Ramp。在線測量AudioDev提供獨一無二的膜厚折射率測量設(shè)備， Helios Inlinetn是可以集成到現(xiàn)有的電池生產(chǎn)在線使用！通過尋找工藝上的不穩(wěn)定性的原因，來提高電池的質(zhì)量和轉(zhuǎn)換效率。k 有很大的影響。Helios Inline tn電池片薄膜測量SiNx膜厚，折射率系數(shù)Helios Inline tn減反射膜的表面鈍化（surface passivation）和擴散勢壘(diffusion barriera)對晶硅電池片的轉(zhuǎn)換效率和長期穩(wěn)定性起著很重要的作用，性能好的(aSiNx:H)薄膜廣泛的應(yīng)用于此。而工藝參數(shù)的控制比如氣壓和溫度等，對電池片AR膜膜厚，顏色和光學(xué)常數(shù)namp。一般來說，要花費很多時間和熟練的技巧來獲得精確的數(shù)據(jù)，以此來支持生產(chǎn)工藝的優(yōu)化。比如，鍍膜的不均勻性，鍍膜機參數(shù)漂移，硅片切割工藝和制絨工藝上的不均一性都會影響電池的質(zhì)量和效率。D部門使用在線/每一片硅片測量非破壞式和非接觸式靜態(tài)和動態(tài)測量應(yīng)用在所有相關(guān)晶硅電池– 多晶 amp。掃描測量每一片單獨的硅片 (每片幾個點)或者測量對角線上的電池片（每片幾個
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