【正文】 刷后 模組示例單晶絨面SiN薄膜硅片. 20 個(gè)點(diǎn)斜線掃描測量膜厚折射率顯示 單晶硅片測量數(shù)據(jù)膜厚和折射率SiN薄膜多晶絨面硅片，20個(gè)點(diǎn)斜線掃描測量，反射率光譜曲線，折射率光譜曲線和測量數(shù)據(jù)優(yōu)化你的工藝參數(shù)電池片測試/分選機(jī)和顏色測試是最終的產(chǎn)品測試，這只是判斷電池片合格率，但是并不能提供直接的信息來判斷工藝參數(shù)是否超出了預(yù)期的設(shè)置優(yōu)化生產(chǎn)線工藝參數(shù)是，監(jiān)控并優(yōu)化產(chǎn)線上的每一個(gè)工站的參數(shù)，達(dá)到控制和優(yōu)化整條生產(chǎn)線的效果。 2176。 SWEDEN +46 40 690 49 00 f), 濕度: 80 %(非凝固)機(jī)械單元 不包含PC / 軟件PC 要求 Windows