【摘要】蘇玉長第三章透射電子顯微鏡成象原理與圖象解釋蘇玉長金相顯微鏡及掃描電鏡均只能觀察物質(zhì)表面的微觀形貌,它無法獲得物質(zhì)內(nèi)部的信息。而透射電鏡由于入射電子透射試樣后,將與試樣內(nèi)部原子發(fā)生相互作用,從而改變其能量及運(yùn)動方向。顯然,不同結(jié)構(gòu)有不同的相互作用。這樣,就可以根據(jù)透射電子圖象所獲得的信息來了解試
2025-05-10 18:20
【摘要】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)2.電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構(gòu)造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應(yīng)用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)
2025-01-19 18:03
【摘要】1第四章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造一、工作原理二、構(gòu)造與主要性能第二節(jié)像襯原理與應(yīng)用一、像襯原理二、應(yīng)用第三節(jié)電子探針X射線顯微分析(EPMA)
2025-01-19 19:11
【摘要】掃描電鏡的圖像分析掃描電鏡分辨率定義為能夠清楚地分辨試樣上最小細(xì)節(jié)的能力,通常以清楚地分辨二次電子圖象上兩點(diǎn)或兩個(gè)細(xì)節(jié)之間的最小距離表示,如上圖示。分辨能力是SEM最重要的性能指標(biāo),目前,鎢燈絲SEM二次電子像的分辨率為3nm~6nm,但是,這不是日常工作能實(shí)現(xiàn)的,只是驗(yàn)收指標(biāo),它與觀察條件、圖象的亮度、對比度、信噪比
2025-05-14 22:48
【摘要】掃描電鏡ScanningElectronMicroscopeSEM2022-04-18主要內(nèi)容?一、SEM的結(jié)構(gòu)、原理?二、SEM的操作?三、SEM在高分子研究中的應(yīng)用?四、儀器最新進(jìn)展?五、同類儀器比較S4800冷場一、SEM的結(jié)構(gòu)、原理?掃描電子顯微鏡由三大部分
2025-01-23 17:19
【摘要】電鏡下的細(xì)胞三峽醫(yī)藥高等??茖W(xué)校林小渝【紅血球】從這張圖片上看,它們很像肉桂色糖果,但事實(shí)上它們是人體里最普通的血細(xì)胞——紅血球。這些中間向內(nèi)部凹陷的細(xì)胞的主要任務(wù),是將氧氣輸送到我們的整個(gè)身體。在女性體內(nèi),每立方毫米血液中大約有400萬到500萬個(gè)紅血球,男性每立方毫米血液中有大約500萬到600個(gè)紅血球。
【摘要】三:電子束與樣品的相互作用SEM能顯示各種圖像的信息是由于電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號。選擇參數(shù)合適的電子束照射到樣品上,形成圖像的信息來源于樣品上電子束照射的部位,理想情況是信息取樣面積應(yīng)該等于電子束的直徑,但是實(shí)際上并非如此。1.散射2.相互作用區(qū)3.背散射電子4.二次電子
【摘要】掃描電鏡的圖像分析主講:金永中2022年10月1分辨率和放大倍數(shù)掃描電鏡分辨率定義為能夠清楚地分辨試樣上最小細(xì)節(jié)的能力,通常以清楚地分辨二次電子圖象上兩點(diǎn)或兩個(gè)細(xì)節(jié)之間的最小距離表示,如上圖示。分辨能力是SEM最重要的性能指標(biāo),目前,鎢燈絲SEM二次電子像的分辨率為3nm~6nm,但是,這不
2025-05-14 22:34
【摘要】第五章掃描電鏡生物樣品制備技術(shù)常規(guī)電鏡樣品要求:必須是干燥的,不含水分或可揮發(fā)性物質(zhì);具有一定機(jī)械強(qiáng)度,能耐受電子束轟擊;具有導(dǎo)電性,被激發(fā)時(shí)能夠產(chǎn)生足夠的二次電子。生物材料特點(diǎn):含水分多,質(zhì)地柔軟,機(jī)械強(qiáng)度小;組成元素的原子序數(shù)低,
2025-05-14 03:05
【摘要】透射電子顯微鏡生物制品制備技術(shù)?組織學(xué)與胚胎學(xué)教研室:蘇衍萍冷凍蝕刻法超薄切片冷凍蝕刻法冷凍割斷術(shù)細(xì)胞化學(xué)法免疫組織化學(xué)技術(shù)免疫電鏡法電鏡放射自顯影術(shù)放射自顯影技術(shù)掃描電鏡技術(shù)被吞噬的紅
2025-05-11 07:44
【摘要】掃描電子顯微術(shù)ScanningElectronMicroscopy電子顯微的一個(gè)粗略年表1930年末:第一臺透射電子顯微鏡1935年:德國的Knoll提出了掃描電鏡的概念(STEM的概念,100mm分辯率)1938年:VonArdenne開始進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室研究,SEM50mm分辨率1942:Zworykin.Hill
2025-01-26 18:53
2025-01-19 18:40
2025-01-19 17:36
【摘要】X射線光電子能譜分析XPSXPS—X-raysPhotoelectronSpectroscopyESCA—ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis愛因斯坦:光電效應(yīng)?50年代,XPS譜儀?60年代,發(fā)展成為商用儀器?主要:PHI公司,VG公司,Ka
2025-05-22 16:44
【摘要】材料近代分析測試方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)-透射電鏡實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)教師:緱慧陽張樂欣材料學(xué)院綜合實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)一透射電鏡的結(jié)構(gòu)與組織觀察一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模═EM:transmissionelectronmicroscope)的成像原理,觀察基本結(jié)構(gòu);TEM像的基本特征和分析方法。二、透
2025-03-02 11:43