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最新電子元器件來料檢驗規(guī)范-展示頁

2025-04-16 23:13本頁面
  

【正文】 系列靜態(tài)電流 Iq 不 超過 8mA常溫(25177。)在常溫(25177。3℃)下,穩(wěn)壓器輸入規(guī)定範圍內的 恒定直流輸入電壓 Vi,然後在規(guī)定範圍內改變輸出 電流 Io(L7805CV:),輸出電壓 Vo 應在 規(guī)定值範圍內。(注意在測試過程中應保證 環(huán)境溫度、輸出電流不變, 穩(wěn)壓器的功耗 Po 不超過極限 值 15W。修訂記錄修改次數(shù)日期內容參考文件供應商器件確認書、檢驗規(guī)範文件編號編制:日期:版本審核:日期: 受控印章批準:日期:檢 驗 指 導 書機型適用於通用產品工序時間無工序名稱三極管檢驗工序編號無測試工具/儀器:萬用表/半導體特性圖示儀檢驗員IQC圖示:檢驗步驟及內容輸出電壓 VoL7805CV: L7812CV:—在常溫(25177。檢驗時要重點檢查來料標示是否與確認書一致。將 PASS 好的物料做好標識放入指定 區(qū)域,並做好相關記錄。(具體波形圖示參照相應規(guī)格承認書或樣板).。版本審核:日期: 。供應商器件確認書、檢驗規(guī)範B.用半導體圖示儀測試:文件編號編制:日期: . 按下峰值鍵 10V 鍵測試選擇左鍵,調節(jié)圓點座標在(3)位置。如是紅(黑)表筆搭住“B”極該三極管為 NPN(PNP)型。材質驗證:參照樣板對來料材質進行相關驗證是否與樣板有無不符。檢測時,測量資料是否在規(guī)格標準的誤差範圍內。檢驗時要重點檢查來料標示是否與確認書一致?!?附有供應商的出廠檢驗報告,報告內容必須與實物一致?!?盤式結構的支架應完好無破損,器件保護帶整潔完好;》 支架上應有()?!?封體光潔,無影響裝配或成形的毛刺及缺損。》 。. 取待檢物料,準備檢驗工具/儀器,對照相應產品製造標準書,參照樣板或規(guī)格承認書,以 IQC 檢驗標準為依據(jù),按 AQL:。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域,並做好相關記錄。設置正修訂記錄確後,LED 將顯示頻率計所測試到的正確頻率(如須長時間保留測試資料,將 HOLD 鍵按入)。亮.(10MHZ100MHZ 頻率範圍時將 PRESCALE 鍵按入, 1HZ~`10MHZ 頻率範圍時將 PRESCALE 鍵測試前應將晶振由 5070CM 高處自由跌落木版上面,在進行電性能測試。晶振應根據(jù)所用機型的負載電容和等效電阻的大小對應插座孔插入進行. 測試點在 80MHZ~ 頻率範圍時將 FUNC 設置鍵設置到 FREQ B 位 LED 燈亮.測試。所照參樣板必須為合格樣板。按正確方式連接頻率計和晶振測試架(如右圖所示),打開電源開關按被測晶振所配負載電容大小,將晶振引腳插入相應的插座位置,根據(jù)測試點電壓、頻率範圍不同將頻率計進行正確設置:測試架第一次測試前由領班或技術員校正後才能進行測試。材質驗證:參照樣板對來料材質進行相關驗證是否與樣板不符,如:外殼分銅質金屬外殼和陶瓷等。包裝/外觀檢查:檢查包裝應合理,有無按常規(guī)或指定材料包裝(以不傷物料本體為原則),標示內容是否與確認書一致,本體有無破損、外殼、引腳有無氧化發(fā)黑、中振極性標識位置與樣板是否相同等。A 類不合格 AQL= B 類不合格 AQL= 替代法測試的物料必須全部滿足指標要求 定義:A 類不合格:指對本公司產品性能、安全、利益有嚴重影響不合格項目 B 類不合格:指對本公司產品性能影響輕微可限度接受的不合格項目 檢驗儀器、儀錶、量具的要求 所有的檢驗儀器、儀錶、量具必須在校正計量器內 檢驗結果記錄在“IQC 來料檢驗報告”中目錄序號材料名稱材料類型備註頁數(shù)1晶振元器件類SMD 部品12三極管元器件類SMD 部品23貼片三極管元器件類SMD 部品44鋁電解電容元器件類安全部品65高壓陶瓷電容元器件類EMC 部品76片狀電容(SMD)元器件類SMD 部品、EMC 部品87電阻(外掛程式與貼片)元器件類SMD 部品98貼片電感元器件類SMD 部品、EMC 部品109色環(huán)電感元器件類SMD 部品、EMC 部品1110貼片二極體元器件類SMD 部品1211穩(wěn)壓二極體元器件類安全部品1312整流二極體元器件類安全部品1413三端穩(wěn)壓器元器件類安全部品1514開關二極體元器件類安全部品1415瞬態(tài)抑制二極體元器件類安全部品1616壓敏電阻元器件類EMC 部品1717TVS 管元器件類EMC 部品1818濾波器元器件類EMC 部品12019扼流圈元器件類EMC 部品2120三端穩(wěn)壓器元器件類安全部品2221整流橋堆元器件類安全部品2322保險管元器件類安全部品2423繼電器元器件類關鍵部品2524變壓器元器件類關鍵部品2625可控矽元器件類關鍵部品27/2826光電耦合器元器件類關鍵部品2927發(fā)光數(shù)碼管元器件類常用部品3028LED 燈元器件類常用部品3129紅外發(fā)射管元器件類常用部品3230紅外接收頭元器件類常用部品3331蜂鳴器元器件類常用部品3432電源適配器模組類常用部品35/36/37/3833IC 晶片元器件類常用部品3934CMOS 攝像頭模組類關鍵部品4035CCD 攝像頭模組類關鍵部品4136RF433 發(fā)射模組模組類關鍵部品4237RF433 接收模組模組類關鍵部品4338WIFI 模組模組類關鍵部品4439電源模組模組類關鍵部品4540觸控式螢幕模組類關鍵部品4641液晶屏模組類關鍵部品4742MX27 核心板模組類關鍵部品4843窗簾馬達模組類關鍵部品4944玻璃非元器件類關鍵部品5045按鍵、撥碼開關非元器件類常用部品5146裝飾條非元器件類常用部品5247線座、外掛程式、插座非元器件類常用部品5348天線非元器件類常用部品5449塑膠機殼非元器件類常用部品5550常規(guī)物料非元器件類常用部品5651包材類非元器件類常用部品5752電子料類非元器件類常用部品5853輔料類非元器件類常用部品5954說明書非元器件類常用部品6055通用檢查項目6167檢 驗 指 導 書機型適用於通用產品工序時間無工序名稱晶振、中振檢驗工序編號無測試工具/儀器: 頻率計、晶振測試架檢驗員IQC圖示:頻率計 頻率計PPM 值的計算:如 27MHZ晶振,+/30PPM檢驗步驟及內容轉化為百分比為百萬分之:對單、抽樣:30 =30/10 X( 27X10 ). 根據(jù)貨倉開出的 IQC 品檢報告單或上料單,核對上料供方是否為合格供方,再查找相應訂單和產品==810MHZ製造標準書,核實相應機型和數(shù)量。 非元器件類:按照 GN 282887 正常檢查一次抽樣方案,特殊檢查水準Ⅲ進行。本檢驗指導書由品管部 QE 負責編制和維護,品管部主管負責審核批準執(zhí)行。三、責任:IQC 在檢驗過程中按照檢驗指導書所示檢驗專案,參照供應商器件確認書對來料進行檢驗。適用對元件檢驗方法和範圍的指導。IQC 來料檢驗指導書75 / 75產品名稱: 版 本: 制定日期: 生效日期:電子物料制作人: 審核人:批準人:受控印章:檢驗說明:一、目的:對本公司的進貨原材料按規(guī)定進行核對總和試驗,確保產品的最終品質。 二、範圍:適用於 IQC 對通用產品的來料檢驗。適用於 IPQC、QA 對產品在制程和終檢時,對元件進行覆核查證。檢驗標準參照我司制定的 IQC《進料檢驗規(guī)範》執(zhí)行。 四、檢驗 檢驗方式:抽樣檢驗 抽樣方案:元器件類:按照 GB 282887 正常檢查一次抽樣方案,一般檢查水準Ⅱ進行。 盤帶包裝物料按每盤取 3 只進行測試 替代法檢驗的物料其替代數(shù)量根據(jù)本公司產品用量的 2~3 倍進行替代測試 合格品質水準:AQL 為 acceptable quality level 驗收合格標準的縮寫。晶振即 27MHZ+/30PPM. 取待檢物料準備檢驗工具/儀器,對照相應產品製造標準書,參照樣板或規(guī)格承認書,以 IQC 檢驗晶振測試示意圖=標準為依據(jù),按 AQL:。規(guī)格測量:試裝觀察各部位大小形狀與樣板(或確認書)有無不同,封裝形式有無不同(如:U 和 S 封裝)用相應測量工具再進行測量,需要試裝才能確認的應進行相應試裝。注意事項性能測試:物料送檢時要及時檢驗。. 試點電壓在 3~42V 範圍將 VOLTAGE 鍵按入。. 測試點電壓在 50mV~5V 範圍將 VOLTAGE 鍵按出。. 測試點在 1HZ ~ `100MHZ 頻率 範圍 時將 FUNC 設置鍵設 置到 FREQ A 位 LED 燈當引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。按出.. 為了讀出精確的測試頻率將 GATE 鍵按入進行倍數(shù)設置,可分別設置為 XI、XX1000。判定/標識將:修改次數(shù)日期內容參考文件不良品標識清楚並及時隔離,以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。供應商器件確認書、檢驗規(guī)範文件編號編制:日期:版本審核:日期:受控印章批準:日期:檢 驗 指 導 書機型適用於通用產品工序時間無工序名稱三極管檢驗工序編號無測試工具/儀器:萬用表/半導體特性圖示儀檢驗員IQC圖示:檢驗步驟及內容電氣圖對單、抽樣:. 根據(jù)貨倉開出的 IQC 品檢報告單或上料單,核對上料供方是否為合格供方,再查找相應訂單和產品製造標準書,核實相應機型和數(shù)量。包裝/外觀檢查:》 內外包裝標示明確()?!?核對樣品,表面字元要與樣品相符,且用酒精擦洗 15S 絲印完好?!?引腳牢固,光亮筆直,無機械傷痕,變形等缺陷。且應符合確認書要求;實物圖》 元器件無損傷,引出端鍍層無氧化、無鏽跡、無汙物.》 對應的三個腳正確.注意事項》 元器件上絲印應與樣品一致.物料送檢時要及時檢驗?!?要求用防靜電包裝,|靜電電壓|≤?!?外包裝及最小包裝要求貼有 RoHS 標記,並提供合格 RoHS 報告。規(guī)格測量:用相應測量工具測量物料各部位大?。ㄗ⒁夥庋b形式與要求是否相同),與要求是否相符,需要試裝才能確認的應進行相應試裝。性能測試:A.數(shù)位萬用表測試:將萬用表打到二極體檔用紅(黑)表筆搭三極管假設為“B”極的其中任意 1 腳,再用黑(紅)表筆分別搭另外修訂記錄2 腳,如萬用表顯示讀數(shù)為“0”時,再假設另外 2 腳的其中 1 腳為“B”極或對調表筆顏色直到萬用表顯示有數(shù)位為止(一般為 左右),其中表筆不動的公共腳為 B 極,表筆分別搭住三極管的另外的 2 個引腳為 E、C 極。再將萬用表檔位打到“HFE”檔,將三極管插入萬用表上相應修改次數(shù)日期內容參考文件的 NPN 或 PNP 插座,如 LCD 顯示放大倍數(shù)為“0”對換三極管 C/E 極再插入一次,LCD 將顯示該三極管的放大倍數(shù)數(shù)值,觀察是否在三極管絲印標識的放大倍數(shù)等級範圍內(如右圖所示)。X 選擇 1V 檔,Y 選擇 2MA 檔,功耗 250Ω,階梯信號為 10 級,電壓電流級 5UA。 特性曲線測試:設定正確後,取待檢三極管對應插座‘EBC’按正確腳位插入,觀察螢光屏波形有無失真,波形間距是否均勻,調節(jié)峰值電壓%,使波形向右延伸至合適長度,(如圖所示)最高一級縱坐標 Y 相交點在(0,受控印章批準:日期:集電極基極截止電ICBO 應符合產品規(guī)格書要求輸入測試條件 Vcb,Ie=0 後,用耐壓測試儀測耐壓測試流 Icbo(見附表)出截止電流 Icbo.儀放大倍數(shù) Cpk 值放大倍數(shù) Cpk 值≥1按其規(guī)格書要求取其放大倍數(shù)範圍,取 25個資料並計算 Cpk 值電晶體測試儀飽和電壓VcesIces 應符合產品規(guī)格書要求(見附表)輸入條件 Ie,
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