數(shù)據(jù)信號的測量技術(shù)-展示頁
2025-05-21 03:00本頁面
【正文】 3．故障特征的描述 ? 故障性質(zhì) ? 故障的值 ? 故障的范圍 ? 故障的持續(xù)時間 邏輯電路的簡易測試 對于一般的邏輯電路 ， 如分立元件 、 中小規(guī)模集成電路及數(shù)字系統(tǒng)的部件 ， 可以利用示波器 、 邏輯筆 、 邏輯比較器和邏輯脈沖發(fā)生器等簡單而廉價的數(shù)據(jù)域測試儀器進行測試 。 另一類故障是由物理原因引起的 ，稱為物理故障 。 失效的根源是故障 ， 但故障并不等于失效 。 一般有 ?窮舉測試法 ?功能測試法 ?結(jié)構(gòu)測試法 ?隨機測試法 4．數(shù)據(jù)域測試的步驟 一般分三個階段進行： 1. 測試生成 2. 測試評價 3. 測試實施 5．數(shù)據(jù)域測試主要設(shè)備 數(shù)據(jù)域測試的主要設(shè)備有： 邏輯筆 和邏輯夾 、 邏輯分析儀 、 特征分析儀 、 激勵儀器 、 微機及數(shù)字系統(tǒng)故障診斷儀 、 在線仿真儀 、 數(shù)據(jù)圖形產(chǎn)生器 、 微型計算機開發(fā)系統(tǒng) 、 印制電路板測試系統(tǒng)等 。 2．數(shù)據(jù)域測試主要目標 ? 確定系統(tǒng)中是否存在故障 ， 稱為 合格 /失效測試 ， 或稱故障檢測 ； ? 確定故障的位置 ， 稱為 故障定位 。 ?信息傳遞方式多樣化。 ?被測信號故障定位難。 數(shù)據(jù)域測試技術(shù)主要解決數(shù)字設(shè)備 、 計算機及 LSI(大規(guī)模集成電路 )、VLSI (超大規(guī)模集成電路 )電路在研制 、生產(chǎn)和檢修中的測試問題 。 難點： ?邏輯分析儀的觸發(fā)和顯示方式。第 9章 數(shù)據(jù)信號的測量技術(shù) 內(nèi)容提要 介紹數(shù)據(jù)域測試的特點和數(shù)字系統(tǒng)的故障描述；說明數(shù)據(jù)域測試的基本方法；對常用的數(shù)據(jù)域測試儀器邏輯筆 、 邏輯分析儀的電路構(gòu)成和工作原理進行分析 ， 并介紹數(shù)據(jù)域測試儀器的使用和測試方法 。 重點與難點 重點： ?邏輯筆、邏輯分析儀的工作原理，使用數(shù)據(jù)域測試儀器進行測試的方法。 概述 數(shù)據(jù)域測試技術(shù)中被測系統(tǒng)的信息載體主要是二進制數(shù)據(jù)流 。 數(shù)據(jù)域測試的基本概念 1．數(shù)據(jù)域測試特點 ?被測信號持續(xù)時間短。 ?被測信號的非周期性。 ?外部測試點少。 3．數(shù)據(jù)域測試的方法 對數(shù)字系統(tǒng)進行測試的基本方法是： 從輸入端加激勵信號 ，
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