數(shù)據(jù)信號(hào)的測(cè)量技術(shù)(已修改)
2025-05-25 03:00 本頁(yè)面
【正文】 第 9章 數(shù)據(jù)信號(hào)的測(cè)量技術(shù) 內(nèi)容提要 介紹數(shù)據(jù)域測(cè)試的特點(diǎn)和數(shù)字系統(tǒng)的故障描述；說(shuō)明數(shù)據(jù)域測(cè)試的基本方法；對(duì)常用的數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器邏輯筆 、 邏輯分析儀的電路構(gòu)成和工作原理進(jìn)行分析 ， 并介紹數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器的使用和測(cè)試方法 。 重點(diǎn)與難點(diǎn) 重點(diǎn)： ?邏輯筆、邏輯分析儀的工作原理，使用數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試的方法。 難點(diǎn)： ?邏輯分析儀的觸發(fā)和顯示方式。 概述 數(shù)據(jù)域測(cè)試技術(shù)中被測(cè)系統(tǒng)的信息載體主要是二進(jìn)制數(shù)據(jù)流 。 數(shù)據(jù)域測(cè)試技術(shù)主要解決數(shù)字設(shè)備 、 計(jì)算機(jī)及 LSI(大規(guī)模集成電路 )、VLSI (超大規(guī)模集成電路 )電路在研制 、生產(chǎn)和檢修中的測(cè)試問(wèn)題 。 數(shù)據(jù)域測(cè)試的基本概念 1．?dāng)?shù)據(jù)域測(cè)試特點(diǎn) ?被測(cè)信號(hào)持續(xù)時(shí)間短。 ?被測(cè)信號(hào)故障定位難。 ?被測(cè)信號(hào)的非周期性。 ?信息傳遞方式多樣化。 ?外部測(cè)試點(diǎn)少。 2．?dāng)?shù)據(jù)域測(cè)試主要目標(biāo) ? 確定系統(tǒng)中是否存在故障 ， 稱(chēng)為 合格 /失效測(cè)試 ， 或稱(chēng)故障檢測(cè) ； ? 確定故障的位置 ， 稱(chēng)為 故障定位 。 3．?dāng)?shù)據(jù)域測(cè)試的方法 對(duì)數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試的基本方法是： 從輸入端加激勵(lì)信號(hào) ， 觀察由此產(chǎn)生的輸出響應(yīng) ， 并與預(yù)期的正確結(jié)果進(jìn)行比較 ， 一致則表示系統(tǒng)正常；不一致表示系統(tǒng)有故障 。 一般有 ?窮舉測(cè)試法 ?功能測(cè)試法 ?結(jié)構(gòu)測(cè)試法 ?隨機(jī)測(cè)試法 4．?dāng)?shù)據(jù)域測(cè)試的步驟 一般分三個(gè)階段進(jìn)行： 1. 測(cè)試生成 2. 測(cè)試評(píng)價(jià) 3. 測(cè)試實(shí)施 5．?dāng)?shù)據(jù)域測(cè)試主要設(shè)備 數(shù)據(jù)域測(cè)試的主要設(shè)備有： 邏輯筆 和邏輯夾 、 邏輯分析儀 、 特征分析儀 、 激勵(lì)儀器 、 微機(jī)及數(shù)字系統(tǒng)故障診斷儀 、 在線(xiàn)仿真儀 、 數(shù)據(jù)圖形產(chǎn)生器 、 微型計(jì)算機(jī)開(kāi)發(fā)系統(tǒng) 、 印制電路板測(cè)試系統(tǒng)等 。 邏輯筆 邏輯分析儀 模塊化邏輯分析儀 數(shù)字系統(tǒng)故障和故障模型 1． 失效和故障的定義 當(dāng)系統(tǒng)提供的服務(wù)違背了技術(shù)規(guī)范 ， 或者偏離了其預(yù)定功能時(shí) ， 表示系統(tǒng)已 失效 。 失效的根源是故障 ， 但故障并不等于失效 。 2．發(fā)生故障的原因 一類(lèi)是由設(shè)計(jì)原因引
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