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外文翻譯--擴展激光衍射顆粒的形狀特征:技術(shù)方面和應(yīng)用中文-其他專業(yè)-展示頁

2025-01-31 10:09本頁面
  

【正文】 為 5幀 /秒 。 A / D 轉(zhuǎn) 換器的設(shè)備設(shè)置為覆蓋四個幾十年的光強度 , 這足以覆蓋大多數(shù) 情況下 動態(tài)范圍的散射模式 。 我們使用了一個 商業(yè)版本的這個傳感器 , 風(fēng)雅 的 15維 , 它具有512 * 512像素和一個 * 。 這里就沒有展開了 ; 因此 , 飽和像素不會溢出和影響相鄰像素 。 為了克服這個問題 , 我們開發(fā)了一個新的檢測系統(tǒng)使用一個新的像素陣列傳感器 。 這個問題是可以 克服的 , 例如 , 通過 改變曝光時間或使用一個特殊的過濾器設(shè)置 。 像素陣列的CCD 攝像機測量徑向散射光來確定顆粒尺寸分布的應(yīng)用已被報道 [8]。 此外 , 還有 各種信號處理 的 方法 , 即互相關(guān) , 掃描選擇單粒子的存在 , 主成分分析和傅里葉分析 , 研究了提高靈敏度的形狀特征 。 此外 , 檢測區(qū)域容易調(diào)整以 獲得最佳的 不同顆粒尺寸和形狀 , 或在不同粒度的值確定的形狀的結(jié)果 。 在這項研究中 , 我們采用一種新的傳感器技術(shù) , 使用一個像素陣列來測量散射模式 。 因為中央葉的模式不包含很多形狀信息 , 信號 需要在這地區(qū)以外的地方收集 ,但 需要接近獲得 足夠 高強度級別的信號 。 64楔形段結(jié)合反向傅里葉設(shè)置 以應(yīng)用于 測量方位散射信號 的光電探測器 。對于一個非球 形 粒 子 , 衍射 圖案 特性 在方位角的方向上包含有 另外一些強度的最大值和最小值 的皺紋 ; 這些信息可以直接用來確定顆粒形狀 。 對于均勻照亮一個球形顆粒 , 其 衍射 圖案 由一個中央明亮區(qū)域 ,稱為艾里斑 , 周圍 包圍 很多 微弱的百環(huán)與 暗環(huán)交替 。 相比之下 , 形狀信息主要反映在方位強度分布 , 但也有影響顆粒形狀 信號 在徑向強度剖面 上 。 實際上 ,電磁場 函 數(shù)的 衍射模式是等于傅里葉變換的目標函數(shù) 。 根據(jù)這一理論 , 電磁場函數(shù) E 的衍射模式給出了 : 1 Zhenhua Ma), Henk G. Merkus, Brian Scarlett Particle Technology Group, Faculty of Applied Sciences, Delft Uni213。 當粒子尺寸明顯大于這一入射波長或其折射率是顯著的不同于周圍介質(zhì) , 大多數(shù)的光都分布在相對入射光束傳播方向的小散射角上 。 鑒于這項技術(shù)的優(yōu)勢 , 其顆粒形狀測量擴展 成為了一個很有趣的話題 , 特別是上線的過程控制和監(jiān)測 。 因此 , 這是另一種方式 ,直接從粒子模式散射中獲取顆粒形狀信息 。 另一個是圖像的對象 ,形成的平面共軛平面對象 。 因此 , 透鏡形成兩個截然不同的令人感興趣的模式 。 在沒有放置這些探測器的情況下 , 這些光波會進一步傳播和到達像平面 。 在一個正常的激光衍射測定中 , 一束平行激光束照亮集合的分散粒子 ; 由此產(chǎn)生的散射圖案 , 以及激光束的殘留物 , 都被收集和集中在透鏡的后焦面 。 目前 , 激光衍射是一個非常受歡迎的用來測量粒子粒徑分布的技術(shù) 。 直到現(xiàn)在 , 大多數(shù)這些圖像分析方法是基于離線分析而且很耗時 。 分析粒子形狀特征通常是通過傳感和分析粒子圖像實現(xiàn)的 [1,2 ]。形狀和大小直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量并且對許多的過程產(chǎn)生很大的影響 。 其潛在的應(yīng)用是通過監(jiān)測論證磨損的立方體的形狀變化 。 波動的散射光的強度在方位角方向的互相關(guān)為粒子的角譜轉(zhuǎn)化 , 這反映了形狀信息 。中文 6000 字 出處: Powder Technology, 2021, 118(1): 180187 畢業(yè)設(shè)計(論文)外文文獻翻譯 畢業(yè)設(shè)計(論文)題目 翻譯題目 擴展激光衍射顆粒的形狀特征:技術(shù)方面和應(yīng)用 系 生命信息與儀器工程系 專 業(yè) 電子信息技術(shù)及儀器 姓 名 班 級 學(xué) 號 指導(dǎo)教師 1擴展激光衍射顆粒的形狀特征:技術(shù)方面和應(yīng)用 摘要 擴展激光衍射技術(shù)測量粒子大小和形狀 , 是一項相當有趣的話題 , 尤其是對在線控制和監(jiān)測 。 與 二維像素陣列獲得顆粒形狀信息 。 采用單掃描分析改善此信息的可能性 , 在小粒子數(shù)測量區(qū) , 主成分分析和傅立葉分析進行了討論 。 1 介紹 顆粒形狀的顆粒物質(zhì)的一個非常重要的特性 , 如顆粒尺寸。 因此 , 在線粒子形狀和大小的測量 ,可以在粒子生產(chǎn)過程的控制中發(fā)揮重要的作用 。
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