壓力容器制造評審員培訓(xùn)ppt課件-無損檢測知識-文庫吧資料
2024-11-22 01:22本頁面
【正文】 高，成本亦較高。,各種滲透檢測方法適用性2,水洗型熒光法成本較低，有明亮的熒光，易于水洗，檢查速度快，適用于表面較粗糙零件，帶有螺紋、鍵槽的零件及大批量小零件的檢查。 后乳化型著色法具有較高靈敏度，適宜檢查較精密零件，但對螺栓，有孔、槽零件，以及表面粗糙零件不適用。 水洗著色法適于檢查表面較粗糙的零件，操作簡便，成本較低。 溶劑清洗型熒光；后乳化型著色；后乳化型熒光,各種滲透檢測方法適用性1,著色法需在白光或日光下進(jìn)行，在沒有電源的場合下也能工作。 后乳化型著色。 水洗型著色。,滲透檢測基本原理,滲透檢測,執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)——JB/T4730.5—2005 承壓設(shè)備無損檢測第五部分 ：滲透檢測 JB/T4730.5規(guī)定的檢測方法: 溶劑清洗型著色。 檢測成本很低，速度快。 可以檢出表面和近表面缺陷，不能用于檢查內(nèi)部缺陷。,磁粉檢測原理——缺陷漏磁場的形成,（a）表面缺陷 （b）近表面缺陷 圖106 缺陷漏磁場,磁化方法1——線圈法,磁化方法2——磁軛法,磁化方法3——軸向通電法,磁化方法4——觸頭法,磁化方法5—— 中心導(dǎo)體法,磁化方法6——交叉磁軛法,磁粉檢測的工藝要素,磁化方法（1－6）的選擇； 磁粉種類（熒光/非熒光）、載體（干法/濕法）、磁懸液（油/水）的選擇； 電流類型（交流/直流）的選擇； 標(biāo)準(zhǔn)試片(A/C；低/中/高靈敏度）的選擇 磁化規(guī)范的選擇； 被檢工件表面的制備； 檢測時(shí)機(jī)的選擇； 缺陷磁痕的觀察條件。,2,1,未焊透,注意上下尖端的兩個(gè)信號,1,2,3,4,根部未熔合,注意直通波和缺陷信號之間的波形相位轉(zhuǎn)換,1,2,3,相控陣陣列探頭在不同位置作多次扇形掃描，信息歸并后顯示缺陷單個(gè)圖像,相控陣陣列探頭對體積狀缺陷作分層掃描，信息歸并后顯示缺陷切片圖像,壓力管道導(dǎo)波檢測,這是一張管道表面有點(diǎn)狀腐蝕坑的導(dǎo)波檢測圖,此段范圍內(nèi)管壁表面有腐蝕坑,磁粉檢測,執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)——JB/T4730.4—— 2005 承壓設(shè)備無損檢測第四部分：磁粉檢測 承壓設(shè)備焊接接頭常用檢測方法：連續(xù)法，熒光或非熒光磁粉，交流電，磁軛磁化，濕法。,TOFD超聲波檢測技術(shù)原理,Transmitter,Receiver,技術(shù)描述,多通道系統(tǒng)允許TOFD和脈沖回波同時(shí)進(jìn)行檢測和分析。 （10）不平或粗糙的表面會影響耦合和掃查，從而影響檢測精度和可靠性。 （8）材質(zhì)、晶粒度對探傷有影響。,超聲波檢測特點(diǎn)2,（6）檢測結(jié)果無直接見證記錄。 （4）檢測成本低、速度快，儀器體積小，重量輕，現(xiàn)場使用較方便。 （2）適宜檢驗(yàn)厚度較大的工件，不適宜檢驗(yàn)較薄的工件。整個(gè)系統(tǒng)由成像板、激光掃描儀、讀出器、數(shù)字圖像處理和儲存系統(tǒng)組成。,氣孔,其它射線檢測新技術(shù),計(jì)算機(jī)X射線照相（CR）、 線陣列掃描直接成像（LDA）、 非晶硅和非晶硒數(shù)字平板成像、 CMOS數(shù)字平板成像。,特殊技術(shù)管子管板焊縫射線照相,管子管板角焊縫 射線照相原理圖（向后透照）,這是一張標(biāo)準(zhǔn)的管子管板焊縫射線照相的底片。 射線照相檢測成本高，速度慢。,射線檢測的特點(diǎn)——2,對有些試件或結(jié)構(gòu)不適用。 適宜檢驗(yàn)較薄的工件而不適宜較厚的工件。 體積型缺陷檢出率很高。 T3類膠片: AgfaDD8；天津Ⅲ；上海GXA7,常用膠片類別,工藝要點(diǎn)4——透照參數(shù)選擇,焦距——影響幾何不清晰度，選擇焦距必須大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定最小值； K值——影響橫向裂紋檢出率，選擇K值不得大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值； 射線能量——影響底片
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