【正文】 k= 組數(shù) CL=C=(5+6+9+……..4) / 12 = 3. 計算 UCL=C+3* C =+3* = 4. 計算 LCL=C3* C =* = 0 5. 圖示 三 . U chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)可不相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 檢驗數(shù) 400 375 365 420 405 410 360 350 400 400 440 450 430 470 410 缺點(diǎn)數(shù) 23 19 18 26 20 18 12 10 18 22 28 20 19 31 17 單位 U 2. 計算 CL=U=(C1+C2+C3+…….Ci) / (N1+N2+N3+…..Ni) CL=U=(23+19+18+……17) / (400+375+365+……410) = 3. 計算 UCL=U+3* U / Ni 4. 計算 LCU=U3* U / Ni 注 : 如所有 N均在 N的 +25%之內(nèi) ,則 Ni=N 本例 Ni=N(因為所有 Ni均在 N+25%內(nèi) ) 若否則做出圖如下下頁圖 2 N= (400+375+365+……410) / 15 = UCL=U+3* U / N = + 3* / = LCL=U3* U / N = 3* / = 圖 1 圖 1 四 . XR chart (一般要有 25子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價值 ) : 50+10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 NO1 51 53 51 50 48 47 50 49 50 49 50 50 50 52 49 55 52 50 46 48 NO2 48 47 49 52 48 53 53 52 48 52 52 53 50 50 51 46 52 49 51 54 NO3 53 48 50 50 50 51 45 51 55 50 52 47 51 52 48 50 51 52 48 51 NO4 51 50 53 48 49 51 49 49 53 52 53 51 50 50 52 52 51 54 49 49 NO5 51 52 50 45 47 52 52 52 48 50 55 51 50 45 51 49 51 48 48 48 X 50 50.6 49 48.4 50.8 49.8 50.6 50.8 50.6 52.4 50.4 50.2 49.8 50.2 50.4 51.4 50.6 48.4 50 R 5 6 4 7 3 6 8 3 7 3 5 6 1 7 4 9 1 6 5 6 2. 計算總體平均值 X= X1+X2+X3+….Xi K =XCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 X=XCL=(+++………) / 20 = 3. 計算全距平均值 R=(R1+R2+R3+……Ri) / K = RCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 R=RCL=(5+6+4+…..….6) / 20 = 4. 計算管制上下限 XUCL=X+A2R 平均數(shù)管制上限 XCL=X 平均數(shù)中心限 XLCL=XA2R 平均數(shù)管制下限 RUCL=D4R 全距管制上限 RCL=R 全距中心限 RLCL=D3R 全距管制下限 A2,D3,D4 均查第二章第 8節(jié)的 XbarR常數(shù)表 XUCL=+A2R=+*= XCL=X= XLCL==*= 圖表如下 : RUCL=D4R=*= RCL=R= RXLCL=D3R=0 圖表如下 : 第五章 : 制程能力分析 關(guān)於 Ca , Cp , Cpk ,Pp ,Ppk等有多種算法 ,本教材只取一種 ?確切了解要調(diào)查的 品質(zhì)特性 與 調(diào)查範(fàn)圍 ，並 收集數(shù)據(jù) ?製作 解析用管制圖 ，確定製程處於 受控狀態(tài) 之中 ?計算 制程能力指數(shù) ( Short Term : Cpk ) ?判斷制程能力 是否足夠 ，如不夠時或不穩(wěn)定時，則加以改善 ?以解析用管制圖之『管制上、下限』，作為『管制用管制圖』之監(jiān)控，並 於一段期間後，再計算 制程能力指數(shù) ( Long Term : Ppk ) 5 04 03 02 01 01 41 31 21 11 0I n d e xCO2ShrtC O 2 L e v e l s f o r 5 5 T i m e P o i n t s過程實績 : 全部散布包括 Shifts 和 Short Term (Pp Ppk) 能力 : 只有隨機(jī)的或短期的散布 (Cp Cpk) Cpk – 在一穩(wěn)定制程下的『能力指數(shù)』某一天、某一班次、某一批、某一機(jī)臺 其組內(nèi)的變異 ( Rbar / d2 or Sbar / c4 ) Ppk – 性能指數(shù) 量試階段的『能力指數(shù)』、 某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的『能力指數(shù)』 Cpk / Ppk 準(zhǔn)確度 精密度 高 低 高 低 Precision Accuracy ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??? ? ? ? ? ? ? ? ? 制程準(zhǔn)確度 (Capability of Accuracy) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 實績平均值 (X),與 規(guī)格中心值 (u)其間 偏差的程度 ,是 期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品的實際值能與規(guī)格中心值一致 (1) Ca之計算方式如下： 實績平均值 規(guī)格中心值 Xu Ca== 規(guī)格公差 / 2 T/2 T=USLLSL =規(guī)格上限 規(guī)格下限 例 : 上面 XbarR chart例子中 50 Ca= (6040) / 2 = (2) Ca值的等級判定 Ca值是正值 實績平均值較規(guī)格中心值偏高 Ca值是負(fù)值 實績平均值較規(guī)格中心值偏低 Ca值愈小 ,品質(zhì)愈佳 ,依 Ca值大小一般分為以下六級： 等級 起始值 終點(diǎn)值 建 議 說 明 A 0 理想的狀態(tài) ,須繼續(xù)維持 B 有必要盡可能將其改善為 A級 C 作業(yè)員可能看錯規(guī)格 ,不按作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或檢討作業(yè)標(biāo)準(zhǔn) D 應(yīng)立即檢查 ,並改善 E 1 采取緊急措施 ,並全面檢討 ,必要時考慮停止生產(chǎn) F 1 立即停止生產(chǎn) ,相關(guān)部門開會 ,規(guī)格完全弄錯 2. Cp 制程精確度 (Capability of Precision) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 6個 估計標(biāo)準(zhǔn)差 ( σ ),與 規(guī)格公差 (T)其間 相差的程 度 ,是期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品以規(guī)格中心值為目標(biāo)，其 變異寬度 愈小愈好，換 言之，即在衡量 規(guī)格公差範(fàn)圍與製程變異寬度 兩者間相差程度 . (1)Cp之計算方式如下： 估計標(biāo)準(zhǔn)差 σ = R / d2 R=全距的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ^ ^ n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 以上面 XbarR chart 為例 , σ = / = ^ Cp = 規(guī)格公差 6個估計標(biāo)準(zhǔn)差 T 6 σ ^ 雙邊規(guī)格 = 以上面 XbarR chart 為例 ,Cp = 20 / 6* = Cp = Cp = 規(guī)格上限 – 實際平均值 3個估計標(biāo)準(zhǔn)差 3個估計標(biāo)準(zhǔn)差 實際平均 值規(guī)格上限 = = USL X X LSL 3 σ 3 σ 單邊規(guī)格 ^ ^ 2. Cp值的等級判定 Cp值愈大 規(guī)格公差 (T)大於估計標(biāo)準(zhǔn)差 ( σ )愈多， 即表示製程的變異寬度遠(yuǎn)小於 規(guī)格公差 Cp值愈大 ,品質(zhì)愈佳。 在管制規(guī)格內(nèi) Cpk 範(fàn)圍 → 受控 (消除了非機(jī)遇原因 ) 範(fàn)圍 → 制程控制 不受控 (存在了非機(jī)遇原因 ) 受控，能力符合要求 (機(jī)遇原因造成的變異已減少 ) 制程能力 ← 規(guī)格上限 規(guī)格下限 → 範(fàn)圍 → 受控，能力不符合要求 (機(jī)遇原因造成的變異太大 ) 制程改善循環(huán) P D A C P D A C P D A C ： 本制程應(yīng)該做什麼？ ● 會出現(xiàn)什麼問題？ ─本制