spc統(tǒng)計制程管制培訓(xùn)教材-文庫吧資料
2025-02-24 01:36本頁面
【正文】 ＣＬ R=R ＵＣＬ R=管 ＵＣＬＬＣＬ R=制 ＣＬ .=圖 ＬＣＬＰＰＫ = PP = Ca =ＣＰＫ = CP =備註及原因追查 :量測數(shù)值的判定條件測定者 李 工 作 者 張 三cm 下限 LSL 下 限 LCL28機(jī) 別 F21e 抽樣方法 每小時 / 上限 USL 上 限 UCL 直徑 中心限 CL 中心限 CL總組數(shù)期 間 1998/9/1製造部門 製一課宇威科技股份有限公司~ 1998/9/28AE1012圓 棒規(guī) 格 標(biāo) 準(zhǔn) 群組數(shù)大小 管 制 X 圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28● 計量控制圖：由于計算機(jī)的應(yīng)用普及， 控制圖的計算機(jī)毫無困難，而且無論樣本是否大于 10， 圖計算的結(jié)果都是精確的，故均值標(biāo)準(zhǔn)差圖完全可以代替均值極差圖。確定過程參數(shù) 特點： 分析過程是否為統(tǒng)計控制狀態(tài) 過程能力指數(shù)是否滿足要求？ ●控制用控制圖 等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。 ? 二 ﹑ 失控狀態(tài) ﹕ 見以下各狀態(tài) 說明： 在判讀管制圖是否正常時，應(yīng)先看 R圖是否受控（制程變異是否處於控制狀態(tài)），再根據(jù) X 圖判定是否有異常點。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） （ K表示子組數(shù)量） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。一般為25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一次等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。 注：應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。 變差（ Variation） 過程的單個輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。 名稱 解釋 中心線 （ Central Line） 控制圖上的一條線，代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 SPC的重點就在與“ P（ Process，過程） ● 可判斷過程的異常，及時告警； ●不能告知此異常是什么因素引起的 ●最終發(fā)展為 SPD（ Statistical Process Diagnosis，統(tǒng)計過程診斷） SPD既有告警功能，又有診斷功能 ● 概念：只有偶因而無異因產(chǎn)生的變異的狀態(tài) ●優(yōu)點： 對產(chǎn)品的質(zhì)量有完全把握 生產(chǎn)也是最經(jīng)濟(jì)的 在控制狀態(tài)下，過程的變異最小 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 平均值 （ X） 一組測量值的 均值 極 差 （ Range） 一個子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ （ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ 或字母s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 Ppk 制程能力偏低，需立即改善 ﹔ = Ppk 制程能力尚可接受
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