【正文】 (不良 )原因用查檢表 SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 13 OF 83 : 品名:PCB查檢者:丙不良率:%項(xiàng) 目 查 檢 小 計(jì)缺口 正 , 正 , 正 , 正 , 正 , 正 , 下 33短路 正 , 正 , 正 ,T 17吸氣不良正 , 正 , 正 , 正 , 正 , 正 ,正 ,T37顯影不潔 正 ,T 7其他 正 , 止 9合計(jì) 103外層課查檢表工程別:外層線路檢查總數(shù):1300 作業(yè)單位:外層課SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 14 OF 83 : 早班 =Σd/Σp=% 。 3 kg/cm2。SPC 統(tǒng)計(jì)製程管制 講 師 : 郭 俊 欽 廠 長(zhǎng) ISO9000精神 : 。 (利潤(rùn) ) 公司 科技 (物 ) 管理 (系統(tǒng) ) 領(lǐng)導(dǎo) (人 ) ??勞力密集 , 資本密集 , 科技密集 . ??內(nèi)部稽核 ,管理審查 ,教育訓(xùn)練 ,維持 ISO9000之原動(dòng)力 . 製程 管製 製程穩(wěn)定 分析 製程能力提升 . 製造的過(guò)程 (Process) Man material method machine measurement mantin 產(chǎn)品 IQC IPQC 系統(tǒng) ?? 有 input后有 ouput並透過(guò) feedback改善 SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 2 OF 83 SPC精神 : Quality improvement ??利用統(tǒng)計(jì)的原理與方法來(lái) 針對(duì)製程上的變異加以分析 和管制 . Statistical process Control.(分析並管制製造上的變 異 .) 因延遲驗(yàn)出不良品所付出之代價(jià) . 預(yù) 防 進(jìn)料失敗矯正 製程失敗矯正 出貨失敗再矯正 成本代價(jià) 時(shí)間 (TIME) 金 額 $ ※ 利用預(yù)防來(lái)了解現(xiàn)況並預(yù)測(cè)未來(lái) . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 3 OF 83 ??推行 SPC的效益 . 統(tǒng)計(jì) = 數(shù)據(jù) + 計(jì)算 系統(tǒng) = 魚缸養(yǎng)魚 Input ouput 水 過(guò)濾(feedback) ??該做的都做了 ,但仍有問題 (系統(tǒng)性變異 ) ??該做的都沒有做好 ,人 ,機(jī)器 ,條件都訂好了 (特殊性變異 ) 統(tǒng)計(jì)一有意義的情報(bào) : 拉力的強(qiáng)度很好 。 3士 % 正確回答 :良率 %,都是在規(guī)格 3kg/cm2士 %以 內(nèi) ,%超出規(guī)格 . Increas Capability Team work Quality system ISO9000 SPC process control SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 4 OF 83 一 ,何謂統(tǒng)計(jì)製程管製 SPC Statistical Process Control Statistical 匯集 ,圖 (表 )表及分析數(shù)據(jù) Process 一系列之操作 (operations) 每一個(gè)活動(dòng) (activity)都是過(guò)程 Control 量測(cè)性能 (performance) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 5 OF 83 二 ,SPC的源起及發(fā)展 SPC的源起 : 1924 . Shewhart 在 Bell telephone Laboratories工作時(shí) ,首次提出 管製圖的概念． 1931. Shewhart 出版 〝 Economic Control of Qualty of Manufactured Product 〞 ,在此書中對(duì)?統(tǒng)計(jì)製程 管製?的名稱的定義做了完整的敘述 . 〝 the application of statistical principles and techniques in all stages of production , directed towards the manufacture of a product that is maximlly userul and has a market〞 . 1939~1945 第二次世界大戰(zhàn)期間 ??provided the impetus for the appiication of shewhart,s ideas . ?? 8天的品質(zhì) 管理講習(xí)會(huì) . 1946 日本科技聯(lián)盟 JUST成立 (The Japanese union of scientisco and engineers) ? SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 6 OF 83 ?? 其成立的目的在振興日本戰(zhàn)后工業(yè) . ?? 偏好 Shewhart理論 . ?? 派最年青管理階層到西方世界拜訪工業(yè)界 ,學(xué)術(shù)界 學(xué)習(xí)他人長(zhǎng)處並帶回國(guó)使用 . ?? 尋找海外專家 ,指導(dǎo)國(guó)內(nèi)工業(yè)界 ,全新的可以促進(jìn)日 本工業(yè)界管理及改善的方法 . 1950 Dr .Deming(戴明博士 ) 訪問日本 ,舉辦為期 8天的講習(xí) . 1960S 統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管製方法在日本廣為推行 . ?? 從 1960年代開始 ,日本的品質(zhì)變得愈來(lái)愈好 . ? ?? 在很多方面 ,日本成為市場(chǎng)領(lǐng)先地位 . ?? 在訓(xùn)練有素的工作人員及可以追朔的品質(zhì)記錄 . ?? 在生產(chǎn)製造現(xiàn)場(chǎng)維持非常簡(jiǎn)單 . ?? 管理階層的支持與參與 . 1974 美國(guó)成立品管圈 1981 Deming在電視上發(fā)表 〝 If Japan can , why can not we? ? SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 7OF 83 ??General motors, Ford等著名大公司邀請(qǐng) Deming演講 . ?? 距離 Deming到日本講學(xué) 37年之后 ,美國(guó)人開始接受及 實(shí)踐 Deming理論 (PDCA循環(huán) ),並且目前愈來(lái)愈來(lái)愈盛 . SPC的發(fā)展 ??從 SQC到 SPC ??1920S美國(guó) . shewhart首創(chuàng) SQC理論 . 167。 夜班 =Σd/Σp=% : A臺(tái) = Σd/Σp=%。 k: 組數(shù) ) CL = Pn = Σd / k = 65 / 25 = P= Σd /( k*100)= (因 n值為一定數(shù) ,故取組數(shù)為分母 ,此為與 P管制圖最大不同點(diǎn) ) UCL = Pn + 3 √Pn (1 P) = + = LCL = Pn 3 √Pn (1 P) = = (管制下限不予考慮 ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 23 OF 83 Pn 管 制 圖 之 例0123456781 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25組 號(hào)dLCL CL UCL SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 24 OF 83 2. 點(diǎn)繪管制圖 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (C管制圖 ) 一 ,有些產(chǎn)品雖然有缺點(diǎn) ,但不致因?yàn)橛猩贁?shù)之 缺點(diǎn) ,使該產(chǎn)品成 為廢品 ,只是缺點(diǎn)之多少影響其品質(zhì)之高低而已 ,因而用缺點(diǎn) 之?dāng)?shù)目 ,表示其品質(zhì) ,在這種場(chǎng)合 ,常用缺點(diǎn)數(shù)管制圖 . 二 ,用途 : C管制圖應(yīng)用在同大小的樣本組內(nèi)所含缺點(diǎn)數(shù)的管制 ,自同一 大小單位 (可以為單件製品 或一組製品 ,例如 :一臺(tái)電視機(jī)或幾 臺(tái)電視機(jī) ) 的缺點(diǎn)數(shù)為 C群體 (即送驗(yàn)批 ),隨機(jī)抽取同一大小單 位的樣本所出現(xiàn)的缺點(diǎn)數(shù) (C)的分配為卜氏分配 ,分配的帄均 值 (UC)等于 C, 分配的標(biāo)準(zhǔn)差 (δc) 等于 C 群體單位缺點(diǎn) C 未知時(shí) 因此 C管制圖的中心線與管制界限公式為 : CLC = ΣC / K = C UCLC = C+3√ C LCLC = C3√ C 使用 C管制圖的工作例子為 : (1)玻璃所含的氣泡數(shù) (2)一匹布內(nèi)的跳紗數(shù) ,斑點(diǎn)數(shù) … 等等 (3)一張紙上的污點(diǎn)數(shù) ,破損數(shù) … 等等 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 25 OF 83 (4)一定長(zhǎng)度漆包線的針孔 (pin hole)數(shù) . 三 ,管制圖製作實(shí)例 : 例 :某 PCB廠用 C管制圖管制其產(chǎn)品品質(zhì) ,下列表中每批 PCB之 缺點(diǎn)之記錄 ,計(jì)有 20組樣本繪製 C管制圖 . 組號(hào) 樣本 缺點(diǎn)數(shù) 組號(hào) 樣本 缺點(diǎn)數(shù)1 1批 5 11 1批 22 1批 4 12 1批 73 1批 3 13 1批 14 1批 5 14 1批 85 1批 6 15 1批 26 1批 4 16 1批 27 1批 7 17 1批 38 1批 3 18 1批 79 1批 2 19 1批 410 1批 3 20 1批 4SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 26OF 83 ΣC=84 CLC = C = ΣC/K = 84/20 = 2. 代入公式求得 UCLC 及 LCLC UCLC = C+3 √ C = +3 √ = += UCLC = C 3 √ C = 3 √ = = 0 解 :(1)先計(jì)算樣本缺點(diǎn)數(shù)的帄均值 ( C ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 27 OF 83 帄均值與全距管制圖 (XR CHART) 一 ,在計(jì)量管制圖中 XR CHART 系最實(shí)用之一種品質(zhì)控制工具 , 仍系 X CHART 與 R CHART之合並使用 .帄均值管制圖系管 制帄均值的變化 ,即分配之集中趨勢(shì)變化 .全距管制圖則管制變 異之程度 ,即分配之散布狀況 ,離中趨勢(shì) .均可協(xié)助我們判斷製 造工程之實(shí)際狀況 ,藉以明瞭品質(zhì)變化之趨勢(shì) . 二 ,用途 : XR用在管制分組之計(jì)量數(shù)據(jù) ,每組同時(shí)取數(shù)個(gè)數(shù)據(jù) ,如 :長(zhǎng)度 ,重量 ,內(nèi) ,外徑 ,濃度 ,抗張力 ,深度等 . 三 ,取樣法 : 此管制圖系由樣本之?dāng)?shù)據(jù) ,推測(cè)製造工程是否在穩(wěn)定之管制 狀態(tài)中選取樣本 ,頇有代表性 ,原則上以在各工作線上按不同 機(jī)器 ,操作人員 ,原料分別取樣 ,樣本數(shù)據(jù)為 45件 . N=4或 5 K= 25組以上 X1,XC2,X3,X4,X5 X 樣組間變異 X 製程 組內(nèi)變異 ζ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 28 OF 83 四 ,建立步驟 : (1)搜集 25個(gè)以上的數(shù)據(jù) (依測(cè)定時(shí)間順序或群體數(shù)據(jù)依序排列 ) (2)把 26個(gè) (一般採(cǎi) 45個(gè) )數(shù)據(jù)分為一組 . (3)把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . (4)計(jì)算各組帄均值 X. (5)計(jì)算各組的全距 R. (6)計(jì)算總帄均 X = ΣX / K (K =