【正文】 :中心線 CLX = X 上限 UCLX = X +A2R 下限 LCLX = X A2R R管制圖 :中心線 CLR = R 上限 UCLR = D4R 下限 LCLR = D3R SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 29 OF 83 樣組 A2, D3 D42 3 4 5 6 7 A2,D3,D4　可查表： 到X年X月X日樣 樣組 X X X X X 組 X X X X X1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 62 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 53 46 45 49 48 49 4 16 46 50 53 51 53 74 50 48 49 49 52 8 17 50 52 49 49 49 35 46 48 50 54 50 8 18 50 49 50 49 51 26 50 49 52 51 54 5 19 52 49 52 53 50 47 47 49 50 48 52 5 20 50 47 50 53 52 68 48 50 46 49 51 5 21 52 49 51 53 50 49 50 50 49 51 53 4 22 55 54 51 51 50 510 49 51 51 46 48 5 23 50 51 52 50 49 511 51 50 49 46 50 5 24 47 50 51 52 52 512 50 50 49 52 51 3 25 53 51 59 50 51 313 49 49 49 50 55 6 1254 120R測(cè)定值X R 例:某PCB工廠應(yīng)用XR管制圖來(lái)控製其無(wú)塵室的濕度,濕度單位為RH,利用下列數(shù)據(jù)表之資料,求得其管制界限並繪圖.名稱:無(wú)塵室濕度測(cè)定單位:RH測(cè)定地點(diǎn):外層課測(cè)定者:A 日測(cè)定日期:自X年X月X日測(cè)定值XSPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 30 OF 83 解 : X及 R算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi) . X與 R X=ΣX / K = 1254/25 = R = Σ R / K = 120/25 = A2, D4, D3. A2 = , D4 = , D3 = 負(fù)值 (以 0代表 ) X管制圖 CLX = X = UCLX = X+ A2 R = +*= LCLX = X A2 R = * = R管制圖 CLR = R = UCLR = D4 R = * = LCLR = D3R = 0* = 0 解 將每樣組之 及 算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)求 與Σ查系數(shù)負(fù)值 以 代表求管制界線管制圖管制圖SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 31OF 83 . . x ＵＣＬ ()管 cl ()制圖 ＬＣＬ ()R管 ＵＣＬ ()制 ＣＬ ()圖 ＬＣＬ (0)SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 32 OF 83 觀察上圖得知所有點(diǎn)子均在管制界限內(nèi)隨機(jī)跳動(dòng)故判斷製程 為安定 . 五 ,使用注意事項(xiàng) : ,表示製程能力不足 ,對(duì)原 數(shù)據(jù)應(yīng)按原料別 ,機(jī)械別 ,時(shí)間別 ,人員別加以層別 ,分別檢討其 分配情況找出變異 . ,則應(yīng)檢討規(guī)格界 限是否可以放寬 ,以獲較經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn) . CHART 上有點(diǎn)超限 ,則顯示製程帄均發(fā)生變化或變異增大 R CHCART 上有點(diǎn)超限 ,則顯示製程變異增大 . ,重新計(jì)算管 制界限以符合製程現(xiàn)況 . R CHART ,再看集中趨勢(shì) X CHATRT. SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 33 OF 83 管制上限 管制下限X X+A2R XA2RR D 4 R D3R中位值與全距 X X X+M3A2R XM3A2R缺 點(diǎn)不良率 P P P+3 √ P(1P)/n P3 √ P(1P)/n不良個(gè)數(shù) Pn Pn Pn+3 √ Pn(1P) Pn3 √ Pn(1P)缺點(diǎn)數(shù) C C C+3 √ C C3 √ C缺 點(diǎn)計(jì)量值a. 單靠此種管制圖 , 有時(shí)無(wú)法尋求不良之真正原因 , 而不能及時(shí)採(cǎi)取處理措施 ,延誤時(shí)機(jī) .管 制 圖 中 心 線 CL管 制 界 限a. 只在生產(chǎn)完成后 , 才抽取樣本 , 將區(qū)分為良品與不良品 , 所需數(shù)據(jù)能以簡(jiǎn)單方法獲得 .平均值與全距 Xb. 對(duì)于工廠 ( 或生產(chǎn)線 ) 整個(gè)品質(zhì)情況了解非常方便 .優(yōu) 點(diǎn)a. 在製造過程中 , 需要經(jīng)常抽樣並予以測(cè)定以及計(jì)算 , 但需點(diǎn)管制圖 , 較為麻煩 ,費(fèi)時(shí) .計(jì)數(shù)值優(yōu) 點(diǎn)b. 能及時(shí)並正確地找出不良原因 , 可使品質(zhì)穩(wěn)定 , 為較佳之管制工具 .管制圖之管制界限公式 ,較靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生原因 ,因此可以預(yù)測(cè)將發(fā)生之不良狀況 . ~ ~ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 34 OF 83 柏拉圖 (PLATO) : 柏拉圖為意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家所發(fā)明 ,系根據(jù)收集之?dāng)?shù)據(jù) ,項(xiàng)目 ,而按其大小順序 ,自左而右排列的圖 .從柏拉圖中可看出那一項(xiàng)目有問題 ,其影響程度如何 ,以判斷問題的徵結(jié)點(diǎn) ,並可針對(duì)問題點(diǎn)采取改善措施 . : ,收集數(shù)據(jù) . (1).決定收集期間 ,方法 ,分類 . (2).原因別分類 :材料 ,機(jī)械 ,作業(yè)者 ,作業(yè)方法別等 . 內(nèi)容別分類 :不良項(xiàng)目 ,場(chǎng)所 ,工程 ,時(shí)間別等 . (3).收集數(shù)據(jù)的期間 ,考慮發(fā)生問題的狀況 ,一星期 ,一個(gè)月 或一季 . 3/6 3/7 3/8 3/9 3/10 合計(jì)無(wú)光澤 13 8 12 10 12 56氣泡 3 2 2 3 5 15異物 7 9 7 5 10 38脹大 1 1 2 3 1 8擦傷 2 3 1 1 3 10臟污 1 1 1 1 4割紋 1 1 2疵點(diǎn) 1 1 2凹擊 1 1滴點(diǎn) 1 1例 : 射出部品外觀不良狀況記錄表檢核人:xxx 期間:3/610日日期項(xiàng)目SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 35 OF 83 ,計(jì)算累積數(shù)及比率 (1)各項(xiàng)目依數(shù)據(jù)的大小順序排列 ,其他排在最后一項(xiàng) ,並 求其累積數(shù) . (2)求各項(xiàng)目數(shù)據(jù)的比率及累積比率 . 例:數(shù)據(jù)整理.No 不良項(xiàng)目 不良數(shù) 累積數(shù) 比率 累積比率1 無(wú)光澤 56 56 % %2 異物 38 94 % %3 氣泡 15 109 % %4 擦傷 10 119 % %5 脹大 8 127 % %6 臟污 4 131 % %7 其他 6 137 % % (1)用方格紙繪成柱狀圖表 . (2)橫軸 :項(xiàng)目名稱 . 縱軸 :不良數(shù)或金額等等 . (3)橫軸 ,縱軸比例最好為 1:1. (4)依數(shù)據(jù)大小項(xiàng)目自左向右排列 ,其他項(xiàng)排在最后 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 36 OF 83 例:137120100806040200不良項(xiàng)目 無(wú)光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他不良數(shù) (1)各項(xiàng)目累計(jì)數(shù)打點(diǎn) 。 (2)用折線連接 . 137120100806040200不良項(xiàng)目 無(wú)光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他不良數(shù)SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 37 OF 83 (1) 右端縱軸加繪折線終點(diǎn)為 100% (2) 0~100%間之定規(guī) 10等分的刻度 例:137120100100 8080 6060 404020200 0不良項(xiàng)目 無(wú)光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他累計(jì)比率%不良數(shù) (1)目的 (2)期間 ,數(shù)據(jù)合計(jì) ,工程名 (3)作成者 SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 38 OF 83 例 :工程名 :外觀檢查 射出部品外觀不良柏拉圖 137120100100 8080 6060 404020200 0不良項(xiàng)目 無(wú)光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他累計(jì)比率%不良數(shù)期間 :3/63/10。 夜班 =Σd/Σp=% : A臺(tái) = Σd/Σp=%。 3 kg/cm2。SPC 統(tǒng)計(jì)製程管制 講 師 : 郭 俊 欽 廠 長(zhǎng) ISO9000精神 : 。 3士 % 正確回答 :良率 %,都是在規(guī)格 3kg/cm2士 %以 內(nèi) ,%超出規(guī)格 . Increas Capability Team work Quality system ISO9000 SPC process control SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 4 OF 83 一 ,何謂統(tǒng)計(jì)製程管製 SPC Statistical Process Control Statistical 匯集 ,圖 (表 )表及分析數(shù)據(jù) Process 一系列之操作 (operations) 每一個(gè)活動(dòng) (activity)都是過程 Control 量測(cè)性能 (performance) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 5 OF 83 二 ,SPC的源起及發(fā)展 SPC的源起 : 1924 . Shewhart 在 Bell telephone Laboratories工作時(shí) ,首次提出 管製圖的概念． 1931. Shewhart 出版 〝 Economic Control of Qualty of Manufactured Product 〞 ,在此書中對(duì)?統(tǒng)計(jì)製程 管製?的名稱的定義做了完整的敘述 . 〝 the application of statistical principles and techniques in all stages of production , directed towards the manufacture of a product that is maximlly userul and has a market〞 . 1939~1945 第二次世界大戰(zhàn)期間 ??provided the impetus for the appiication of shewhart,s ideas . ?? 8天的品質(zhì) 管理講習(xí)會(huì) . 1946 日本科技聯(lián)盟 JUST成立 (The Japanese union of scientisco and engineers) ? SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 6 OF 83 ?? 其成立的目的在振興日本戰(zhàn)后工業(yè) . ?? 偏好 Shewhart理論 . ?? 派最年青管理階層到西方世界拜訪工業(yè)界 ,