【正文】 即通過(guò)將 圖中的點(diǎn)子 與相應(yīng)的 控制界限 相比較，可以具體看見(jiàn)產(chǎn)品或品質(zhì)的變化。 。 控制圖怎樣起作用延長(zhǎng)控制限繼續(xù)進(jìn)行控制控制圖怎樣起作用 將 制造過(guò)程的 測(cè)量 資料變成 可 視 圖 。 D 計(jì) 算 過(guò) 程能力 ：XUSLZ= s 或 Z =X LSLsXUSLZUSL= s 或 ZLSL =X LSLs過(guò)程能力指數(shù) CPk：內(nèi)變差只考慮到固定變差或組單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限2?)(?3)(?3dRLSLXCXUSLCpkpk===sssCp=(USLLSL)/6spkC過(guò)程能力指數(shù)233),min(dRLSLxCxUSLCCCCplpuplpupk====sss只考慮到固定變差或組內(nèi)變差過(guò)程性能指數(shù) Ppk考慮了組內(nèi)變差和組間變差1)(??3?3),min(12====229。? 當(dāng)進(jìn)行首次工序研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點(diǎn)；? 重新計(jì)算并描畫(huà)過(guò)程均值和控制限；? 確保當(dāng)與新的控制限相比時(shí)，所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復(fù) 判定 /糾正/重新計(jì)算 的程序。 ? 將平均極 差 （ R bar） 和過(guò)程均值（ Xdouble bar） 畫(huà)成黑色水平實(shí)線，各控制限（ UCLR、LCLR、 UCLX、 LCLX） 畫(huà)成 紅色 水平虛線；? 在初始研究階段，這些被稱為試驗(yàn)控制限。其系數(shù)值見(jiàn)下表 ：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。A1： 選擇 子 組大 小、 頻 率和 數(shù)據(jù)：n每組樣本數(shù)： 45；n組數(shù) 要求 ： 最少 25組共 100個(gè)樣本； 頻 率 可參考下表：每小時(shí)產(chǎn)量 抽樣間隔不穩(wěn)定 穩(wěn)定10以下 8小時(shí) 8小時(shí)1019 4小時(shí) 8小時(shí)2049 2小時(shí) 8小時(shí)5099 1小時(shí) 4小時(shí)100以上 1小時(shí) 2小時(shí)? 平均值的 計(jì) 算：A收集原始數(shù)據(jù)A 計(jì) 算每 個(gè) 子 組 的均值和 極 差 R：44321 xxxxx +++=?R值的 計(jì) 算：22333極 差99100999910159999101100100498100100979939710198999829810099981001每組 平均值和 極 差 的計(jì) 算 示例 ：? 對(duì)于 Xbar圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組（ Xbar ）的最大值與最小值差的2倍；? 對(duì)于 R圖，坐標(biāo)上的刻度值應(yīng)從 0開(kāi)始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差值（ R ）的 2倍；A 選擇 控制 圖 的刻度 ：? 在確定了刻度后盡快完成：? 將極差畫(huà)在極差 控制 圖上，將各點(diǎn)用直線依次連接：? 將均值畫(huà)在均值 控制 圖上，將各點(diǎn)用直線依次連接：? 確保所畫(huà)的同一個(gè)樣本組的 Xbar和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的；? 分析用控制圖應(yīng)清楚地標(biāo)明 “初始研究 ”字樣；? 標(biāo)明 “初始研究 ”的控制圖，是僅允許用在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)中還沒(méi)有控制限的過(guò)程控制圖。 2)能及時(shí)并正 確 地找出不良原因 ,可使品質(zhì)穩(wěn)定 ,為最 優(yōu)良 的控制工具 . ? 缺點(diǎn) 在制造過(guò)程中需要經(jīng)常抽樣并予以 測(cè) 定及計(jì)算及描點(diǎn) ,較為 麻煩 且費(fèi)時(shí)間 . 計(jì)量控制制圖? 優(yōu) 點(diǎn) 1) 只在生產(chǎn)完成后才抽取樣本 將區(qū) 分為良品與 不良品 , 所需 數(shù)據(jù) 能以 簡(jiǎn)單 方法 獲 得之 . 2)對(duì) 于 工廠整 個(gè) 質(zhì)量 情形的了解非常方便 ? 缺 點(diǎn) 只靠此種控制圖有時(shí) 無(wú) 法 尋 求不良之真正原因 ,而不能及時(shí)采取處理措施而延 誤 時(shí)機(jī) . 計(jì)數(shù)值控制圖五 、 控制圖的 選 定 控制圖的 選 定n≧ 2 不良數(shù) 缺點(diǎn)數(shù)一定 不一定n=1Xδ XR XR XRm Pn P C u計(jì)量值 計(jì)數(shù)值一定 不一定單位大小是否一定n是否一定不良數(shù)或缺點(diǎn)數(shù)n是否較大樣本大小資料性質(zhì)中心線CL之性質(zhì)10n25n=2~5X X~n=1控制圖的選用原則控制圖的選用原則 —— 計(jì)量型計(jì)量型計(jì)量型數(shù)據(jù)XMR控制圖(單值和移動(dòng)級(jí)差圖 )n=1 n1 — R中位數(shù)圖 — R均值極差圖n=2~6 — s均值標(biāo)準(zhǔn)差圖n=10~20n=7~9穩(wěn)定的不穩(wěn)定的 — R — sn1 控制圖的選用原則控制圖的選用原則 —— 計(jì)數(shù)型計(jì)數(shù)型計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)是不良率還是不良數(shù)樣本數(shù)（ n)是否恒定樣本數(shù)（ n)是否恒定使用 u控制圖 使用 c控制圖 使用 p控制圖 使用 np控制圖不良率是是 否否缺點(diǎn)數(shù)六 、 控制圖的計(jì)算計(jì)量型控制圖的計(jì)算公式控制圖符號(hào) 控制圖名稱 控制界限平 均值 — 極差控制圖平 均值 — 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位數(shù) — 極差遣控制圖單值 — 移動(dòng)極差控制圖計(jì)數(shù)型控制圖的計(jì)算公式控制圖符號(hào) 控制圖名稱 控制界限p 不合格率控制圖np 不合格品數(shù)控制圖c 不合格數(shù)控制圖u 單位缺 點(diǎn) 數(shù)控制圖七、控制圖的判識(shí)ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判 定 準(zhǔn)則 1: (15C)連續(xù) 15點(diǎn) 在中心 線 上下 兩側(cè) 的 C區(qū)判 定 準(zhǔn)則 2: (1界外 )有 1點(diǎn) 在 A區(qū) 以外? 圖示 判 定準(zhǔn)則：? 當(dāng)控制圖中的點(diǎn)出現(xiàn)下列情況之一，說(shuō)明生產(chǎn)過(guò)程存在特殊原因，需立即采取措施予以消除以確保生產(chǎn)過(guò)程處于穩(wěn)定狀態(tài)。? (4)U控制圖 (單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖 )? 記錄一個(gè)抽樣批有幾個(gè)缺點(diǎn)數(shù) ,抽樣時(shí)每次可以不相同 ,但以單位缺點(diǎn)數(shù)代表質(zhì)量水準(zhǔn)。分析或控制過(guò)程不良數(shù) ,樣本大小 n要相同。其計(jì)算公式為： R=Xmax – Xmin 式中 Xmax 一組數(shù)據(jù)中的最大值， Xmin 一組數(shù)據(jù)中的最小值例如：有 3， 6， 7， 8， 10五個(gè)數(shù)據(jù)組成一組，則極差 R=103=7（方差） 樣本變異數(shù)是統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)與樣本平均值之間偏差的平方和除以（ n1）得到，是衡量統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分散程度的一種特征數(shù)，計(jì)算公式如下： 式中 S2——— 樣本變異數(shù)（方差）某一數(shù)據(jù)與樣本平均值之間的偏差例如：有 2， 3， 4， 5， 6五個(gè)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，則其變異數(shù)：e:樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織規(guī)定，把樣本方差的正平方根作為樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差，用符號(hào) S或 σ 表示，標(biāo)準(zhǔn)偏差又稱標(biāo)準(zhǔn)差，其計(jì)算公式為：沿用計(jì)算樣本變異數(shù)的例子，則那五個(gè)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差：母 體樣本 母體標(biāo)準(zhǔn)差母體標(biāo)準(zhǔn)差 S=樣本標(biāo)準(zhǔn)差樣本標(biāo)準(zhǔn)差δ= n1Σ ( X X )i2ni1S = n11Σ ( X X )2ni1因?yàn)槟阁w標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算太因?yàn)槟阁w標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算太 困難困難 ,所以一所以一般情況下般情況下 , 會(huì) 用用 S來(lái)代替來(lái)代替 δδ～～ S因?yàn)橐驗(yàn)?δ四、控制圖的分類計(jì)量值控制圖（ 1） XbarR控制圖（平均數(shù) 極差控制圖） 質(zhì)量數(shù)據(jù)可以合理分組時(shí)，為分析或控制過(guò)程平均使用 Xbar控制圖，當(dāng)制程變異使用 R控制圖（ 2） XbarS控制圖（平均數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖） S控制圖檢出力較 R控制圖大，但計(jì)算麻煩，一般樣本 n10使用 R控制圖， n10使用 S控制圖（ 3） XmedR控制圖（中位數(shù) 極差控制圖） Xmed 控制圖檢出力較差，但計(jì)算較為簡(jiǎn)單（ 4） XMR控制圖（單值 移動(dòng)極差控制圖）