田波波--外文翻譯譯文-文庫吧資料
2024-08-31 19:42本頁面
【正文】 算方程,和測量最大是反對這個價值相比。傳統(tǒng)的固定閾值落入這分類。自適應(yīng)測試階段 不采用自適應(yīng)適與傳統(tǒng)的靜態(tài)測試方法,我們只使用測試執(zhí)行數(shù)據(jù)做出的通過/失敗的決定。這成為通過/失敗限制為特定的測量問題最后的元素在自適應(yīng)測試過程這個決定。這些測量有很好地與返回的部分相關(guān)，然后為未來的測試使用。因為使用可能數(shù)以百計的外置屏幕是不可行,一個初始設(shè)置必須選擇,但這可能不是最優(yōu)的，需要調(diào)整。大量測量代表豐富的環(huán)境自適應(yīng)測試,因為很有可能,并不是所有的需要測量的時間benner和描述了一個方法的Boroffice改編,在這數(shù)據(jù)收集到一個固定的樣本和過程能力指數(shù)(肌酸磷酸激酶嗎)，再根據(jù)方程確定每個量。上述例子說明在測試中使用連續(xù)變量(參數(shù)),比簡單的通過/失敗結(jié)果好。 這些發(fā)展催生的概念離群值篩選和數(shù)據(jù)驅(qū)動測試。例子對于當(dāng)前的比率(IDDQ測試的比例最大到最小電流),當(dāng)前簽名(重要步驟排序的電流)和DeltaIDDQ(變化在電流從一個向量到下一個)，相似的概念被應(yīng)用于最小工作電壓(minVDD) 測試,得到的minVDD預(yù)測值從測量相鄰模。參數(shù)算法會在期間獲取表征然后固定所有模具。使用這個預(yù)測,測試長度(或停滯,故障覆蓋率)可以調(diào)節(jié)，以獲得期望的缺陷程度,從而提高測試時間或改進質(zhì)量相同的測試時間。雖然沒有顯示在圖1中,這個系統(tǒng)將啟用多個基于數(shù)據(jù)分析的產(chǎn)品測試流(或工藝路線)產(chǎn)品。還有一個重要的約束條件是,分析不能顯著降低測試。實時分析可能發(fā)生在測試單個模,連續(xù)模,或在短時間之間窗口(如5秒內(nèi))。制造數(shù)據(jù)表明快或慢可能在很多條件下改變,由速度測試確定是刪除或添加。數(shù)據(jù)庫是建立不僅從信息中獲得的測試但也從許多其他輸入,任何或所有這些可能會影響測試已經(jīng)完成。圖1顯示了一個高級流程圖的適應(yīng)性測試。離線分析結(jié)合了數(shù)據(jù)從許多來源,包括歷史數(shù)據(jù)收集、測試能力,所需的周轉(zhuǎn)時間,有缺陷的零件的質(zhì)量要求,和預(yù)期收益率和參數(shù)化。分析可以發(fā)生在準(zhǔn)確的時間(在平行與測試),靠近時間(最后的樣品測試和結(jié)尾的晶片和很多測試)和離線。前饋還可以被使用在一個測試步驟,比如當(dāng)一個減少向量組用于獲得一個估計的最低工作電壓(minVDD)、這是美聯(lián)儲期待完整的向量組中使用的通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)。例如,過度的后果在封裝測試可能會引發(fā)更多嚴(yán)格的晶片測試。共享數(shù)據(jù)庫和離線分析系統(tǒng)的核心部分的自適應(yīng)檢測。粒度的變化是廣泛的可能會被應(yīng)用在subdie水平,在這種情況下,不同塊的芯片上可以有測試響應(yīng)的改變在其他塊在另一個極端,檢測后統(tǒng)計分析可以用來優(yōu)化測試未來的產(chǎn)品
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