質(zhì)量控制技術(shù)-文庫吧資料
2024-08-13 03:15本頁面
【正文】 圖56 反應(yīng)溫度和產(chǎn)品收率之間相關(guān)圖（五） 檢查表檢查表又名核查表、調(diào)查表、統(tǒng)計分析表，是利用統(tǒng)計表對數(shù)據(jù)進(jìn)行整體和初步原因分析的一種表格型工具，常用于其它工具的前期統(tǒng)計工作。相關(guān)關(guān)系可以分為：正相關(guān)、負(fù)相關(guān)、不相關(guān)。（四） 散布圖散布圖又稱散點圖、相關(guān)圖，是表示兩個變量之間相互關(guān)系的圖表法。圖56 制造中次品出現(xiàn)原因的因果分析圖（三） 分層法分層法又名層別法，是將不同類型的數(shù)據(jù)按照同一性質(zhì)或同一條件進(jìn)行分類，從而找出其內(nèi)在的統(tǒng)計規(guī)律的統(tǒng)計方法。圖56是在制造中出現(xiàn)次品后，尋找其原因形成的因果圖。通常，可以從質(zhì)量問題出發(fā)，首先分析那些影響產(chǎn)品質(zhì)量最大的原因，進(jìn)而從大原因出發(fā)尋找中原因、小原因和更小的原因，并檢查和確定主要因素。圖55 曲軸不合格品排列圖（二） 因果圖因果圖由日本質(zhì)量學(xué)家石川馨發(fā)明，是用于尋找造成質(zhì)量問題的原因、表達(dá)質(zhì)量問題因果關(guān)系的一種圖形分析工具。畫出排列圖（圖55），柱圖為不合格數(shù)分類統(tǒng)計量，折線圖為累積比例。在6Sigma中，也用于對項目的主要問題如顧客抱怨等進(jìn)行分類。在任何過程中大部分缺陷也通常是由相對少數(shù)的問題引起的。 四 “QC七種工具”中的其他工具（一） 排列圖意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家Vilfredo Pareto1897年提出：80%的財富集中在20%的人手中（80/20法則）。σ的帶型區(qū)域內(nèi)，此為小概率事件，該情況也應(yīng)判為異常。（2）數(shù)據(jù)點出現(xiàn)朝單一方向變化的趨勢對于圖，其原因可能是工具磨損，設(shè)備未按期進(jìn)行檢驗；對于R圖，原材料的均勻性（變好或變壞）；（3）連續(xù)若干點集中出現(xiàn)在某些不同的數(shù)值上對于圖，其原因可能是工具磨損，設(shè)備未按期進(jìn)行檢驗；對于R圖，原因同上。UCL=CL=LCL=UCL=CL=圖R圖圖54 零件長度的均值——極差控制圖9． 計算過程平均不合格品率p根據(jù)式（），過程不合格品率為： =%。則：修正系數(shù)=根據(jù)題意，由于過程質(zhì)量要求為過程能力不小于1，顯然該過程不能滿足要求。8． 計算過程能力指數(shù)在本例中，零件長度規(guī)格限為雙側(cè)且樣本總均值不等于規(guī)格中心值，應(yīng)該根據(jù)有偏情形計算過程能力指數(shù)。6． 制作控制圖根據(jù)各樣本的均值和極差在控制圖上描點。2．計算每組的樣本均值和極差， （）計算結(jié)果如表54所示。（mm），生產(chǎn)過程質(zhì)量要求為過程能力指數(shù)不小于1，為對該過程實施連續(xù)控制，試設(shè)計均值——極差控制圖。均值——極差控制圖是圖（均值控制圖）和R圖（極差控制圖）聯(lián)合使用的一種控制圖，前者用于判斷生產(chǎn)過程是否處于或保持在所要求的受控狀態(tài)，后者用于判斷生產(chǎn)過程的標(biāo)準(zhǔn)差是否處于或保持在所要求的受控狀態(tài)。（四）控制圖的制作與判別下面以均值——極差控制圖為例說明控制圖的制作與分析方法。（三）控制圖的判別規(guī)則1． 分析用控制圖若控制圖上數(shù)據(jù)點同時滿足下表的規(guī)則，則認(rèn)為生產(chǎn)過程處于控制狀態(tài)。2． 控制用控制圖控制用控制圖由分析控制圖轉(zhuǎn)化而來，用于對生產(chǎn)過程進(jìn)行連續(xù)監(jiān)控。1． 分析用控制圖分析用控制圖用于分析生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。常用的計數(shù)值控制圖有：不合格品率控制圖（P圖），不合格品數(shù)控制圖（Pn圖），單位缺陷數(shù)控制圖（u圖），缺陷數(shù)控制圖（c圖）。常用的計量值控制圖有：均值——極差控制圖（圖），中位數(shù)——極差控制圖（圖），單值——移動極差控制圖（圖），均值——標(biāo)準(zhǔn)差控制圖（圖）。因此，生產(chǎn)過程正常情況下，質(zhì)量特性值是不會超過控制界限的，如果超出，則認(rèn)為生產(chǎn)過程發(fā)生異常變化。3．小概率原理：小概率原理是指小概率的事件一般不會發(fā)生。2．3σ準(zhǔn)則：若質(zhì)量特性值X服從正態(tài)分布N（μ，σ2），根據(jù)正態(tài)分布概率性質(zhì)，有 （）也即（μ3σ，μ+3σ）是X的實際取值范圍。如果數(shù)據(jù)點落在兩條控制界限之間，且排列無缺陷，則表明生產(chǎn)過程正常，過程出于控制狀態(tài)，否則表明生產(chǎn)條件發(fā)生異常，需要對過程采取措施，加強管理，使生產(chǎn)過程恢復(fù)正常。橫坐標(biāo)為樣本序號，縱坐標(biāo)為產(chǎn)品質(zhì)量特性，圖上三條平行線分別為：實線CL——中心線，虛線UCL——上控制界限線，虛線LCL——下控制界限線。我國也制定了有關(guān)控制圖的國家標(biāo)準(zhǔn)——。人們對控制圖的評價是：“質(zhì)量管理始于控制圖，亦終于控制圖”。由于樣本均值=148（mm），過程無偏。[例52] 已知某零件加工標(biāo)準(zhǔn)為148177。（3）只有單側(cè)上規(guī)則限Tu時，XTu產(chǎn)品合格情形 （）（4）只有單側(cè)上規(guī)則限Tl時，XTl產(chǎn)品合格情形 （）（二） 過程能力指數(shù)與過程不合格品率p之間的關(guān)系1． Cp與p的關(guān)系 （）2． Cpk與p的關(guān)系 （）3． Cp(u)與p的關(guān)系 （）4． Cp(l)與p的關(guān)系 （）以上四式中，Φ值可根據(jù)正態(tài)分布函數(shù)表查出。當(dāng)u=Tm時，過程無偏，此時過程能力指數(shù)按下式計算： （）（2）過程有偏情形當(dāng)μ≠Tm時，則稱此過程有偏。（一） 過程能力計算方法過程能力指數(shù)的計算可分為四種情形：（1）過程無偏情形設(shè)樣本的質(zhì)量特性值X~ N（μ，σ2）。當(dāng)分布中心與公差中心有偏離時，過程能力指數(shù)記為Cpk。這個參數(shù)就叫做工序能力指數(shù)。但是這個參數(shù)能否滿足產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)格要求，僅從它本身還難以看出。即過程能力＝6σ。那么，可用6σ（即μ177。對于任何生產(chǎn)過程，產(chǎn)品質(zhì)量總是分散地存在著。d）正常型b）雙峰型a）正常型g）孤島型e）偏態(tài)型f）平臺型c）鋸齒型圖52 直方圖形狀二 過程能力指數(shù)過程能力指數(shù)（Process Capability Index）用于反映過程處于正常狀態(tài)時，即人員、機器、原材料、工藝方法、測量和環(huán)境（5M1E）充分標(biāo)準(zhǔn)化并處于穩(wěn)定狀態(tài)時，所表現(xiàn)出的保證產(chǎn)品質(zhì)量的能力。6．孤島型（圖52g）：在直方圖旁邊有一個獨立的“小島”出現(xiàn)。5．平臺型（圖52f）：直方圖頂峰不明顯，呈平頂型。4．偏態(tài)型：（圖52e）：直方圖的頂峰偏向左側(cè)或右側(cè)。3．陡壁型（圖52d）：直方圖像峭壁一樣向一邊傾斜。這是由于作直方圖時數(shù)據(jù)分組太多，測量儀器誤差過大或觀測數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確等造成的。主要原因是觀測值來自兩個總體，兩個分布的數(shù)據(jù)混合在一起造成的，此時數(shù)據(jù)應(yīng)加以分層。如果是異常型，就要分析原因，加以處理。正常型是指整體形狀左右對稱的圖形，此時過程處于穩(wěn)定（統(tǒng)計控制狀態(tài)）。（三）直方圖的觀察與分析 從直方圖可以直觀地看出產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布形態(tài)，便于判斷過程是否出于控制狀態(tài)，以決定是否采取相應(yīng)對策措施。表52 頻數(shù)分布表組序組界值組中值bi頻數(shù)fi頻率pi1~32~53~104~155~96~67~2合計50100%6．計算各組中心值bi、頻數(shù)fi和頻率pi bi=（第i組下限值+第i組上限值）/2，頻數(shù)fi就是n個數(shù)據(jù)落入第i組的數(shù)據(jù)個數(shù)，而頻數(shù)pi=fi/n（見表143）。第一組的上限值為第二組的下限值，第二組的下限值加上h為第二組的上限值，其余類推。4．確定分組組距h （）
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