【正文】 和位置圖9位置2和位置4。檢測(cè)方式選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制。b)基本原則在選擇檢測(cè)面的和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各類(lèi)缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該類(lèi)焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。..3條的規(guī)定執(zhí)行，直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表11的規(guī)定，圖5 插入式管座角焊縫 圖6安放式管座角焊縫a)適用范圍 本條適用于厚度為6mm～50mm的鍋爐、壓力容器全溶化焊T型焊接接頭的超聲檢測(cè)。b)檢測(cè)方式根據(jù)結(jié)構(gòu)形式,管座焊縫的檢測(cè)有如下五種檢測(cè)方式,并考慮主要檢測(cè)對(duì)象幾何條件的限制. () (1) 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè),見(jiàn)圖3位置1.(2) 在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè),，見(jiàn)圖3位置4。(3) 應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異,必要時(shí)進(jìn)行修正。b縱縫檢測(cè)時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10℅.(1) 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。c)為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波型和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位置、方向和形狀、 可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方，見(jiàn)圖4。不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)縱向缺陷的檢測(cè)要求見(jiàn)JB/。15176。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償?！?5～45～56～60a) 檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身,再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30℅的一段區(qū)域,這個(gè)區(qū)域最小為5mm,最大為10mm.b) ,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度Ra≤,一般應(yīng)進(jìn)行打磨.(1) 采用一次反射法檢測(cè)時(shí),:式中:P=2KT ……………(4) 或 P=2Ttanβ ……………(5)P跨距,mm T母材厚度,mm K探頭K值 β 探頭折射角(。 S 聲程,mm。表6 單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定 mm 等級(jí)ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷當(dāng)量直徑≤φ4φ4＋（＞0～8dB）φ4+（＞8～12dB）φ4+（12～16 dB）＞φ4+16dB表7 由缺陷引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定 dB等級(jí)ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF≤8＞8～14＞14～20＞20～26＞26注：本表僅使用與聲程大于一倍近場(chǎng)區(qū)的缺陷表8 密集區(qū)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)ⅠⅡⅢⅣⅤ密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比℅0＞05＞510＞1020＞20ⅠⅢ14和圖16的規(guī)定. CSKⅠⅢA試塊適用壁厚范圍為6120mm焊接接頭,在滿(mǎn)足靈敏度要求時(shí),也可采用其它形式的等效試塊.,如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度,縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度),應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊,：b≥2λS/D0 ……………（3）式中：b 試塊寬度，mm。本條適用于母材厚度為8400mm全熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)，承壓設(shè)備有關(guān)的支撐件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，缺陷密集區(qū)面積以50mm50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定，應(yīng)按表7要求記錄底波降低量。也可采用其它等效方法來(lái)確定。，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。（T＜3N,且滿(mǎn)足n＞3N/T,m=2n＝按式（1）計(jì)算：a= [(BnBm)6] /2(mn)T ……………(1)式中：a衰減系數(shù)，dB/m（單程）(BnBm)兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB：T—工件檢測(cè)厚度，mm N—單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度,mmM,n—底波反射次數(shù).（T≥3N）按式（2）計(jì)算 a=[(B1B2)6]/2T ……………(2)式中：（B1B2） 兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB: 其余符號(hào)意義同式（1）。使用CSⅡ,試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ3mm平底孔（至少三個(gè)）。主要檢測(cè)方向如JB/，其它形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/。，應(yīng)采用CSⅢ試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同引起的聲能損失，其形狀和尺寸按JB/。表4 CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號(hào)CSⅠ1CSⅠ2CSⅠ3CSⅠ4L50100150200D50608080a 工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊。表2 CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度TCBII1＞20～4015≥20CBII2＞40～6030≥40CBII3＞60～10050≥65CBII4＞100～16090≥110CBII5＞160～200140≥170CBII6＞200～250190≥220 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí), 也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度,. 檢測(cè)方法 檢測(cè)面 可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè),若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上要求時(shí),也可選鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè). 掃查方式圖1圖1探頭掃查示意圖a 探頭沿垂直鋼板壓延方向,℅掃查,掃查示意圖如圖1.b ,也可進(jìn)行其它形式的掃查. 缺陷的測(cè)定與記錄,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷: a缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于滿(mǎn)刻度的50℅,即F1≥50℅者.b當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達(dá)到滿(mǎn)刻度,此時(shí),缺陷第一次反射波(F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50℅,即(B1)＜100℅,而F1/B1≥50℅者.c 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高低于滿(mǎn)刻度的50℅,即(B1) ＜50℅者.a檢出缺陷后,應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)檢測(cè),以確定缺陷的范圍.b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿(mǎn)刻度的25℅或使缺陷的第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50℅.此時(shí),探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,.c用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí),移動(dòng)探頭,使缺陷波第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿(mǎn)刻度的25℅或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50℅.此時(shí),探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,.,移動(dòng)探頭,使底面第一次反射波升高到熒光屏滿(mǎn)刻度的50℅.此時(shí),探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn).e當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí),檢測(cè)靈敏度以相應(yīng)底第二次反射波來(lái)校準(zhǔn).，可不做記錄。 檢測(cè)靈敏度 板厚小于或等于20mm時(shí)，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿(mǎn)刻度的50℅，再提高10dB作為檢測(cè)靈敏度。32005圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。 探頭選用探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定執(zhí)行。 本條適用于板厚6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。如曲線上任何一點(diǎn)下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b) 應(yīng)對(duì)掃描靈敏度進(jìn)行復(fù)核。 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 a) 應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。b）使用儀器－直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。測(cè)定方法按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿(mǎn)足其要求。 儀器校準(zhǔn)在儀器開(kāi)始使用前，應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行測(cè)定，在使用過(guò)程中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。 耦合劑 采用機(jī)油、漿糊和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。 檢測(cè)時(shí)，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15℅。而對(duì)熔接焊則應(yīng)檢查到整條焊縫。 檢測(cè)準(zhǔn)備、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定5..。，且其他制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHZ的探頭，寬度不大于10mm；，寬度不大于15mm。177。主聲束垂直主方向不應(yīng)有明顯的雙峰。水平線性誤差不大于1％，垂直線性誤差不大于5℅其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。探傷儀應(yīng)具備有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，任意相鄰12dB誤差在177。，出具檢測(cè)報(bào)告，檢測(cè)報(bào)告和底片至少要保存七年。根據(jù)對(duì)接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度可分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ級(jí)。 ：本條適用于厚度為2mm50mm的碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)。： AB級(jí)：≤D≤； 用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，； 單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/。從一般的室內(nèi)進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜、溫度適宜，光線應(yīng)暗且柔和。，所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向，一般用十字箭頭 表示。具體標(biāo)識(shí)方法見(jiàn)附錄C。：。（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。b2/3, 值可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50℅., ?值可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20℅. X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時(shí),曝光量的推薦值為15mA但管電壓增量不應(yīng)超過(guò)50KV。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊ｈb于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的100％檢測(cè)，此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿(mǎn)足要求。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120或60透照3次。小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100％檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照方式橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/D≤。橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度在1倍焊縫寬度左右。 小徑管采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿(mǎn)足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像 a) T（壁厚）≤8mmb) g（焊縫寬度）≤D。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)