電容器生產(chǎn)及四大工藝設計參數(shù)共享-文庫吧資料
2025-06-22 14:41本頁面
【正文】 距離從100mm起往高處調(diào)到不燙縮芯子端面薄膜為準，距離高了會增加氧化幾率。 電弧噴金參數(shù)的影響 u熱壓溫度根據(jù)介質(zhì)熱收縮情況而定，一般宜采用較低溫度，較大的壓力來定型。 熱壓溫度過高造成膜收縮，影響噴金接觸，尤其外幾圈。 216。 216。因此錯邊既不能太大也不能太小，更不能無錯邊或反錯邊。 金屬化膜在分切，卷繞過程中應防止金屬化層劃傷。 金屬化電容器損耗問題的重點是接觸損耗，以下從構成接觸損耗的角度加以分析討論。 . 制造過程造成金屬化電容器損耗問題的 因素及控制方法 引起介質(zhì)損耗增大主要是熱壓溫度太高，壓力過大；輔助材料損耗增大主要是由于環(huán)氧配比及固化溫度，時間有誤。 4. 潮濕對電容器損耗的影響，在潮濕環(huán)境中，電容器表面逐漸凝結水份使漏導電流增大，導致?lián)p耗增大。3.在高頻范圍內(nèi)損耗主要是金屬部分所引起。電容器損耗與頻率關系 216。金屬化層為ZnAl的第一層噴金料選用ZnAl和Zn。根據(jù)伏達依實驗確定，并按接觸電阻電位高地（前者為負，后者為正）而排列的金屬順序為：鋁、鋅、錫 、鎘、鉛、銻、鉍、汞、鐵、銅、銀、金、鉑。 n噴金料中的主要成份的電極電位應與金屬鍍層的電極電位相接近，有利于減小二者之間作為歐姆接觸電位差而獲得電氣接觸的良好可靠性。接觸電阻引起的損耗：噴金層與金屬層之間，引線與噴金層之間，存在的接觸電阻。即使這樣引線的損耗在整個金屬部分的損耗中也不是主要的。引線的損耗，是由引線的等效電阻決定的。3.這些帶電粒子參與導電，損耗能量。這種變化完全是由介質(zhì)的性質(zhì)和結構決定的。 極化損耗 是由緩慢極化引起的，這種損耗是介質(zhì)在交流電壓作用下，為了克服極化分子間的引力和摩擦力的阻礙而消耗的能量。在高溫時，它將成為介質(zhì)損耗的主要形式。但是，當環(huán)境溫度劇增或電容器本身溫度較高時，這種損耗是不可忽略的。只有在直流情況下才明顯地表現(xiàn)出來。由電導引起的損耗與頻率無關。 電導損耗 這種損耗是由介質(zhì)中的漏電流引起的，一切介質(zhì)都具有這種損耗。電容器損耗 216。 電容器損耗的分析 電容器的損耗由三部分組成：介質(zhì)損耗； 輔助材料損耗和金屬部分損耗。 根據(jù)變化規(guī)律在測試時控制偏差值，如聚酯 電容器
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