x射線背散射成像技術(shù)在安檢中的應(yīng)用-文庫吧資料
2025-06-11 20:39本頁面
【正文】 4展現(xiàn)的背散射圖像，在顯示 所有背景物的同時，能讓安檢員清晰 辨識出某封閉物中的可疑物品及人的 形狀及姿態(tài)。目前研制出的背散射安檢車，既 可在動態(tài)模式（低速移動）下進(jìn)行安 全檢查，也可在靜態(tài)模式下對其他移 動車輛和物品進(jìn)行選擇性的安檢。四、背散射成像技術(shù)被應(yīng)用于機(jī)動檢查背散射成像技術(shù)將X射線飛點(diǎn)發(fā)生器、背散探測器、圖像處理模塊等 集成在輪式或帶式行走機(jī)具上，可根 據(jù)距離進(jìn)行線控或遙控，探測復(fù)雜場 地不易搬動的可疑危險(xiǎn)物品。X射線背散射成像利用X射線飛 點(diǎn)發(fā)生器產(chǎn)生的X射線束，沿出射扇 面繞射線源心連續(xù)旋轉(zhuǎn)掃描被檢物， 完成飛點(diǎn)掃描探測，與射線源同側(cè)的 背散射探測器，接收散射光子并由光 電管轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柗糯筝敵觯?jì)算處圖2 左圖為單能透射X射線成像 右圖為背散射技術(shù)成像圖3 左圖為雙能透射X射線成像 右圖為背散射技術(shù)成像射成像的良好補(bǔ)充與完善。所以， 如果被檢物質(zhì)的原子序數(shù)越低，密度 越大，X射線照射發(fā)生散射就越強(qiáng)， 反之亦然。 背散射探測原理就是利用康普頓散射 理論，X射線遇到不同物質(zhì)會發(fā)生不 同的散射，X射線遇到低原子序數(shù)物 質(zhì)時，散射較強(qiáng)；遇到高原子序數(shù)物 質(zhì)時，散射相對較弱。圖1為對同一貨運(yùn)箱的掃描圖， 兩袋模擬爆炸物被藏于箱內(nèi)，背散射 圖像（右圖）能突出貨箱內(nèi)危險(xiǎn)有機(jī) 物，非常清晰地呈現(xiàn)出模擬爆炸物的 所在。使用雙能量X射線透射 成像能自動對被測物進(jìn)行有效原子序 數(shù)分類，但不能將少量輕薄的毒品和 炸藥從復(fù)雜的有機(jī)物背景中區(qū)分凸 顯，影響探測率。（3）不能自動對被測物進(jìn)行有 效原子序數(shù)分類，無法實(shí)現(xiàn)自動探 測。背散射成像缺點(diǎn)：（1）射線穿透能力差。（2）射線源與背散射探測器在 被測物的同一側(cè)，便于實(shí)施探測。飛點(diǎn)掃描技術(shù)是背散射掃描技術(shù) 的核心，它可瞬時對X
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