【正文】 缺失)等問題。它主要分為EMS(電磁抗干擾)及EMI(電磁騷擾)二大部分。 可靠性與失效分析 體系圖 可靠性與失效分析 耐久性（壽命）失效分析機(jī)械（環(huán)境）氣候（環(huán)境） 電耐久性多應(yīng)力溫度（儲存） 微結(jié)構(gòu)失效熱失效12產(chǎn)品與包裝加速度離心力碰撞（結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊）沖 擊振動（隨機(jī)）振動（正弦）附高溫應(yīng)力附低溫應(yīng)力溫濕度低 溫高 溫其它失效性能失效溫控儀熱成像分析儀熱阻測試儀X射線應(yīng)用儀視像顯微鏡溫度、電、其他加速壽命間歇壽命恒定壽命181719列入EMC及安規(guī)部分處理自(定)制1178916151413其 他高 溫低 溫高低溫沖擊高低溫循環(huán)恒溫恒濕交變濕熱低氣壓鹽 霧水試驗(yàn)沙 塵多應(yīng)力風(fēng) 壓防紫外防臭氧腐蝕防 雷12106543注：此處編號為“設(shè)備部分序號” 可靠性與失效分析 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)(補(bǔ)充修訂)序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注1可靠性試驗(yàn)方法GB/T / IEC6006821：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫√GB/T / IEC6006822：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫√GB/T / IEC60068278：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)√GB/T / IEC60068230：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h12h循環(huán))√GB/T / idt IEC68227：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊√GB/T / idt IEC68229：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞√GB/T / idt IEC68230：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落√GB/T / IEC6006826：1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(正弦)√GB/T / IEC6006827：1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度√GB/T / IEC60068210：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長霉√GB/T / IEC60068211：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧√GB/T / IEC60068252：1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）√GB/T / IEC60068213：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓√GB/T / IEC60068214：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封√GB/T / idt IEC6825：1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射√GB/T / IEC60068240：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068241：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068239：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)√GB/T / idt IEC68245：1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑浸漬√GB/T / idt IEC681：1988電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)√GB/T / IEC60068238：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)√GB/T / IEC60068250：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068251：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068268：1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)√GB/T / IEC60068218：2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱√GB/T 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法√序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動——時(shí)間歷程法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動——正弦拍頻法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke：流動混合氣體腐蝕試驗(yàn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77：結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc：流體污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eh:錘擊污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字制作）和導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動 混合模式√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（高溫、低溫）/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：傾斜和搖擺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合√GB/T 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第1部分：振動√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第2部分：鹽霧√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納√2可靠性試驗(yàn)導(dǎo)則、設(shè)備性能確認(rèn)GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A/B(帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測量√GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 √序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（高溫、低溫）和振動(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動試驗(yàn)選擇√√3可靠性設(shè)備檢驗(yàn)、檢定方法、技術(shù)條件√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動（正弦）試驗(yàn)用電動振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗(yàn)用液壓振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動臺√GB/T 105862006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105872006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105882006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105892008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105902006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105912006高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 105922008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 111582008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件√GB/T 111592010低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件√序號執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號、名稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注4包裝件試驗(yàn)GB 包裝運(yùn)輸包裝件 試驗(yàn)時(shí)各部位的標(biāo)示方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第3部分:靜載荷堆碼試驗(yàn)方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第4部分:采用壓力試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行的抗壓和堆碼試驗(yàn)方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 滾動試驗(yàn)方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第7部分:正弦定頻振動試驗(yàn)方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第9部分:噴淋試驗(yàn)方