afm的原理及應(yīng)用ppt課件-文庫吧資料
2025-05-11 07:53本頁面
【正文】 返回 原子力顯微鏡的構(gòu)成 在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，可分成三個部分：力檢測部分、位置檢測部分、反饋系統(tǒng)。 特點： ? 對于一些與基底結(jié)合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結(jié)構(gòu)的 “搬運效應(yīng) ”。損害樣品的可能性比接觸式少（不用側(cè)面力，摩擦或者拖拽）。反饋系統(tǒng)控制微懸臂的振幅恒定，針尖就跟隨表面的起伏上下移動獲得形貌信息。當(dāng)針尖與樣品不接觸時，微懸臂以最大振幅自由振蕩。這種模式的操作相對較難，通常不適用于在液體中成像，在生物中的應(yīng)用也很少。 ? 所得到的信號更小，需要更靈敏的裝置，這種模式雖然增加了顯微鏡的靈敏度，但當(dāng)針尖和樣品之間的距離較長時，分辨率要比接觸模式和輕敲模式都低。 接觸式（ contact mode） 非接觸式原子力顯微鏡 ? 在非接觸模式中，針尖在樣品表面的上方振動，始終不與樣品接觸，探測器檢測的是范德華作用力和靜電力等對成像樣品沒有破壞的長程作用力。 特點： ? 通常情況下，接觸模式都可以產(chǎn)生穩(wěn)定的、分辨率高的圖像。 ? 由于是接觸式掃描，在接觸樣品時可能會是樣品表面彎曲。 ? 2. 非接觸模式（ NonContact Mode）：作用力在引力范圍，包括范德華力、靜電力或磁力等。 AFM出現(xiàn)的意義 ? STM的原理是電子的 “ 隧道效應(yīng) ” ，所以只能測導(dǎo)體和部分半導(dǎo)體 ? 1985年， IBM公司的 Binning和 Stanford大學(xué)的Quate研發(fā)出了原子力顯微鏡（ AFM），彌補了STM的不足 返回 成 像 原 理 Expulsive force atom atom Attractive force atom atom 恒定力量
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