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選礦自動(dòng)化講座ppt課件-文庫(kù)吧資料

2025-05-10 13:40本頁(yè)面
  

【正文】 聲波物位計(jì)的液位計(jì) 傳感器 A對(duì)準(zhǔn)浮選槽泡沫, B對(duì)準(zhǔn)浮球上相連的平板,平板位移的變化即為礦漿液位的變化 ,兩個(gè)超聲波探頭所測(cè)物位差距 ,即為泡沫層厚度 。 微波水分快速測(cè)定 昆明理工大學(xué)利用微波技術(shù)對(duì)硫化鎳精礦水分快速測(cè)定方法開(kāi)展了成功研究。 中子水分儀測(cè)量原理圖 首鋼計(jì)控公司研制生產(chǎn)的ZSY系列智能中子水分儀 微波水分儀 微波是指頻率范圍在 300 MHz一 3000 GHz的電磁波。由于氫原子核對(duì)中子發(fā)生碰撞而減速的能力比其他原子核大很多,因此,被測(cè)物對(duì)中子的減速作用主要是水分子。 ? 窗口污染自動(dòng)檢測(cè)裝置 ,提示維護(hù)人員擦洗。 ? 采用專利技術(shù)成功地克服了混合料高、低不平 對(duì)水分測(cè)量的影響 。 MM710紅外水分儀的特點(diǎn) ? 探頭有自動(dòng)補(bǔ)償相對(duì)濕度的功能,測(cè)量不受濕度影響 。 6 水分檢測(cè) 按測(cè)量機(jī)理分類 紅外水分測(cè)定儀 中子水分測(cè)定儀 微波水分測(cè)定儀 紅外水分測(cè)定原理 紅外區(qū)域水的吸收光譜 從水的紅外光譜圖可以看出,在波長(zhǎng) 、 的吸收帶。儀器具有自動(dòng)分析、使用方便、操作簡(jiǎn)單、精度高等特點(diǎn),可對(duì)粉料、塊狀固體、溶液或溶漿等各種材料進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)快速分析。 ? 分析結(jié)果精度較高,原礦、精礦的 誤差小于 5%,尾礦的誤差小于 10%。 ? (2)可測(cè)多達(dá) 12個(gè)礦流,測(cè)量時(shí)間短,平均每個(gè)礦流測(cè)量時(shí)間小于 1min。 測(cè) Fe品位或灰分精度:< %。 ? 探測(cè)器采用閃爍探測(cè)器,探測(cè)器內(nèi)裝有高壓產(chǎn)生電路、能譜分析電路和自動(dòng)穩(wěn)峰電路 。該儀器屬于試驗(yàn)室型分析儀 。 Courier 3SL系統(tǒng)組成框圖 SSM:二次取樣、樣品縮分組件 CSA:標(biāo)定/組合式取樣器 PCS:探頭控制裝置 WDPF型微機(jī)多道 多探頭在線品位分析儀 分析系統(tǒng)組成 WDPF分析系統(tǒng)配置圖 ? 每個(gè)探頭是一個(gè)獨(dú)立的實(shí)體,全密封裝配在金屬殼體內(nèi),靠取樣點(diǎn)就近安裝; ? 一機(jī)多探頭,多元素的在線檢測(cè),目前最大擴(kuò)展能力達(dá) 16個(gè)檢測(cè)點(diǎn); ? 分析準(zhǔn)確度(相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)誤差):原礦類: 2%~ 8%;精礦類: %~ 5%;尾礦類: 5%~ 15%。 激 光 粒度分析 PSI500 激光衍射原理簡(jiǎn)單示意 PKI074P 粒度儀 5 礦漿品位檢測(cè) 有代表性的產(chǎn)品 芬蘭奧托昆普的庫(kù)里厄系列( Courier) 馬鞍山礦院的 WDPF型在線分析儀 四川先達(dá)公司的 CIT— 2022M型 成都理工大 IED2022G型 XRF快速分析儀 丹東東方測(cè)控的 DF5730型 西北礦冶院的 BYF100一 Ⅲ 型載流 Courier 3SL品 位分析原理 使用 X射線管為激發(fā)源, X射線照射到被測(cè)樣品時(shí)發(fā)射出 X熒光射線,在元索周期表中每一種元素對(duì)應(yīng)一種特征的輻射能量即特征波長(zhǎng),基于這一原理,各種元素可相互分辨出來(lái),通過(guò)確定每一元素的單獨(dú)熒光射線強(qiáng)度,可獲得與礦樣中元素含量成正比的信號(hào),所測(cè)量的信號(hào)再轉(zhuǎn)換成數(shù)字形式并應(yīng)用于分析計(jì)算,最終得出樣品所含元素及其品位。由公式( 1)、( 2)可知作用于差壓變送器的壓力差與礦漿的比重成正比,因而差壓變送器輸出的 4~ 20mA電信號(hào)也與礦漿比重成正比。只要測(cè)出 α 就可得知相應(yīng)的礦漿濃度 。 新型礦漿流量計(jì) 3 礦漿濃度檢測(cè) γ 射線濃度計(jì) I=I0eμ dρ g 01IId Lng?? ?? 超聲波濃度計(jì) 內(nèi)部電路結(jié)構(gòu) 超聲波濃度計(jì)測(cè)量原理 基于超聲波穿越被測(cè)介質(zhì)前后聲強(qiáng)、聲速或聲阻的變化來(lái)測(cè)量礦漿濃度。因此 γ 射線探測(cè)器接收的射線量唯一反映物料多少。 核子秤 儀器結(jié)
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