結(jié)構(gòu)分析seppt課件-文庫(kù)吧資料
2025-05-10 12:01本頁(yè)面
【正文】 plica)”在透射電鏡下觀察：冰凍蝕刻電鏡照片演示冰凍蝕刻電鏡照片演示細(xì)胞質(zhì)膜的冰凍蝕刻電鏡照片細(xì)胞質(zhì)膜的冰凍蝕刻電鏡照片冰冰凍凍蝕蝕刻刻電電鏡鏡照照片片演演示示核膜核膜緊密連結(jié)的冰凍蝕刻電鏡照片緊密連結(jié)的冰凍蝕刻電鏡照片 微絨毛的冰凍蝕刻電鏡照片微絨毛的冰凍蝕刻電鏡照片連結(jié)子連結(jié)子 基膜基膜冰冰凍凍蝕蝕刻刻電電鏡鏡照照片片演演示示 SEM在在 配合物研究中的 應(yīng)用應(yīng)用1) 對(duì)配合物晶體的形貌結(jié)構(gòu)觀察 Schiff堿及其某些配合物具有殺菌、抗癌等生物活性，其生理活性與配合物分子的幾何形狀、自旋狀態(tài)等有關(guān)。(3) 表面要導(dǎo)電 . 近年來(lái)發(fā)展的環(huán)境掃描電鏡可以直接觀察含水樣品和非導(dǎo)體 ,不需進(jìn)行表面鍍金 ,對(duì)樣品表面結(jié)構(gòu)不會(huì)造成破壞 ,為研究溶液中小晶體的生長(zhǎng)過(guò)程提供了可能性。3) 優(yōu)點(diǎn)和 局限性局限性5) 可同時(shí)進(jìn)行多種功能分析，如與 X射線能譜儀配合使用，可在觀察形貌的同時(shí)進(jìn)行元素的定性、定量分析。3) 圖像的放大倍率在很大范圍內(nèi)連續(xù)可變 (101~105)； 都可以得到清晰的圖片。?106Pa ? ?107 ~109Pa?109Pa ? ?1010Pa真空系統(tǒng)的組成部件：真空系統(tǒng)的組成部件：真真空空系系統(tǒng)統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)：1)只需一次掃描 . (AFM多次掃描 ) 由于發(fā)射電子的強(qiáng)度隨著樣品表面的形貌和成分的不同而變化 , 因此 , 只需一次掃描就能對(duì)樣品的表面形貌、成分和結(jié)構(gòu)進(jìn)行綜合分析。1) 電鏡與光鏡的對(duì)比電鏡與光鏡的對(duì)比 掃描電鏡掃描電鏡透射電鏡透射電鏡 光光 鏡鏡 肉眼玻璃透鏡(目鏡 )投影鏡玻璃透鏡(物鏡 )樣品玻璃透鏡(聚光鏡 )光源 (鹵燈或汞燈 ) 高壓電子槍樣品電磁透鏡束偏轉(zhuǎn)器圖像投到視屏上熒光屏光鏡、透射電鏡及掃描電鏡的成像光路圖解光鏡、透射電鏡及掃描電鏡的成像光路圖解 電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡的異同點(diǎn)電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡的異同點(diǎn) 1,000,0001,000放大倍數(shù) nm200~100 nm分 辨 力電聚焦機(jī)械聚焦聚焦方式電磁透鏡電磁透鏡光學(xué)透鏡光學(xué)透鏡透透 鏡鏡真真 空空空空 氣氣介介 質(zhì)質(zhì)短： ~： 200~750波長(zhǎng) (nm)電子束電子束光光 束束照照 射射 光光電子顯微鏡光學(xué)顯微鏡2) 掃描電鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理掃描電鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理 掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍電磁透鏡掃描線圈樣品室信號(hào)的收集處理及顯示系統(tǒng)真空系統(tǒng)供電保護(hù)系統(tǒng)等掃描電鏡掃描電鏡掃描電子顯微鏡 (SEM)電子槍電磁透鏡掃描線圈樣品室信號(hào)的收集處理系統(tǒng)真空系統(tǒng)供電保護(hù)系統(tǒng)顯示系統(tǒng) (顯象管 )(1~10KV)SEMSEM原理電子槍燈絲電子槍燈絲電磁電磁透鏡透鏡探測(cè)器探測(cè)器電磁電磁透鏡透鏡掃描線圈的掃描線圈的束偏轉(zhuǎn)器束偏轉(zhuǎn)器樣品托樣品托樣品樣品顯象管顯象管次級(jí)電子次級(jí)電子掃描電鏡成像原理的簡(jiǎn)單圖示掃描電鏡成像原理的簡(jiǎn)單圖示掃描電鏡的成像原理電子槍接 受、轉(zhuǎn)變成光子放 大、轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)電子束電磁透鏡樣品表面掃描線圈掃描線圈次級(jí)電子信號(hào)探測(cè)器光電倍增管顯象管 /熒光屏樣品表面上相應(yīng)點(diǎn)樣品表面上相應(yīng)點(diǎn)所發(fā)出的次級(jí)電子數(shù)所發(fā)出的次級(jí)電子數(shù)熒光點(diǎn)的亮度熒光點(diǎn)的亮度抽真空的意義：抽真空的意義：=防止燈絲的氧化損傷； =確保電子束在運(yùn)行過(guò)程中的運(yùn)動(dòng)軌跡不受空氣分子干擾； =去除空氣分子對(duì)樣品的污染。STEM: Scanning tansmission electron microscope 同時(shí)看表面和
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