超聲檢測方法分類與特點(diǎn)-文庫吧資料
2025-05-08 03:34本頁面
【正文】 近的角度（ 177。 板波充塞于整個(gè)試件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的和表面的缺陷。 1．板波的 種 類 使用板波進(jìn)行檢測的方法，稱為板波法。板波充塞于整個(gè)試件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的和表面的缺陷。 板波檢測 ? 使用板波進(jìn)行檢測的方法，稱為板波法。同時(shí)，它僅沿表面?zhèn)鞑?，?duì)于表面上的復(fù)層、油污、不光潔等，反應(yīng)敏感，并被大量地衰減。 表面、近表面缺陷 1．表面波的性質(zhì) 傳播 運(yùn)動(dòng)狀態(tài) 速度 能量分布 表面波的產(chǎn)生 （ 1） Y切石英法 （ 2）縱波折射法 3．人工反射體的反射特點(diǎn) （ 1）柱孔 （ 2）橫孔 （ 3）溝槽 （ 4）棱邊的反射 表面波檢測 4．影響表面波傳播的其他因素 ? 油 ? 表面光潔度和材料組織 ? 圓柱曲面 5．表面波檢測的應(yīng)用 （ 1）強(qiáng)度法檢測表面裂紋 ? 掃描速度調(diào)整 ? 靈敏度調(diào)整和定量 直角棱邊反射波 （ 2）時(shí)延法測量表面裂紋的縱向尺寸 特點(diǎn)：利用裂紋開口處的反射信號(hào)和裂紋尖端處的反射信號(hào)在傳播時(shí)間上的差值作為測定裂紋縱向尺寸的信息，而不是裂紋反射信號(hào)的強(qiáng)度。 ?，缺陷定位相對(duì)較復(fù)雜。 ?，靈敏度相對(duì)較高。 ?產(chǎn)生的兩種方式 ?一種是接觸法時(shí)采用斜探頭，由晶片發(fā)出的縱波通過一定傾角的斜楔到達(dá)接觸面，在界面處發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，在工件中產(chǎn)生折射后的斜射橫波聲束；另一種是利用水浸直探頭，在水中改變聲束入射到檢測面時(shí)的入射角，從而在工件中產(chǎn)生所需波型和角度的折射波。 ?橫波法主要用于焊接接頭和管材的檢測，是目前特種設(shè)備行業(yè)中應(yīng)用最多的一種方法。 橫波法 ? 將縱波傾斜入射至試件探測面，利用波型轉(zhuǎn)換得到橫波進(jìn)行檢測的方法，稱為橫波法。 ? b. 于盲區(qū)和分辨力的限制，其中反射法只能發(fā)現(xiàn)試件內(nèi)部離探測面一定距離以外的缺陷。 ? ，波型和傳播方向不變，所以缺陷定位比較方便。 TOFD ? 縱波法的優(yōu)點(diǎn)： ? ，對(duì)與探測面平行的缺陷檢出效果最佳。 1．縱波直探頭法 單晶直探頭脈沖反射法、雙晶直探頭脈沖反射法和穿透法 垂直法主要用于鑄造、鍛壓、軋材及其制品的檢測 2. 縱波斜探頭法 將縱波傾斜入射至試件探測面，利用折射縱波進(jìn)行檢測的方法 探頭移動(dòng)范圍較小、檢測范圍較深的一些部件 ?，F(xiàn)在用于無損檢測也取得了良好的效果。 1．B、C、D掃 描成像 B、 C、 D掃描成像設(shè)備較簡單、操作容易，已成為最普及的三種超聲成像方法。 ? 超聲成像的研究歷史 ? 超聲成像方法發(fā)展到現(xiàn)代，主要采用掃描接收信號(hào)、再進(jìn)行圖像重構(gòu)的方式，因此又稱為超聲掃描成像技術(shù)，起初主要為 B、 C掃描成像，隨后為檢測焊縫而開發(fā)出 D、 P掃描（投影掃描成像）；因?yàn)橄嗫仃嚰夹g(shù)的出現(xiàn)，又出現(xiàn) S掃描（扇形掃描成像）等。物體的超聲圖像可提供直觀和大量的信息，直接顯示物體內(nèi)部情況，且可靠性、復(fù)現(xiàn)性高，可以對(duì)缺陷進(jìn)行定量動(dòng)態(tài)監(jiān)控。 超聲成像方法 ? 超聲成像就是用超聲波獲得物體可見圖像的方法。換言之， A型顯示的內(nèi)容是探頭駐留在工件上某一點(diǎn)時(shí)，沿聲束傳播方向的回波振幅分布。 A型顯示是最基本的一種信號(hào)顯示方式。 A型顯示和超聲成像 ?按超聲信號(hào)的顯示方式，可將超聲檢測方法分為 A型顯示和超聲成像方法，其中超聲成像顯示按成像方式的不同又可再分為 B、 C、 D、 S、 P型顯示等。 ?若頻率可調(diào)的連續(xù)超聲波在被檢工件內(nèi)傳播，當(dāng)試件的厚度為超聲波的半波長的整數(shù)倍時(shí)，將引起共振，儀器顯示出共振頻率，用相鄰的兩個(gè)共振頻率之差可算出試件厚度。 共振法 ?依據(jù)試件的共振特性來判斷缺陷情況和工件厚度變化情況的方法稱為共振法。 荷蘭焊接協(xié)會(huì)的對(duì)比試驗(yàn) POD 缺陷檢出率 FCR 誤報(bào)率 R可靠性 TOFD局限性 （ 1）由于 TOFD的直通波和底面反射波均有一定的寬度，處于此范圍的缺陷波難以被發(fā)現(xiàn)，因此在掃查面和底面存在幾毫米的表面盲區(qū)； （ 2） TOFD信號(hào)較弱，易受噪聲影響； （ 3）傾向于“過分夸大”中壁缺陷和部分良性缺陷，比如氣孔、夾層等； （ 4） TOFD數(shù)據(jù)分析對(duì)檢測人員要求高。 圖 54 ?多次底波法主要用于厚度不大、形狀簡單、探測面與底面平行的試件探傷，缺陷檢出的靈敏度低于缺陷回波法。由于該方法檢出缺陷定位、定量不便
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