【正文】 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??? ? ? ? ? ? ? ? ? 制程準確度 (Capability of Accuracy) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 實績平均值 (X),與 規(guī)格中心值 (u)其間 偏差的程度 ,是 期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品的實際值能與規(guī)格中心值一致 (1) Ca之計算方式如下： 實績平均值 規(guī)格中心值 Xu Ca== 規(guī)格公差 / 2 T/2 T=USLLSL =規(guī)格上限 規(guī)格下限 例 : 上面 XbarR chart例子中 50 Ca= (6040) / 2 = (2) Ca值的等級判定 Ca值是正值 實績平均值較規(guī)格中心值偏高 Ca值是負值 實績平均值較規(guī)格中心值偏低 Ca值愈小 ,品質愈佳 ,依 Ca值大小一般分為以下六級： 等級 起始值 終點值 建 議 說 明 A 0 理想的狀態(tài) ,須繼續(xù)維持 B 有必要盡可能將其改善為 A級 C 作業(yè)員可能看錯規(guī)格 ,不按作業(yè)標準或檢討作業(yè)標準 D 應立即檢查 ,並改善 E 1 采取緊急措施 ,並全面檢討 ,必要時考慮停止生產(chǎn) F 1 立即停止生產(chǎn) ,相關部門開會 ,規(guī)格完全弄錯 2. Cp 制程精確度 (Capability of Precision) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 6個 估計標準差 ( σ ),與 規(guī)格公差 (T)其間 相差的程 度 ,是期望製程中生產(chǎn)的每個產(chǎn)品以規(guī)格中心值為目標，其 變異寬度 愈小愈好，換 言之，即在衡量 規(guī)格公差範圍與製程變異寬度 兩者間相差程度 . (1)Cp之計算方式如下： 估計標準差 σ = R / d2 R=全距的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ^ ^ n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 以上面 XbarR chart 為例 , σ = / = ^ Cp = 規(guī)格公差 6個估計標準差 T 6 σ ^ 雙邊規(guī)格 = 以上面 XbarR chart 為例 ,Cp = 20 / 6* = Cp = Cp = 規(guī)格上限 – 實際平均值 3個估計標準差 3個估計標準差 實際平均 值規(guī)格上限 = = USL X X LSL 3 σ 3 σ 單邊規(guī)格 ^ ^ 2. Cp值的等級判定 Cp值愈大 規(guī)格公差 (T)大於估計標準差 ( σ )愈多， 即表示製程的變異寬度遠小於 規(guī)格公差 Cp值愈大 ,品質愈佳。 ＊ 能及時并正確地找出不良原因 ,可使品質穩(wěn)定 ,為最優(yōu)良之管制工具 . ? 缺點 : ＊ 在制造過程中 ,需要經(jīng)常抽樣并予以測定以及計算 ,后需點上管制圖 ,較為麻煩而費時間 . 計數(shù)值管制圖之優(yōu)缺點 ? 優(yōu)點 : ＊ 只在生產(chǎn)完成后 ,才抽取樣本 ,將區(qū)分為良品與不良品 ,所需數(shù)據(jù)能以簡單方法獲得之 . ＊ 對于工廠整個品質情況了解非常方便 . ? 缺點 : ＊ 只靠此種管制圖 ,有時無法尋求不良之真正原因 ,而不能及時采取處理措施 ,而延誤時機 . 管制圖之繪制流程 搜集數(shù)據(jù) 繪制解析用管制圖 穩(wěn)定狀態(tài)？ 繪制直方圖 → 分布 → 層別研究 滿足規(guī)格？ 制程能力研究 管制用管制圖 Yes 消除非機遇原因 No 滿足 減少機遇原因 4M、 1E 分析 不滿足 提升製程能力 Z value 管制圖 ─ 制程控制的工具 ： ● 收集資料並畫在圖上 ： ● 監(jiān)控是否超出『管制上、下限』 → 非機遇原因 ● 計算所收集的資料，作為分析之用 ● 觀察『全距』的變化 ： ● 依所計算之結果，評估制程能力指數(shù) ● 監(jiān)控在『受控』狀態(tài)資料的變化，確定『機遇原因』『全距』 的變化，並採取措施 必要時，可修改『管制上、下限』，持續(xù)不斷的改善 解析用管制圖 管制用管制圖 第四章 : SPC管制圖 結合本公司實際情況 ,本教材只講解 P chart , U chart , Xbar – R chart 三種管制圖 一 . P chart不良率管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)可不相同 ) : 2. 計算 CL=P=∑di / ∑ ni =(5+6+6+……7) / (200+230+220+….210) = 3. 計算 UCL與 LCL (本例各檢驗數(shù)均在檢驗數(shù)總平均數(shù) +25%之內(nèi) ) UCL=P+3* P*(1P)/ni =+3* *()/ n = LCL=P3* P*(1P)/ni =* *()/ n = =0 注 : ni表示第 i…… 組之檢驗數(shù) ,本例為 : 200,230,220…………, 但如所有檢驗均在檢 驗數(shù)總總平均數(shù) +25%之內(nèi) ,該 ni則可用 n代替 (若否則做出的圖下頁圖 2). n=(n1+n2+n3+…….)/K (K= 檢驗組數(shù) ) 該例 n= (200+230+220+….210) / 20 = 203 當管制下限計算出來是負數(shù)時 ,必須將其改為“ 0” 圖 1 圖 2 二 . C chart缺點數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)需相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 檢驗數(shù) 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 缺點數(shù) 5 6 9 5 6 7 8 6 9 7 5 4 2. 計算 CL=C=(C1+C2+C3+…….Ck)/k k= 組數(shù) CL=C=(5+6+9+……..4) / 12 = 3. 計算 UCL=C+3* C =+3* = 4. 計算 LCL=C3* C =* = 0 5. 圖示 三 . U chart單位缺點數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)可不相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 檢驗數(shù) 400 375 365 420 405 410 360 350 400 400 440 450 430 470 410 缺點數(shù) 23 19 18 26 20 18 12 10 18 22 28 20 19 31 17 單位 U 2. 計算 CL=U=(C1+C2+C3+…….Ci) / (N1+N2+N3+…..Ni) CL=U=(23+19+18+……17) / (400+375+365+……410) = 3. 計算 UCL=U+3* U / Ni 4. 計算 LCU=U3* U / Ni 注 : 如所有 N均在 N的 +25%之內(nèi) ,則 Ni=N 本例 Ni=N(因為所有 Ni均在 N+25%內(nèi) ) 若否則做出圖如下下頁圖 2 N= (400+375+365+……410) / 15 = UCL=U+3* U / N = + 3* / = LCL=U3* U / N = 3* / = 圖 1 圖 1 四 . XR chart (一般要有 25子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價值 ) : 50+10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 NO1 51 53 51 50 48 47 50 49 50 49 50 50 50 52 49 55 52 50 46 48 NO2 48 47 49 52 48 53 53 52 48 52 52 53 50 50 51 46 52 49 51 54 NO3 53 48 50 50 50 51 45 51 55 50 52 47 51 52 48 50 51 52 48 51 NO4 51 50 53 48 49 51 49 49 53 52 53 51 50 50 52 52 51 54 49 49 NO5 51 52 50 45 47 52 52 52 48 50 55 51 50 45 51 49 51 48 48 48 X 50 49 50 R 5 6 4 7 3 6 8 3 7 3 5 6 1 7 4 9 1 6 5 6 2. 計算總體平均值 X= X1+X2+X3+….Xi K =XCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 X=XCL=(+++………) / 20 = 3. 計算全距平均值 R=(R1+R