spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制第二版1企業(yè)版(參考版)
2025-02-22 14:44本頁(yè)面
【正文】 90 過(guò)程能力研究 CpK 的計(jì)算 n d22 1 . 1 2 83 1 . 6 9 34 2 . 0 5 95 2 . 3 2 66 2 . 5 3 47 2 . 7 0 48 2 . 8 4 79 2 . 9 710 3 . 0 7 811 3 . 1 7 312 3 . 2 5 813 3 . 3 3 614 3 . 4 0 715 3 . 4 7 22 2 R LSLX Z,RX USLZ)Z,Z( Zmin,3minLSLUSLLSLUSLddMINZCpk????? ??? 3 LSLX :3X USL CPK ?2dR?? 謝 謝 91 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 使用樣本標(biāo)準(zhǔn)差 QS 9000/TS 要求 Ppk 必須 大于或等于 12)(??? ?nXXis88 過(guò)程能力研究 PpK的計(jì)算 12)(??? ?nXXis SSMINZPpk LSLX Z,X USLZ)Z,Z( Zmin,3min LSLUSLLSLUSL????? ?SS 3 LSLX :3X USL PPK ?或 89 過(guò)程能力研究 ? Cpk 的定義 對(duì)穩(wěn)定過(guò)程進(jìn)行的能力研究，要求過(guò)程必須穩(wěn)定，取樣一般為 25個(gè)子組。 檢定判讀原則 A B C C B A UCL LCL X85 檢定規(guī)則 8： (1界外 ) 有點(diǎn)在 A區(qū)以外者。 檢定判讀原則 A B C C B A UCL LCL X83 檢定規(guī)則 6： (14升降 ) 連續(xù) 14點(diǎn)交互著一升一降者。 檢定判讀原則 A B C C B A UCL LCL X81 檢定規(guī)則 4： (8缺 C) 有 8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但 C區(qū)並無(wú)點(diǎn)子 者。 UCL A B C C B A LCL X79 檢定規(guī)則 2： (4/5 B) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)在 B區(qū)或 B區(qū)以外者。 。 ? 即使在判斷穩(wěn)態(tài)的場(chǎng)合 ,對(duì)于界外點(diǎn)也必須采取 “ 查出異因 ， 采取措施 ，保證消除 ， 不再出現(xiàn) ， 納入標(biāo)準(zhǔn) ” 20個(gè)字來(lái)處理 。 ? 2. 連續(xù) 35個(gè)點(diǎn)子至多 1個(gè)點(diǎn)子落在控制界限外 。 如果連續(xù)在控制界內(nèi)的點(diǎn)子更多 ,即使有個(gè)別點(diǎn)子出界 ,過(guò)程仍看作是穩(wěn)態(tài)的 ,這就是判穩(wěn)準(zhǔn)則 。 如果連續(xù)有許多點(diǎn)子 ,如 25個(gè)點(diǎn)子全部都在控制界限內(nèi) ,情況就大不相同 。 ? 在統(tǒng)計(jì)量為正態(tài)分布的情況下 ,由于第 I類(lèi)錯(cuò)誤的概率 α取得很小 ,所以只要有 一個(gè)點(diǎn)子在界外就可以判斷有異常 。 由于異因只有有限個(gè) ， 故經(jīng)過(guò)有限次循環(huán)后 ， 最終達(dá)到在過(guò)程中只存在偶因而不存在異因 ， 這種狀態(tài)稱(chēng)為統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)或穩(wěn)定狀態(tài) ， 簡(jiǎn)稱(chēng)穩(wěn)態(tài) 。如下圖中點(diǎn)子有逐漸上升的趨勢(shì) ， 可以在這種趨勢(shì)造成不合格品之前就采取措施加以消除 ， 起到預(yù)防的作用 。 在樣本容量不等的情況下，當(dāng)不合格數(shù)的情況分布于整個(gè)產(chǎn)品時(shí)（如油漆零件的缺陷數(shù)，裝配工序的缺陷數(shù)） 當(dāng)不合格現(xiàn)象可從多個(gè)來(lái)源發(fā)現(xiàn)，或由于多種原因造成時(shí)。 當(dāng)不合格現(xiàn) 象可從多個(gè)來(lái)源發(fā)現(xiàn)，或由多種原因造成時(shí)。 組號(hào) 樣本大小 ni 不合格品數(shù) np 不合格品率 pi 1 230 6 2 300 13 …… …… …… …… 25 181 6 合計(jì) 6031 167 P = % n = 6031/25 = 241， 125% n = 301， 75% n = 180 nmax ＜ 125% n nmin ＞ 75% n 故本例可用樣本大小的均值 n 為代表 計(jì)算平均不合格品率 P 計(jì)算中心線和控制限 70 不合格品數(shù)的 np圖 何時(shí)使用 np圖 n為子組大小， p為不合格品率，則 np為不合格品個(gè)數(shù)； 用于控制對(duì)象為合格品數(shù)的場(chǎng)合； 只有在子組大小相同的情況下，才能應(yīng)用此圖； 71 不合格數(shù)的 C圖 何時(shí)使用 c 圖 當(dāng)數(shù)據(jù)為計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)時(shí)（一種可以計(jì)數(shù)的屬性）。 25%時(shí)，可用平均樣本容量（ n）來(lái)計(jì)算控制限。如：化工等氣體與液體流程式過(guò)程）。 3σ；而規(guī)格界限（公差界限）不能作控制限； ? 打點(diǎn)出界時(shí)，應(yīng)查找并消除特殊原因，去除該組數(shù)據(jù)后，重新計(jì)算控制限； ? 當(dāng) k＜ 20時(shí)，必須全部重新取樣，重新計(jì)算控制限； ? 計(jì)量型控制圖，先作極差圖，判穩(wěn)后，再作均值圖； ? 計(jì)數(shù)型控制圖，盡可能采用衡定的子組大小 n； 62 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ XS圖） ? 與 XbarR圖相似，只是用標(biāo)準(zhǔn)差（ S）代潛了極差（ R），稱(chēng) XbarS圖； ? 標(biāo)準(zhǔn)差 S能夠充分利用子組信息； ? 當(dāng) n≥9時(shí)，用 S圖代潛 R圖； ? 一般地，能使用 XbarR圖的地方，均可以用XbarS圖代替； 63 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10B4 3 . 2 7 2 . 5 7 2 . 2 7 2 . 0 9 1 . 9 7 1 . 8 8 1 . 8 2 1 . 7 6 1 . 7 2B3 0 . 0 3 0 . 1 2 0 . 1 9 0 . 2 4 0 . 2 8A3 2 . 6 6 1 . 9 5 1 . 6 3 1 . 4 3 1 . 2 9 1 . 1 8 1 . 1 1 . 0 3 0 . 9 8 － S圖 系數(shù) X64 中位數(shù)圖（ XR圖） ? 用中位數(shù)圖（ X圖）代潛均值圖（ X圖）； ? 由于中位數(shù)的計(jì)算比均值簡(jiǎn)單，所以多用于現(xiàn)場(chǎng)需要把測(cè)定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進(jìn)行控制的場(chǎng)合； ? 中位數(shù)圖在實(shí)際應(yīng)用中比較少見(jiàn)。之后可再收集 25組數(shù)據(jù)，重新計(jì)算 。此時(shí)： 代入 R圖與 X圖的控制限公式，得到： R圖：
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