spc統(tǒng)計制程管制--yangrungen(1)(參考版)
2025-02-22 14:41本頁面
【正文】 kσ Cp 不良率 ppm 177。kσ Cp 不良率 ppm 177。6σ 48 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 製程能力指數(shù) Cp與製程不良率 P（ ppm）對照表（平均值不偏移）。4σ 6210 177。2σ 308700 177。kσ 百分比（ %） 百萬分缺點數(shù) 177。5σ 177。3σ 2700 177。1σ 317400 177。 45 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 46 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 177。 σ訂為品質(zhì)缺點的基準理由 ◎在製程無變異情況下 (Cp=Cpk=2)，產(chǎn)生之缺點率僅為 。 41 著作權(quán)科建所有，重製必究 製程能力分析 ↓(準確度越低越佳 ) Ca ＝ － Sc / (T/2) ↑(精密度越高越佳 ) Cp ＝ T/6σ( 雙邊規(guī)格 ) Cp ＝ (Su－ )/3σ或 ( － SL) / 3σ之最小值 (單邊規(guī)格 ) ↑（製程能力越高越佳） Cpk ＝ (1－ │Ca│) Cp；單邊規(guī)格時， Cpk=Cp。 ：估計機器能力，可妥善安排適當機 器生產(chǎn)適當零件。 ：製程的異常趨勢可即時發(fā)現(xiàn)並對策，預防 整批不良，以減少浪費。 40 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖能解決之問題 ：有效的抽樣管制，不用全數(shù)檢驗，不良率 低，得以控制成本。 。 。 SPC前未作充分準備。 38 著作權(quán)科建所有，重製必究 類別 項目 中心線 管制上限 管制下限 計 量 值 管 制 圖 平均值與全距管制圖 ( － R Chart ) 平均值與標準差管制圖 ( － σ Chart) 中位值與全距管制圖 ( － R Chart) 個別值與移動全距管制圖 (X－Rm Chart) 計 數(shù) 值 管 制 圖 不良率管制圖 (p chart) 不良數(shù)管制圖 (pn chart) 缺點數(shù)管制圖 (c chart) 單位缺點數(shù)管制圖 (u chart) XX~X~XRR RAX 2? RAX 2?RD4 RD3 kXX ?? S1? S1? kSS ??SB4 SB3 RAmX 23~ ? AmX 23~ ?RD4 RD3 mRE2? mRE2?m m4 m3?? ndPn ppp )1(3 ?? n ppp )1(3 ?C k ddPn ???)( )1(3 pnpPn ?? )1(3 pnpPn ??CC 3? CC 3?U nUU 3 nUU 339 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖應(yīng)用之困難 ，不勝管制 (可改用製程特性管制 )。 3. 9 點在同一側(cè)。 8. 15 點分佈於同側(cè) ， 從中心線起算 1 Sigma 的範圍 (兩側(cè) ) 計量值管制圖判讀 35 著作權(quán)科建所有，重製必究 36 著作權(quán)科建所有，重製必究 37 著作權(quán)科建所有，重製必究 計數(shù)值管制圖判讀 1. 1 點超出從中心線起算 3 個 Sigma 。 6. 9 點在同一側(cè)。 4. 6 點以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側(cè)。 2. 3 點中有 2點分佈於從中心線起算 2 Sigma以上 (同側(cè) ) 。 32 著作權(quán)科建所有，重製必究 33 著作權(quán)科建所有，重製必究 A、管制圖的判讀法 管制圖之不正常型態(tài)之鑑別是根據(jù)或然率之理論(又稱小機率理論 )而加以判定的，出現(xiàn)下述之一項者，即為不正常之型態(tài)，應(yīng)調(diào)查可能原因。 3. 有點子逸出管制界限之現(xiàn)象 。 2. 在管制界限附近無點子 。 31 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖的判定方法 ? 不正常點子之動態(tài)之管制圖 1. 在中心線附近無點子 。 3. 點子之分佈呈隨機狀態(tài) ， 無任何規(guī)則可尋 。 1. 多數(shù)的點子 ， 集中在中心線附近 ， 且兩邊對稱 。 (1) 管制圖 CL＝ ＝ 50 UCL＝ ＋ A2 ＝ 50＋ () ()＝ LCL＝ － A2 ＝ 50－ () ()＝ (2) R管制圖： CL＝ ＝ UCL＝ D4 ＝ () ()＝
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